Абсорбционная спектрометрия и двулучевая спектрометрия и мерцающая спектрометрия и отражательная спектрометрия (G01J3/42)

G   Физика(403185)
G01   Измерение (счет G06M); испытание (233827)
G01J3/42                     Абсорбционная спектрометрия; двулучевая спектрометрия; мерцающая спектрометрия; отражательная спектрометрия (устройства для переключения луча G01J3/08)(280)

Способ получения инфракрасных спектров поглощения поверхностных плазмон-поляритонов тонким слоем вещества // 2759495
Использование: для получения инфракрасного спектра поглощения поверхностных плазмон-поляритонов (ППП) тонким слоем вещества. Сущность изобретения заключается в том, что осуществляют нанесение тонкого слоя вещества на плоскую грань металлической подложки, генерацию на грани широкополосных ППП тепловыми флуктуациями плотности электронов проводимости, измерение спектров порождаемого ППП объемного излучения до и после нанесения слоя, расчет спектра поглощения слоя по результатам измерений, отличающийся тем, что регистрируют излучение с трека ППП после пробега ими по содержащему слой участку грани расстояния, превышающего длину распространения ППП с наибольшей частотой рабочего спектрального интервала.

Лазерная измерительная система // 2752376
Лазерная измерительная система может быть использована для абсорбционного спектрального анализа веществ в технических средах ядерных энергетических установок (ЯЭУ). Система содержит измерительную кювету 1, две эталонных кюветы 3 и 5, лазерный генератор 19, три фотоприемных блока 13-15, два измерителя 20 и 34 лазерного излучения, три управляемых спектральных фильтра 16-18, выдвижное отражательное зеркало 35 с блоком 36 перемещения, блок 48 обработки и управления, шесть уголковых отражателей 7-12, два отражательных зеркала 37 и 47, девять полупрозрачных зеркал 38-46, семь управляемых оптических ослабителей 28-33, шесть оптических переключателей 21-26.

Низкотемпературный сканирующий инфракрасный анализатор метана и паров углеводородов в атмосферном воздухе // 2743493
Изобретение относится к области измерительной техники, а именно к устройствам, предназначенным для анализа в атмосферном воздухе метана и паров углеводородов при низкой температуре Τ≥-80°С, и может быть использовано для сканирования распределений их объемной концентрации на объектах нефтегазовой промышленности, а также для мониторинга атмосферы и предупреждения техногенных аварий.

Способ спектроскопии накачки-зондирования (варианты) // 2743109
Изобретение относится к области спектроскопии и касается способа спектроскопии накачки-зондирования. Способ заключается в том, что формируют последовательность исходных лазерных импульсов, выделяют из сформированной последовательности прореженные лазерные импульсы.

Способ обработки инфракрасного спектра многокомпонентного углеродсодержащего вещества // 2742476
Изобретение относится к области спектроскопии и касается способа обработки инфракрасного спектра многокомпонентного углеродсодержащего вещества. Способ включает в себя получение исходного спектра и его обработку.

Способ определения элементов в пробах методом атомно-абсорбционной спектрометрии с электротермической атомизацией // 2727380
Изобретение относится к аналитической химии. Сущность способа измерения высоких концентраций химических элементов в пробах методом атомно-абсорбционной спектроскопии с электротермической атомизацией заключается в том, что предпринимаются меры для предсказуемого снижения концентрации свободных атомов внутри аналитической кюветы.

Способ измерения in situ спектра экстинкции прозрачного образца в фотохимическом процессе // 2726271
Изобретение относится к области измерительной техники и касается способа измерения in situ спектра экстинкции прозрачного образца в фотохимическом процессе. Способ включает в себя облучение оптическим излучением прозрачного образца в рабочем положении в экспериментальной установке, последующий прием прошедшего через образец излучения и измерение спектра экстинкции прозрачного образца с помощью спектрометра, а также визуализацию и сохранение измеряемых спектров для последующего анализа с помощью компьютера.

Фемтосекундный оптико-электронный комплекс для измерения поля тгц импульсов, получаемых с помощью ускорителя электронов // 2697879
Изобретение относится к основанному на фемтосекундной лазерной технологии устройству регистрации амплитуды и фазы импульсного ТГц излучения, генерируемого при помощи электронных пучков субпикосекундной длительности, формируемых ускорителем элементарных частиц.

