Свойства, влияющие на поляризацию (G01N21/21)

G   Физика(403185)
G01   Измерение (счет G06M); испытание (233827)
G01N     Исследование или анализ материалов путем определения их химических или физических свойств (разделение материалов вообще B01D,B01J,B03,B07; аппараты, полностью охватываемые каким-либо подклассом, см. в соответствующем подклассе, например B01L; измерение или испытание с помощью ферментов или микроорганизмов C12M,C12Q; исследование грунта основания на стройплощадке E02D1;мониторинговые или диагностические устройства для оборудования для обработки выхлопных газов F01N11; определение изменений влажности при компенсационных измерениях других переменных величин или для коррекции показаний приборов при изменении влажности, см. G01D или соответствующий подкласс, относящийся к измеряемой величине; испытание (85240)
G01N21/21                     Свойства, влияющие на поляризацию ( G01N21/19 имеет преимущество)(167)

Способ поляризационного лазерного зондирования кристаллических облаков // 2790806
Изобретение относится к области атмосферных и метеорологических наблюдений и касается способа поляризационного лазерного зондирования кристаллических облаков. Способ заключается в посылке в атмосферу лазерного пучка линейно поляризованного в вертикальной плоскости излучения, приеме и регистрации обратно рассеянных облаком лидарных сигналов в двух взаимно-ортогональных плоскостях, одна из которых совпадает с плоскостью поляризации зондирующего излучения.

Двухсторонний скоростной эллипсометр // 2749149
Изобретение относится к области оптического приборостроения и касается эллипсометра. Эллипсометр включает в себя последовательно расположенные вдоль оптической оси блок поляризатора с источником излучения и блок анализатора, содержащие призмы Глана-Томпсона.

Устройство для фиксации сменных кювет и контрольных устройств в коллимированном поляризованном пучке света сахариметра // 2748516
Изобретение относится к оптическому приборостроению, а точнее - к оптическим поляризационным приборам (сахариметрам), предназначенным для исследований растворов, содержащих оптически активные вещества. Устройство найдет широкое применение в цифровых сахариметрах, например, типа АП-05М, а также в фотометрах.

Устройство спектрального анализа, способ спектрального анализа, способ производства стальной полосы и способ обеспечения качества стальной полосы // 2745856
Изобретение относится к устройству спектрального анализа, способу спектрального анализа, способу производства стальной полосы и способу обеспечения качества стальной полосы, предназначенным для использования для анализа состава и/или соотношения компонентов состава поверхности объекта измерения.

Способ эллипсометрического контроля топографического рельефа, механических напряжений и дефектности пленок на подложках // 2744821
Способ может использоваться при межоперационном контроле механических напряжений и дефектов в функциональных слоях. Способ включает эллипсометрические измерения показателя преломления на локальных участках пленки, однократное определение на каждом участке пленки толщины dƒ и показателей преломления для обыкновенного no и необыкновенного ne лучей, по которым рассчитывают значения величины двойного лучепреломления Δn: Δn=(no-ne).

Способ определения линейного коэффициента теплового расширения тонкой прозрачной пленки // 2683879
Изобретение относится к области оптико-физических измерений, основанных на эллипсометрии, и предназначено для определения линейного коэффициента теплового расширения тонких прозрачных пленок. Способ определения линейного коэффициента теплового расширения тонкой прозрачной пленки, при котором производят измерения эллипсометрических параметров и при начальной и конечной температуре, с последующим определением толщины пленки при начальной и конечной температуре с учетом показателей преломления сред и расчётом коэффициента теплового расширения по известным формулам.

Устройство для калибровки дихрографов кругового дихроизма // 2682605
Изобретение относится к оптическим устройствам, имитирующим вещество, обладающее круговым дихроизмом (КД), с возможностью регулирования величины задаваемого эффекта в широком диапазоне значений на выбранной длине волны, сохраняющее ход светового луча строго по оптической оси в процессе калибровки.

Способ измерения концентрации аналита в плазме крови // 2677703
Изобретение относится к области исследования и анализа материалов, а именно к способам измерения параметров наночастиц, взвешенных в жидкости, оптическими методами, и может быть использовано для определения концентрации аналита в плазме крови.

Способ бесконтактного измерения температуры in situ // 2660765
Изобретение относится к измерительной технике, а именно к технике измерения физической температуры объекта по температурным изменениям его оптических постоянных, и может быть использовано для дистанционного измерения температуры объекта в промышленности, медицине, биологии, в физических исследованиях и др.

