Патенты принадлежащие Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего образования "Московский государственный университет геодезии и картографии" (МИИГАиК) (RU)
Настоящее техническое решение относится к области вычислительной техники. Технический результат заключается в повышении точности обработки информации.
Оптико-электронный тахеометр // 2782509
Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для проведения координатных измерений при выполнении обмеров помещений в геодезической и архитектурной практике. Оптико-электронный тахеометр содержит неподвижное основание, горизонтальную и вертикальную осевые системы, зрительную трубу.
Устройство для увеличения дальности проецирования структурированной подсветки для 3D сканирования // 2718125
Изобретение относится к области оптико-электронного приборостроения, в частности к способам увеличения радиуса действия оптико-электронных проекционных систем для создания структурированной подсветки. Заявленное устройство для увеличения дальности проецирования структурированной подсветки для 3D сканирования содержит проецируемый шаблон структурированной подсветки, оптические элементы, формирующие изображение в процессе формирования проецируемого шаблона.
Способ калибровки мобильных 3D-координатных средств измерений и устройство для его реализации // 2710900
Изобретение относится к области метрологии, в частности к устройствам для калибровки мобильных координатных средств измерений (МКСИ): лазерных трекеров, сканеров, самонаводящихся электронных тахеометров и др.
Способ панорамной стереосъемки // 2650088
Изобретение относится к измерительной технике и, в частности, может быть использовано для панорамной стереоскопической фото- и видеосъемки, получения стереоизображений полостей труб, колодцев, шахт и т.п., по которым методами фотограмметрии могут осуществляться координатные измерения.
Способ измерения перемещений изображения марки в цифровых автоколлиматорах включает в себя формирование изображения марки в виде линейчатого растра в плоскости многоэлементного приёмника излучения. При этом ширину боковых штрихов растра выбирают равной ширине элементов приёмника излучения, а ширину центрального штриха выбирают равной удвоенной ширине остальных штрихов растра.