Дистанционный оптический абсорбционный лазерный газоанализатор с длиной волны излучения в области 1,6 мкм (2 варианта), способ его осуществления и оптоволоконный рамановский усилитель для дистанционного оптического абсорбционного лазерного газоанализатора с длиной волны излучения в области 1,6 мкм // 2694461
Изобретение относится к области аналитического приборостроения и касается дистанционного оптического абсорбционного лазерного газоанализатора с длиной волны излучения в области 1,6 мкм. Газоанализатор включает в себя блок задающего лазерного излучателя с лазерным диодом, реперную кювету, оптическую приемную систему, детектор сравнения, блок навигации, блок термостабилизации, фотодетектор, усилитель аналитического сигнала, блок обработки данных, блок записи и хранения информации и блок оптоволоконного рамановского усилителя.

Архитектура tdlas для далеко отстоящих друг от друга длин волн // 2682061
Изобретение относится к области спектроскопии и касается системы для абсорбционной спектроскопии с перестраиваемыми диодными лазерами с далеко отстоящими друг от друга длинами волн. Система включает в себя по меньшей мере первый и второй перестраиваемые диодные лазеры, генерирующие лазерный свет на первой и второй длинах волн, причем лазерный свет первой и второй длин волн не может эффективно совместно распространяться по одному и тому же одномодовому оптическому волокну.

Устройство для определения коэффициента затухания поверхностной электромагнитной волны инфракрасного диапазона за время одного импульса излучения // 2681658
Изобретение относится к области исследования поверхности материалов оптическими методами и касается устройства определения коэффициента затухания поверхностной электромагнитной волны (ПЭВ) инфракрасного диапазона за время одного импульса излучения.

Устройство для измерения длины распространения инфракрасной поверхностной электромагнитной волны // 2681427
Изобретение относится к области бесконтактного исследования поверхности металлов и полупроводников и касается устройства для измерения длины распространения инфракрасной поверхностной электромагнитной волны (ПЭВ).

Система компактного спектрометра, предназначенного для неинвазивного измерения спектров поглощения и пропускания образцов биологической ткани // 2649048
Изобретение относится к области оптических измерений и касается компактного спектрометра. Спектрометр содержит осветительную часть, приемную часть, аппаратную часть, состоящую из блока обработки сигналов, блока управления и алгоритмического модуля.

Устройство для измерения длины распространения инфракрасной поверхностной электромагнитной волны // 2645008
Изобретение относится к области оптических измерений и касается устройства для измерения длины распространения инфракрасной поверхностной электромагнитной волны (ПЭВ). Устройство включает в себя источник монохроматического излучения, твердотельный образец с направляющей волну плоской гранью, элемент преобразования излучения в ПЭВ, регулируемую оптическую линию задержки, элемент преобразования ПЭВ в объемную волну, фотоприемник и измерительный прибор.

Статическое устройство для определения распределения интенсивности поля инфракрасной поверхностной электромагнитной волны вдоль её трека // 2629909
Изобретение относится к области оптических измерений и касается статического устройства для определения распределения интенсивности поля инфракрасной поверхностной электромагнитной волны (ПЭВ) вдоль ее трека.

Способ и устройство для введения поправок на отклонения интенсивности в спектрометре // 2624337
Изобретение относится к области оптических измерений и касается способа определения отклонения длины оптического пути образца. Способ включает в себя облучение образца электромагнитным излучением при ряде волновых чисел, определение поглощения электромагнитной энергии в образце при ряде волновых чисел, определение первого волнового числа, связанного с первым уровнем поглощения полосы поглощения, и второго волнового числа, связанного со вторым уровнем поглощения полосы поглощения, определение разности между первым волновым числом и вторым волновым числом и определение отклонения длины оптического пути на основе полученной разности.

