Патенты принадлежащие федеральное государственное автономное образовательное учреждение высшего образования "Национальный исследовательский ядерный университет МИФИ (НИЯУ МИФИ) (RU)
Изобретение относится к области измерительной техники, а именно к контролю параметров сцинтилляционного детектора. Способ контроля параметров сцинтилляционного детектора содержит этапы, на которых одновременно измеряют амплитуды сигналов, формируемых при прохождении одиночных высокоэнергичных заряженных частиц через сцинтилляционный детектор, и координаты места прохождения каждой регистрируемой в нем частицы, после чего определяют зависимость амплитуды сигнала от места прохождения частицы, проводят контроль параметров путем сравнения измеренной амплитудно-координатной зависимости с рассчитанной аналогичной зависимостью для известных значений параметров, определяющих светосбор сцинтилляционного детектора.
