Изобретение относится к измерительной технике, а более конкретно к сканирующим зондовым микроскопам, адаптированным для измерения поверхности образца, полученной после механической модификации этой поверхности.
Изобретение относится к устройствам, обеспечивающим наблюдение в безапертурных оптических микроскопах ближнего поля для получения локально усиленных спектров ГКР. .