Системы и методы оптимизации использования образца // 2620922
Способ определения присутствия или концентрации анализируемого вещества в пробе текучей среды, находящейся в контейнере, включает: (a) просвечивание контейнера вдоль первого участка, имеющего первую длину пути, для получения первого измерения интенсивности света, переданного вдоль первой длины пути, (b) определение того, что первое измерение оказалось за пределами заранее определенного динамического диапазона переданной интенсивности света, (c) перемещение пробы жидкости в указанном контейнере на другой участок с другой длиной пути, и (d) просвечивание указанного контейнера вдоль другого участка для получения другого измерения интенсивности света, переданного через другую длину пути.

Способ разведки и система для обнаружения углеводородов с использованием подводного аппарата // 2608344
Изобретение относится к области геологии и может быть использовано при поиске скоплений углеводородов. Предложен способ обнаружения углеводородов с использованием подводного аппарата, снабженного одним или несколькими измерительными компонентами.

3-бутил-5-окси-5-перфтороктил-4,5-дигидро-1h-пиразол-1-карботиоамид в качестве стандартного образца состава для количественного определения фтора и серы в органических соединениях и способ его получения // 2603634
Предлагается 3-бутил-5-окси-5-перфтороктил-4,5-дигидро-1H-пиразол-1-карботиоамид приведенной ниже формулы(1) в качестве материала стандартного образца состава для количественного определения фтора (массовая доля от 50 до 70%) и серы (массовая доля от 5 до 13%) в органических соединениях различной природы.

Инфракрасный амплитудно-фазовый плазмонный спектрометр // 2573617
Изобретение относится к инфракрасной (ИК) спектроскопии поверхности металлов и полупроводников, а именно к определению амплитудно-фазовых спектров как самой поверхности, так и ее переходного слоя, путем измерения характеристик направляемых этой поверхностью поверхностных плазмонов (ПП).

Геодезическая призма для отклонения пучка монохроматических поверхностных плазмон-поляритонов терагерцового диапазона // 2547164
Изобретение относится к области передачи информации посредством поверхностных электромагнитных волн и касается геодезической призмы для отклонения пучка монохроматических поверхностных плазмон-поляритонов (ППП).

Спектрометр на основе поверхностного плазмонного резонанса // 2500993
Изобретение относится к области оптического приборостроения и касается спектрометра на основе поверхностного плазмонного резонанса. Спектрометр содержит последовательно расположенные на одной оптической оси источник излучения света с непрерывным спектром, коллиматор, поляризатор, цилиндрическую линзу или цилиндрическое зеркало, устройство нарушенного полного внутреннего отражения с отражающим элементом, диспергирующее устройство, фокусирующий объектив и светочувствительную фотоматрицу, установленную в фокусе объектива.

Атомно-абсорбционный спектрометр, основанный на эффекте зеемана // 2497101
Изобретение относится к аналитическому приборостроению и может быть использовано для определения содержания химических элементов в пробах различных типов методом атомно-абсорбционной спектрометрии. Спектрометр содержит оптически связанные источник излучения с длиной волны, соответствующей резонансному поглощению определяемого элемента, поляризатор, оптомодулятор, фазовую пластину и атомизатор, расположенный в постоянном магнитном поле, оптически связанные монохроматор и приемник излучения, систему регистрации и обработки сигнала, электрически связанную с приемником излучения и синхронизованную с оптомодулятором, а также устройство преобразования излучения, оптически сопряженное с атомизатором и монохроматором, выполненное в виде оптически сопряженных второго поляризатора и жгута световодов с переменным профилем, причем входному торцу жгута световодов придана форма, совпадающая с профилем сечения пучка излучения, а выходному торцу придана вытянутая форма и он совмещен с входной щелью монохроматора.

Устройство для спектрального анализа // 2480718
Изобретение относится к технике спектрального анализа и может найти применение при эмиссионных и атомно-абсорбционных измерениях в спектроанализаторах с дифракционными решетками и многоэлементными фотоприемниками.

Инфракрасный амплитудно-фазовый плазмонный спектрометр // 2477841
Изобретение относится к инфракрасной спектроскопии поверхностей металлов и полупроводников. .

Устройство для измерения длины распространения монохроматических поверхностных электромагнитных волн инфракрасного диапазона // 2470269
Изобретение относится к бесконтактным исследованиям поверхности металлов и полупроводников оптическими методами, а именно к определению спектров поглощения как самой поверхности, так и ее переходного слоя, путем измерения длины распространения поверхностных электромагнитных волн (ПЭВ), направляемых этой поверхностью, в инфракрасном диапазоне (ИК) спектра и может найти применение в исследованиях физико-химических процессов на поверхности твердого тела, в ИК-спектроскопии окисных и адсорбированных слоев, в сенсорных устройствах и контрольно-измерительной технике.

