Патенты принадлежащие Акционерное общество "Научно-исследовательский центр по изучению свойств поверхности и вакуума" (АО "НИЦПВ") (RU)

Способ трехмерной реконструкции поверхности образца по изображениям, полученным в растровом электронном микроскопе // 2704390

Изобретение относится к области растровой электронной микроскопии. В изобретении используется принцип фотограмметрической обработки изображений, полученных в растровом электронном микроскопе при различных углах наклона исследуемого образца.

Способ количественной трехмерной реконструкции поверхности образца в растровом электронном микроскопе // 2657000

Изобретение относится к области растровой электронной микроскопии. В изобретении используется принцип фотограмметрической обработки изображений, полученных в растровом электронном микроскопе при различных углах наклона исследуемого образца.

Способ количественной трехмерной реконструкции поверхности кремниевых микро- и наноструктур // 2622896

Изобретение относится к области растровой электронной микроскопии. В изобретении используется принцип фотограмметрической обработки изображений, полученных в растровом электронном микроскопе при различных углах наклона исследуемого объекта.