Интегральных схем (G01R31/303)

G01 Измерение (счет G06M); испытание (233827)

G01R Измерение электрических и магнитных величин (измерение физических величин любого вида путем преобразования их в электрические величины см. примечание 4 к кл. G01; измерение диффузии ионов в электрическом поле, например электрофорез, электроосмос G01N; исследование неэлектрических и немагнитных свойств материалов с помощью электрических и магнитных методов G01N; индикация точности настройки резонансных контуров H03J3/12; контроль электрических счетчиков H03K21/40; контроль работы системы связи H04) (35008)

G01R31 Устройства для определения электрических свойств; устройства для определения местоположения электрических повреждений; устройства для электрических испытаний, характеризующихся объектом, подлежащим испытанию, не предусмотренным в других подклассах (измерительные провода, измерительные зонды G01R1/06; индикация электрических режимов в распределительных устройствах или в защитной аппаратуре H01H71/04,H01H73/12, H02B11/10,H02H3/04; испытание или измерение полупроводниковых или твердотельных приборов в процессе их изготовления H01L21/66; испытание линий передачи энергии H04B3/46) (6575)

G01R31/303 Интегральных схем ( G01R31/305-G01R31/315 имеют преимущество)(88)

Способ сравнительной оценки стойкости партий интегральных схем к электростатическому разряду // 2792841

Изобретение относится к микроэлектронике, а именно к контролю полупроводниковых интегральных схем (ИС). Сущность: на каждую ИС из репрезентативных выборок из каждой сравниваемой партии воздействуют электростатическими разрядами (ЭСР) разной полярности напряжением, равным удвоенному от допустимого по ТУ для данного типа ИС значения до наступления отказа ИС.

Способ разделения интегральных схем по надежности // 2786050

Изобретение относится к микроэлектронике, а именно к способам обеспечения качества и надежности интегральных схем, и может быть использовано как в процессе производства, так и на входном контроле на предприятиях-изготовителях.

Способ неразрушающего контроля качества сверхбольших интегральных схем по значению критического напряжения питания // 2696360

Изобретение относится к микроэлектронике и может быть использовано для обеспечения качества и надежности сверхбольших интегральных схем (СБИС). Сущность: измеряют критическое напряжение питания при нормальной и повышенной температуре.

Способ повышения надежности и качества функционирования партии гибридных и монолитных интегральных схем // 2684943

Изобретение относится к повышению надежности и качества функционирования партии полупроводниковых монолитных и гибридных интегральных схем (ИС). Сущность: ИС подвергают искусственному старению, в результате которого происходит деградация параметров материалов и структуры ИС и изменение их информативных параметров.

Способ оценки стойкости цифровой электронной аппаратуры к воздействию ионизирующих излучений (варианты) // 2578053

Изобретение относится к области исследования радиационной стойкости полупроводниковых приборов (ППП) и интегральных схем, и в большей степени интегральных микросхем (ИМС) с последовательной и комбинационной обработкой логических сигналов.

Способ электротермотренировки интегральных микросхем // 2554660

Изобретение относится к области микроэлектроники и может быть использовано для повышения качества электротермотренировки интегральных микросхем. Технический результат: повышение надежности микросхем.

Способ разделения интегральных микросхем по радиационной стойкости и надежности // 2311654

Изобретение относится к области испытания объектов электронной техники, в частности предназначено для отбраковки образцов интегральных микросхем с аномально низкой радиационной стойкостью и надежностью.

Способ отбора интегральных схем повышенной надежности // 2295735

Изобретение относится к области микроэлектроники и может быть использовано для выделения из партии интегральных схем (ИС) схемы повышенной надежности. .

Устройство для контроля контактирования выводов интегральной схемы // 1712907

Изобретение относится к электронной технике. .

Устройство для фиксации обрывов и коротких замыканий на корпус или подложку внешних выводов твердотельных интегральных схем с диодной изоляцией // 1691790

Изобретение относится к контрольноизмерительной технике и может быть использовано при производстве и контроле интегральных схем с диодной изоляцией в процессе испытаний на виброустойчивость и воздействие акустических шумов.

Способ теплового контроля качества объемных интегральных схем // 1675908

Изобретение относится к вычислительной технике и может быть использовано для неразрушающего контроля качества объемных интегральных схем. .

Устройство контроля ресурса передающих квантово-электронных модулей // 1674023

Способ параметрического контроля мдп-интегральных схем // 1674022

Изобретение относится к микроэлектронике. .

