Патенты принадлежащие Общество с ограниченной ответственностью "Центр научного и технического развития" (ООО "Ц-НТР") (RU)
Способ определения параметра оптической анизотропии кубического монокристалла, относящегося к классу симметрии m3m, или 432, в котором производят измерение распределения локальной степени деполяризации лазерного излучения, прошедшего через цилиндрический образец кубического монокристалла с произвольной известной ориентацией кристаллографических осей.