Способ определения золота в отходах производства элементов электронной техники // 2464546
Изобретение относится к способу определения золота в отходах производства элементов электронной техники методом атомно-абсорбционной спектрометрии (ААС). .

Электротермический атомизатор для определения благородных металлов // 2463582
Изобретение относится к электротермическому атомизатору для определения благородных металлов. .

Спектральная газоразрядная лампа для атомной абсорбции // 2455621
Изобретение относится к спектральным газоразрядным лампам для атомной абсорбции и предназначено для использования в спектрометрах абсорбционного типа. .

Способ диэлектрической спектроскопии тонкого слоя на поверхности твердого тела в инфракрасном диапазоне // 2432579
Изобретение относится к оптическим методам исследования тонких слоев на поверхности металлов и полупроводников, а именно к инфракрасной (ИК) спектроскопии диэлектрической проницаемости. .

Способ определения коэффициента затухания поверхностной электромагнитной волны инфракрасного диапазона за время одного импульса излучения // 2400714
Изобретение относится к бесконтактным исследованиям поверхности металлов и полупроводников оптическими методами, а именно - к определению спектров поглощения как самой поверхности, так и ее переходного слоя путем измерения коэффициента затухания поверхностных электромагнитных волн (ПЭВ), направляемых этой поверхностью, в инфракрасной (ИК) области спектра, и может найти применение в исследованиях физико-химических процессов на поверхности твердого тела, в ИК-спектроскопии окисных и адсорбированных слоев, в контрольно-измерительной технике нанотехнологий, в лазерной и интегральной оптике.

Атомно-абсорбционный спектрофотометр, атомизатор и осветительное устройство // 2284018
Изобретение относится к области измерительной техники. .

Атомизирующее устройство // 2183823
Изобретение относится к атомной спектроскопии. .

Многофункциональный абсорбционный спектрометр // 2178875
Изобретение относится к спектроскопии. .

Широкополосный спектрометр поверхностных электромагнитных волн // 2173837
Изобретение относится к исследованиям быстропротекающих процессов на поверхности металлов и полупроводников оптическими методами и может найти применение в спектрометрии окисных и адсорбционных слоев. .

Способ выполнения спектроскопии переходного слоя проводящей поверхности // 2170913
Изобретение относится к области исследований быстропротекающих процессов на поверхности металлов и полупроводников оптическими методами, а именно к мгновенному определению спектров поглощения тонких переходных слоев путем регистрации характеристик возбуждаемых на поверхности образца поверхностных плазменных поляритонов (ППП), может найти применение в спектрометрии окисных и адсорбционных слоев.

Способ спектральных измерений и спектрофотометр для его осуществления // 2145062
Изобретение относится к технической физике и предназначено для определения концентрации химических элементов при спектральных измерениях различных растворов. .

Спектральный анализатор // 2096763
Изобретение относится к области спектрального анализа и может найти применение для качественного и количественного контроля состава пород, технологических продуктов, биологических объектов и т.п. .

Аналоговый процессор оптико-спектрального анализатора // 2094779
Изобретение относится к области спектрального анализа и может найти применение для качественного и количественного контроля состава пород, технологических продуктов, биологических объектов и т.п. .

Универсальный анализатор // 2094778
Изобретение относится к магнитным измерениям, исследованию состава веществ путем определения их магнитных, магнито-оптических и спектральных характеристик и может найти применение для качественного и количественного контроля состава пород, технологических продуктов, биологических объектов и т.п.

Способ атомизации пробы в атомно-абсорбционном анализе и устройство для его осуществления // 2094760
Изобретение относится к аналитической химии и может быть использовано при количественном анализе различных минералов, металлов биологических и растительных материалов атомно-абсорбционным методом. .

Способ определения содержания компонент // 2085872
Изобретение относится к оптическим абсорбционным спектральным методам определения содержания поглощающих компонент. .
 
.
Наверх