Измерительный источник-преобразователь напряжения и тока // 1670632

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано в составе автоматизированных измерительных комплексов для контроля параметров интегральных микросхем. .

Способ контроля надежности интегральных микросхем // 1596288

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для диагностического контроля и отбраковки предрасположенных к коррозии интегральных микросхем. .

Способ контроля интегральных микросхем памяти // 1594458

Изобретение относится к контрольно-измерительной технике в микроэлектронике и предназначено для отбраковки запоминающих устройств, имеющих дефектные ячейки памяти. .

Устройство для функционального контроля больших интегральных микросхем // 1583887

Изобретение относится к контрольно-испытательной технике и может быть использовано для функционального контроля больших интегральных схем, имеющих выходы с третьим состоянием. .

Устройство для автоматизированной функциональной настройки гибридных интегральных микросхем // 1552135

Изобретение относится к электронике и может быть использовано при настройке гибридных интегральных микросхем (ГИМС). .

Способ контроля отсутствия обрывов и коротких замыканий на корпус или подложку внешних выводов твердотельных интегральных схем с изолирующими диодами // 1541542

Изобретение относится к контрольно-измерительной технике и может быть использовано при производстве и контроле твердотельных интегральных схем с изолирующими диодами. .

Способ отбраковки интегральных схем // 1539696

Изобретение относится к микроэлектронике, а именно к контролю в производстве интегральных микросхем. .

Устройство для автоматического контроля больших интегральных схем // 1529220

Изобретение относится к контрольно-измерительной технике и может быть использовано для контроля электрических /статических и динамических/ параметров и функционирования цифровых логических БИС, в частности схем с эмиттерно-связанной логикой.

Устройство для измерения электрических параметров интегральных микросхем // 1504633

Изобретение относится к технике контроля качества и надежности радиоэлементов, интегральных микросхем, электронных устройств и блоков и может быть использовано для контроля их статических параметров и функционального контроля.

Устройство для подключения интегральных схем и цифровых блоков к контрольно-испытательной аппаратуре с контролем контактирования // 1500954

Устройство для контроля контактирования интегральных схем // 1483411

Изобретение относится к контрольно-измерительной технике и может быть использовано для контроля контактирования выводов интегральных схем. .

Способ контроля качества интегральных схем // 1458842

Изобретение относится к области контроля изделий электронной техники. .

Устройство для измерения теплового сопротивления интегральных схем // 1456919

Изобретение относится к области электронной техники и может быть использовано при контроле теплового сопротивления . .

Устройство контроля интегральных схем // 1430914

Изобретение относится к контрольно-измерительной технике и может быть применено для автоматизированного контроля интегральных схем. .

Устройство для контроля параметров линейных интегральных схем // 1397859

Изобретение относится к контрольно-измерительной технике и позволяет расширить функциональные возможности устройства. .

Устройство контроля контактирования интегральных схем // 1383231

Изобретение относится к контрольно-измерительной технике и может быть использовано в автоматизированных устройствах контроля интегральных схем. .

Устройство для контроля выводов больших интегральных схем // 1381513

Изобретение относится к цифровой вычислительной технике и может быть использовано при проектировании самоконтролируемых больших интегральных схем (БИС) для цифровых вычислительных машин и систем. .

Устройство контроля интегральных схем // 1370634

Изобретение относится к контролю интегральных схем. .

Устройство для контроля больших интегральных схем // 1348835

Изобретение относится к вычислительной технике и может быть использовано в автоматизированных системах контроля больших интегральных схем (БИС). .

Способ обнаружения скрытых дефектов в линейных интегральных схемах // 1347050

Изобретение относится к контрольно-испытательной технике и может быть использовано при контроле скрытых дефектов многокаскадных линейных интегральных схем по импульсным шумам. .

Устройство параметрического контроля интегральных схем // 1308956

Способ измерения теплового сопротивления интегральных схем // 1307405

Изобретение относится к электронной технике. .

Устройство для функционального контроля больших интегральных схем // 1291905

Изобретение относится к контрольно-измерительной технике и может быть использовано для койтроля больших интегральных схем (БИС). .

Устройство параметрического контроля интегральных схем // 1287060

Изобретение относится к области вычислительной техники. .

Узел для контроля интегральных микросхем // 1282132

Изобретение относится к области вычис-пительной техники и может быть использовано при разработке интегральных микросхем в качестве . .

Устройство для контроля микросхем // 1269062

Изобретение относится к контрольно-измерительной технике и может быть использовано в системах контроля электрических параметров интегральных микросхем. .