Патенты принадлежащие Акционерное общество "Дзержинское производственное объединение "Пластик" (АО "ДПО "Пластик") (RU)
Способ автоматизированного контроля сплошности изделий и устройство для его осуществления // 2720437
Изобретение относится к области измерительной техники и может быть использовано для оценки надежности и качества различных изделий. Способ включает размещение на изделии в начале траектории сканирования эталонного дефекта, соответствующего по характеристикам реальному дефекту в изделии и имеющего размеры, соответствующие минимально возможным размерам дефекта в изделии, измерение перед проведением контроля величины сигнала на изделии на расстоянии не более размера минимального дефекта, измерение величины изменения сигнала на эталонном дефекте, установку величины порогового сигнала для выявления дефектов в изделии, двухмерное сканирование в координатах х, у поверхности контролируемого объекта по траектории возвратно-поступательного движения датчиком излучения физического поля с шагом Δх, Δу, воздействие на изделие в процессе сканирования физическим полем в виде импульсного сигнала с частотой fи, измерение величины сигналов излучения физического поля после взаимодействия с изделием с каждой точки поверхности изделия, регистрацию дефектов путем сравнения текущего значения сигнала по траектории сканирования с значением пороговым сигнала.
Использование: для автоматизированного неразрушающего контроля качества изделий. Сущность изобретения заключается в том, что сканируют поверхность контролируемого объекта по крайней мере одним информационным датчиком физического поля, измеряют величины сигналов излучения физического поля с каждой точки поверхности контролируемого объекта, разбивают весь диапазон величин сигналов излучения физического поля по их значениям на I интервалов, регистрируют измеренные сигналы по принадлежности к соответствующим интервалам, определяют количество измеренных сигналов в каждом интервале КI, рассчитывают разность количества измеренных сигналов в последующем и предыдущем интервалах ΔКI=КI+1-КI по всему диапазону значений величин измеренных сигналов, а в качестве порогового значения величины сигнала излучения физического поля выбирают значение из интервала, для которого разность количества измеренных сигналов в данном и предыдущем интервалах меньше нуля, а разность количества измеренных сигналов в данном и последующем интервалах больше нуля, при этом измеряют величину сигнала в начале сканирования изделия на эталонном дефекте Un, измеряют значение сигнала на качественном участке изделия вблизи эталонного дефекта U0 в точке i=1, где i - целочисленная координата траектории сканирования на поверхности контролируемого изделия, измеряют изменение сигнала на эталонном дефекте ΔUn=|Un-U0|, измеряют шаг дискретности измерения сигналов по траектории сканирования: Δxi=xi+1-xi, измеряют значение сигнала в текущей точке «i» сканирования изделия (Ui), измеряют разность сигналов между соседними точками: ΔUi=Ui+1-Ui, регистрируют начало j-го дефекта по градиентному признаку, регистрируют координату (xнj) начала j-го дефекта по градиентному признаку, измеряют величину наибольшего сигнала в области j-го дефекта: Ujmax=Uji, если Ui+1>Ui и Ui+2>Ui+1, измеряют величину наибольшего изменения сигнала (ΔUmax∂j) на j-м дефекте, регистрируют окончание j-го дефекта по градиентному признаку, регистрируют координату (xкj) окончания j-го дефекта по градиентному признаку: xкj=Δxixр, где p - целочисленная координата окончания j-го дефекта, измеряют протяженность j-го дефекта по градиентному признаку: Δхдj=хкj-хнj, регистрируют наличие j-го дефекта на изделии заданным образом.
Изобретение относится к области измерительной техники и может быть использовано для оценки стабильности технологии изготовления сложных пространственных конструкций из полимерных композиционных материалов (ПКМ).
