Тестирование логических операций, например, с помощью логических анализаторов (G06F11/25)
G06F11/25 Тестирование логических операций, например, с помощью логических анализаторов(169)
Изобретение относится к области вычислительной техники, в частности к системам управления тестированием. Технический результат заключается в повышении качества тестирования программного обеспечения.
Изобретение относится к вычислительной технике и может использоваться в системах тестового диагностирования. .
Изобретение относится к вычислительной технике и может использоваться в системах тестового диагностирования. .
Изобретение относится к вычислительной технике и может быть использовано для контроля вычислительных систем. .
Изобретение относится к вычислительной технике и может быть использовано в системах технического диагностирования дискретных объектов. .
Изобретение относится к вычислительной технике и может использоваться в системах тестового диагностирования дискретных объектов. .
Изобретение относится к автоматике и вычислительной технике и может быть использовано в ЭВМ, управляющих и вычислительных системах с микропрограммным управлением. .
Изобретение относится к вычислительной технике и может использоваться в системах тестового диагностирования. .
Изобретение относится к вычислительной технике и может использоваться в системах тестового диагностирования цифровых устройств. .
Изобретение относится к вычислительной технике, в частности к устройствам контроля и диагностики цифровых узлов. .
Изобретение относится к вычислительной технике и может использоваться для контроля цифровых устройств. .
Изобретение относится к вычислительной технике и может использоваться в системах тестового диагностирования. .
Изобретение относится к вычислительной технике и может использоваться при построении систем тестового диагностирования блоков памяти. .
Изобретение относится к вычислительной технике и может использоваться для контроля и диагностирования дискретных объектов. .
Изобретение относится к вычислительной технике и может быть использовано для контроля цифровых объектов. .
Изобретение относится к вычислительной технике и может использоваться при построении систем тестового диагностирования дискретных объектов. .
Изобретение относится к вычислительной технике и может использоваться для тестого диагностирования цифровых объектов. .
Изобретение относится к вычислительной технике и может использоваться для динамического контроля цифровых объектов любой степени сложности, в частности имеющих точки с тремя состояниями. .
Изобретение относится к цифровой технике и может быть использовано в устройствах контроля и диагностики ЭВМ. .
Изобретение относится к вычислительной технике и может быть использовано для построения сигнатурных анализаторов повышенной надежности. .
Изобретение относится к вычислительной технике и может быть использовано для контроля и диагностики сложных цифровых устройств. .
Изобретение относится к вычислительной технике и предназначено для построения контролепригодных цифровых устройств. .
Изобретение относится к вычислительной технике и может использоваться в контрольно-испытательной аппаратуре. .
Изобретение относится к вычислительной технике и может использоваться для контроля и диагностирования цифровых устройств. .
Изобретение относится к вычислительной технике и может использоваться для контроля и диагностирования дискретных объектов. .
Изобретение относится к вычислительной технике и может использоваться для контроля и диагностирования дискретных объектов. .
Изобретение относится к вычислительной технике и может использоваться для контроля и диагностирования дискретных объектов. .
Изобретение относится к вычислительной технике и может быть использовано в контрольно-испытательной аппаратуре. .
Изобретение относится к вычислительной технике и может использоваться для контроля и диагностики устройств памяти. .
Изобретение относится к автоматике и вычислительной технике и может быть использовано для поиска неисправностей в цифровых устройствах. .
Изобретение относится к вычислительной технике и может использоваться в контрольно-испытательной аппаратуре. .
Изобретение относится к вычислительной технике и может быть использовано для контроля и диагностики цифровых узлов. .
Изобретение относится к вычислительной технике и может быть использовано для получения сигнатур в системах контроля и диагностики цифровых объектов. .
Изобретение относится к вычислительной технике и может использоваться в контрольно-испытательной аппаратуре. .
Изобретение относится к техническому диагностированию и может быть использовано для поиска перемежающихся неисправностей при наладке и ремонте цифровых вычислительных машин и приборов. .
Изобретение относится к автоматике и вычислительной технике и может быть использовано в автоматизированных системах контроля и диагностики средств цифровой электронной техники при контроле больших объемов диагностической информации.
Изобретение относится к вычислительной технике и может быть использовано для контроля и диагностики цифровых устройств различного назначения по методу сигнатурного анализа. .
Изобретение относится к устройствам технической диагностики и может быть использовано при контроле и поиске дефектов в радиоэлектронной аппаратуре. .
Изобретение относится к вычислительной технике и может быть использовано для контроля и диагностики цифровых устройств. .
Изобретение относится к вычислительной технике и может найти применение в системах контроля и диагностирования цифровых устройств. .
Изобретение относится к цифровой вычислительной технике и может быть использовано для контроля и диагностирования цифровой аппаратуры.Целью изобретения является сокращение времени обнаружения многократных искажений выходных сигналов объекта контроля в нескольких тактах работы.
Изобретение относится к вычислительной технике и может быть использовано в системах контроля правильности функционирования цифровых блоков . .
Изобретение относится к вычислительной технике и может быть использовано в контрольно-диагностической аппаратуре для контроля функционирования и локализации неисправностей цифровых узлов. .
Изобретение относится к автоматике и вычислительной технике и позволяет сократить аппаратные затраты при построении многоканальных сигнатурных анализат оров. .
Изобретение относится к вычислительной технике и может быть использовано для контроля дискретных объектов. .