Способ неразрушающего контроля качества теплового контакта термоэлектрического модуля // 2650833
Изобретение относится к области оптико-физических измерений и касается способа неразрушающего контроля качества теплового контакта термоэлектрического модуля. Контроль осуществляется путем определения наличия/отсутствия воздушных полостей в его структуре методом спектроскопической эллипсометрии.

Эллипсометр // 2638092
Изобретение относится к области анализа материалов, тонкопленочных структур и поверхностей с помощью оптических средств. Эллипсометр включает последовательно расположенные вдоль оптической оси источник излучения, плечо поляризатора и плечо анализатора.

Устройство и способ идентификации маркировки под прозрачным слоем // 2623815
Изобретение относится к области оптических измерений и касается способа и устройства идентификации покрытого прозрачным слоем объекта. Идентификация объекта осуществляется посредством определения свойства поверхности с помощью оптической системы, которая содержит поляризационную камеру, выполненную с возможностью получения изображений с высоким разрешением и соединенную с устройством обработки и хранения данных.

Способ обнаружения разливов нефти или нефтепродуктов на поверхности водоема // 2622721
Изобретение относится к области экологического мониторинга и может быть использовано для обнаружения нефтяных разливов. Способ обнаружения разливов нефти или нефтепродуктов на поверхности водоема заключается в установке тепловизора на беспилотный летательный аппарат, располагаемый в зависшем состоянии над зоной разлива, тепловизор осуществляет съемку в виде ряда цифровых изображений, которые через приемно-передающее устройство беспилотного летательного аппарата передаются в режиме реального времени на пункт круглосуточного дистанционного наблюдения, где оцениваются параметры разлива нефти или нефтепродуктов.

Способ определения матрицы мюллера // 2583959
Изобретение относится к области оптических измерений и может быть использовано для полного определения состояния поляризации света, отраженного от поверхности исследуемого образца. Для определения матрицы Мюллера, исследуемый образец освещают поляризованным световым пучком и измеряют изменение поляризации при отражении, используя разделение отраженного луча на р- и s- компоненты с разложением по амплитуде и фазе, получая на выходе четыре световых пучка с интенсивностями IΨ1, IΨ2, IΔ1, IΔ2, при этом азимутальные углы оптических элементов принимают фиксированные значения в определенных комбинациях, поляризатор фиксируют в положениях Р=0°, -45°, +45°, анализатор в амплитудном канале АΨ=0°, 45°, фазовом канале АΔ=45°, ромб Френеля R=0 и проводят измерения, соответствующие следующим конфигурациям: A: P45SR0WΨ45WΔ45; B: P45SR0WΨ0WΔ45; F: P0SR0WΨ45WΔ45; E: P0SR0WΨ0WΔ45.
Способ обнаружения механических дефектов на поверхности твердых материалов // 2579546
Изобретение относится к области контроля качества высококлассных поверхностей. В заявляемом способе в качестве разряда используют поверхностный диэлектрический барьерный разряд, локализованный на поверхности одного из двух электродов, одновременно служащего столиком для исследуемого образца материала; диэлектрический барьер выполняют бездефектным и тщательно отполированным, повторяющим конфигурацию поверхности исследуемого образца, плотно прижимают к нему образец, затем приводят в соприкосновение с образцом заостренный конец второго электрода, выполненного в виде стержня из низкокоррозионного проводящего электрический ток материала; подключают питающее напряжение переменного электрического тока, при этом электрическую прочность диэлектрического барьера выбирают превышающей максимальное напряжение источника электрического питания более чем в два раза; для принятия решения о пригодности поверхности твердых материалов используют появляющееся на поверхности исследуемого образца в местах расположения дефектов слабое голубое свечение плазмы воздуха в виде ярких светящихся голубых точек; исследуемую поверхность признают пригодной при полном отсутствии светящихся голубых точек.

Способ экспресс-диагностики резистентности и чувствительности к ацетилсалициловой кислоте // 2578428
Изобретение относится к медицине, а именно к кардиологии, и может быть использовано для экспресс-диагностики резистентности и чувствительности к ацетилсалициловой кислоте (АСК). Для этого проводят забор крови у пациента до начала антитромбоцитарной терапии.

Способ измерения магнитооптических эффектов in situ // 2560148
Изобретение относится к области магнитных и магнитооптических измерений. Способ заключается в том, что исследуемый образец освещают линейно поляризованным световым пучком и измеряют изменение поляризации при отражении, используя разделение отраженного луча на p- и s-компоненты с разложением по амплитуде и фазе, получая на выходе четыре световых пучка.

Спектральный магнитоэллипсометр с устройством для магниторезистивных измерений // 2549843
Изобретение относится к измерительной технике, представляет собой спектральный магнитоэллипсометр и предназначено для контроля in situ производства в условиях сверхвысокого вакуума наноразмерных магнитных структур.

Спектральный эллипсометр с устройством магнитодинамических измерений // 2539828
Изобретение относится к области in situ контроля производства в условиях сверхвысокого вакуума наноразмерных магнитных структур и может быть использовано в магнитной наноэлектронике для характеризации гетерогенных магнитных элементов в устройствах памяти, в сенсорных устройствах и т.п.

Способ определения ориентации кристаллографических осей в анизотропном электрооптическом кристалле класса 3m // 2528609
Изобретение относится к области оптического приборостроения и касается способа определения ориентации кристаллографических осей в анизотропном электрооптическом кристалле класса 3m. Способ осуществляется с помощью оптической системы, содержащей источник излучения, поляризатор, исследуемый кристалл, скрещенный с поляризатором анализатор, экран и источник постоянного электрического поля.

Способ определения отклонения угла наклона плоскости поляризации оптического излучения // 2527654
Изобретение относится к области оптической локации объектов и касается измерений изменений параметров поляризации оптического излучения при прохождении оптически активного вещества. Сущность изобретения заключается в делении монохроматического линейно-поляризованного излучения на два равных потока, один из которых пропускают в прямом и обратном направлениях через измерительную кювету при наличии и отсутствии оптически активного вещества, гомодинном детектировании двух потоков и определении отклонения угла наклона плоскости поляризации оптически активным веществом по отношению амплитуд переменных составляющих фототоков в отсутствие и при наличии оптически активного вещества в измерительной кювете.

Способ бесконтактной полиполяризационной идентификации и определения состава и качества шерсти и растительных волокон // 2524553
Изобретение относится к области оптико-физических исследований состава естественных материалов, таких как шерсть и растительные волокна (лен, хлопок, шелк и др.), и может быть использован в текстильной промышленности, в зоотехнике, при археологических исследованиях, при определении качества сырья и изготовленной из него продукции.

Способ неинвазивного измерения концентрации глюкозы в крови и устройство для его осуществления // 2515410
Группа изобретений относится к медицине. При осуществлении способа облучают лазерным лучом зоны максимального скопления кровеносных сосудов.

Способ определения оптических параметров кристаллического вещества // 2494373
Изобретение относится к способам определения физических свойств в твердых прозрачных средах природного происхождения и может быть использовано при решении задач анализа качества таких материалов. Сущность изобретения заключается в том, что исследуемый материал освещают когерентным источником через дифракционный оптический элемент, из исследуемого материала вырезают плоскопараллельную пластину и вращают ее, снимают полученные изображения и сравнивают с эталонными, после чего производят измерение параметров наблюдаемых искажений симметрии, по которым определяют оптические параметры.

Способ измерения состояния поляризации светового луча // 2474810
Изобретение относится к технике, предназначенной для оптико-физических измерений, а именно к эллипсометрии и поляриметрии, и может быть использовано для измерения состояния поляризации светового луча в широком спектральном диапазоне.

Оптико-электронное устройство для контроля положения оптической оси корундовых сферических подпятников в составе маятников газовых центрифуг // 2473072
Изобретение относится к приборам неразрушающего контроля положения оптической оси корундовых подпятников типа ПКС (подпятник корундовый сферический) в составе маятников ГЦ (газовая центрифуга) без демонтажа маятников.

Способ бесконтактного полиполяризационного исследования минералов и органических структур с различными коэффициентами пропускания // 2466379
Изобретение относится к области оптико-физических исследований состава естественных и искусственных минералов, а также органических структур с различными коэффициентами пропускания. .

Оптический способ контроля крутки нитей // 2463579
Изобретение относится к области оптических измерений и может быть использовано для оперативного контроля величины крутки нитей в процессе производства. .

Способ определения толщины тонкой прозрачной пленки // 2463554
Изобретение относится к области оптико-физических измерений, основанных на эллипсометрии, и предназначено для определения толщины тонких прозрачных пленок. .

Способ определения положения оптической оси фазовой анизотропной кристаллической пластинки /4 // 2442972
Изобретение относится к области поляризационных измерений и предназначено для определения параметров кристаллических пластинок, изготовленных из одноосных кристаллов. .

Способ контроля оптической анизотропии светорассеяния плоских волокнистых материалов // 2437078
Изобретение относится к способам контроля углового распределения волокон в плоских волокнистых материалах и связанных с этим распределением технологических параметров и может быть использовано при решении вопросов повышения качества таких материалов.

Устройство для регистрации вращательного электродинамического эффекта // 2428678
Изобретение относится к области физики вещества и физической оптики и может быть использовано при исследовании вращательного увлечения средой - повороту плоскости поляризации когерентного излучения одночастотного лазера непрерывного действия в среде, находящейся в поперечном направлению распространения лазерного излучения вращающемся электрическом поле.

Устройство для оптикоэлектронного бесконтактного исследования минералов и органических структур // 2402753
Изобретение относится к области оптико-физических исследований состава естественных и искусственных минералов, а также органических структур, в частности керамики, для установления идентичности фрагментов материалов при археологических исследованиях.

Эллипсометр // 2384835
Изобретение относится к технике оптико-физических измерений, а именно к эллипсометрии, и может быть использовано при неразрушающем контроле оптических параметров поверхности и тонких слоев пленок. .

Способ определения качества кристаллов исландского шпата // 2374629
Изобретение относится к способам оценки качества оптически прозрачного исландского шпата, как природного, так и синтетического, предназначенного для изготовления деталей оптических устройств. .

Эллипсометрический комплекс для высокотемпературных исследований // 2353919
Изобретение относится к технике, предназначенной для оптико-физических измерений, а именно к эллипсометрии, и может быть использовано для исследования динамики оптических свойств при быстропротекающих высокотемпературных процессах, а также при неразрушающем контроле оптических параметров поверхности и слоев тонких пленок при их высокотемпературных обработках.

Эллипсометр // 2351917
Изобретение относится к технике, предназначенной для оптико-физических измерений, а именно к эллипсометрии, и может быть использовано при неразрушающем контроле оптических параметров поверхности и слоев тонких пленок.

Способ определения эллипсометрических параметров // 2350928
Изобретение относится к области исследования и анализа материалов с помощью оптических средств и может быть использовано для определения фазового состава твердофазной смеси в случае необходимости выявления одного из соединений или определения состава смеси, а также для оценки наличия примесей в веществе.

Способ определения концентраций компонентов пульсирующей мутной среды // 2349254
Изобретение относится к области оптических измерений и может быть использовано для определения концентраций компонентов пульсирующих мутных сред, в том числе компонентов крови в живых организмах. .

Способ измерения концентрации оптически активных веществ в мутных растворах и устройство для его осуществления // 2325630
Изобретение относится к области технической физики, а точнее, к поляриметрам и сахариметрам. .

Эллипсометр // 2302623
Изобретение относится к технике оптико-физических измерений, а именно к эллипсометрии, и может быть использовано при неразрушающем контроле оптических параметров поверхности и слоев тонких пленок. .

Способ неинвазивного измерения концентрации оптически активных веществ, находящихся в крови // 2295915
Изобретение относится к медицинской диагностике, может быть использовано для определения таких веществ в крови, как глюкоза, фруктоза, никотин и др. .

Способ определения знака вращения плоскости поляризации излучения в оптически активном кристалле // 2288460
Изобретение относится к области оптического приборостроения, в частности к приборам на основе оптической активности кристаллов: вращателям оптического излучения, используемым для кодирования и декодирования оптических изображений и сигналов; приборам для измерения оптических характеристик в зависимости от положения плоскости поляризации излучения.

Способ измерения изменений азимута плоскости поляризации оптического излучения // 2276348
Изобретение относится к области технической физики и касается способов измерения азимута плоскости поляризации оптического излучения, вызываемых изменением поляризационных свойств поляризующих элементов либо воздействием на азимут поляризации оптически активным веществом.

Способ определения угловой апертурной характеристики оптической активности кристалла // 2271531
Изобретение относится к области оптического приборостроения, в частности к приборам на основе оптической активности кристаллов: вращателям оптического излучения, используемым для кодирования и декодирования оптических изображений и сигналов; приборам для измерения оптических характеристик в зависимости от положения плоскости поляризации излучения.

Способ измерения высоты ступенек в произвольных многослойных структурах // 2270437
Изобретение относится к оптической контрольно-измерительной технике и может быть использовано для измерения высоты ступенек, полученных любым способом в однородном материале или в произвольной многослойной структуре.

Способ определения диэлектрической проницаемости твердых тел в инфракрасном диапазоне спектра // 2263923
Изобретение относится к области оптики конденсированных сред и может быть использовано для определения оптических постоянных твердых тел. .

Спектральный эллипсометр // 2247969
Изобретение относится к оптикоэлектронному приборостроению и предназначено для измерения и исследования тонкопленочных структур и оптических констант поверхностей различных материалов путем анализа поляризации отраженного образцом светового пучка.
 
.
Наверх