Абсорбционная спектрометрия и двулучевая спектрометрия и мерцающая спектрометрия и отражательная спектрометрия (G01J3/42)
G01J3/42 Абсорбционная спектрометрия; двулучевая спектрометрия; мерцающая спектрометрия; отражательная спектрометрия (устройства для переключения луча G01J3/08)(280)
Использование: для получения инфракрасного спектра поглощения поверхностных плазмон-поляритонов (ППП) тонким слоем вещества. Сущность изобретения заключается в том, что осуществляют нанесение тонкого слоя вещества на плоскую грань металлической подложки, генерацию на грани широкополосных ППП тепловыми флуктуациями плотности электронов проводимости, измерение спектров порождаемого ППП объемного излучения до и после нанесения слоя, расчет спектра поглощения слоя по результатам измерений, отличающийся тем, что регистрируют излучение с трека ППП после пробега ими по содержащему слой участку грани расстояния, превышающего длину распространения ППП с наибольшей частотой рабочего спектрального интервала.
Лазерная измерительная система может быть использована для абсорбционного спектрального анализа веществ в технических средах ядерных энергетических установок (ЯЭУ). Система содержит измерительную кювету 1, две эталонных кюветы 3 и 5, лазерный генератор 19, три фотоприемных блока 13-15, два измерителя 20 и 34 лазерного излучения, три управляемых спектральных фильтра 16-18, выдвижное отражательное зеркало 35 с блоком 36 перемещения, блок 48 обработки и управления, шесть уголковых отражателей 7-12, два отражательных зеркала 37 и 47, девять полупрозрачных зеркал 38-46, семь управляемых оптических ослабителей 28-33, шесть оптических переключателей 21-26.
Изобретение относится к области измерительной техники, а именно к устройствам, предназначенным для анализа в атмосферном воздухе метана и паров углеводородов при низкой температуре Τ≥-80°С, и может быть использовано для сканирования распределений их объемной концентрации на объектах нефтегазовой промышленности, а также для мониторинга атмосферы и предупреждения техногенных аварий.
Изобретение относится к области спектроскопии и касается способа спектроскопии накачки-зондирования. Способ заключается в том, что формируют последовательность исходных лазерных импульсов, выделяют из сформированной последовательности прореженные лазерные импульсы.
Изобретение относится к области спектроскопии и касается способа обработки инфракрасного спектра многокомпонентного углеродсодержащего вещества. Способ включает в себя получение исходного спектра и его обработку.
Изобретение относится к аналитической химии. Сущность способа измерения высоких концентраций химических элементов в пробах методом атомно-абсорбционной спектроскопии с электротермической атомизацией заключается в том, что предпринимаются меры для предсказуемого снижения концентрации свободных атомов внутри аналитической кюветы.
Изобретение относится к области измерительной техники и касается способа измерения in situ спектра экстинкции прозрачного образца в фотохимическом процессе. Способ включает в себя облучение оптическим излучением прозрачного образца в рабочем положении в экспериментальной установке, последующий прием прошедшего через образец излучения и измерение спектра экстинкции прозрачного образца с помощью спектрометра, а также визуализацию и сохранение измеряемых спектров для последующего анализа с помощью компьютера.
Изобретение относится к основанному на фемтосекундной лазерной технологии устройству регистрации амплитуды и фазы импульсного ТГц излучения, генерируемого при помощи электронных пучков субпикосекундной длительности, формируемых ускорителем элементарных частиц.
Изобретение относится к области аналитического приборостроения и касается дистанционного оптического абсорбционного лазерного газоанализатора с длиной волны излучения в области 1,6 мкм. Газоанализатор включает в себя блок задающего лазерного излучателя с лазерным диодом, реперную кювету, оптическую приемную систему, детектор сравнения, блок навигации, блок термостабилизации, фотодетектор, усилитель аналитического сигнала, блок обработки данных, блок записи и хранения информации и блок оптоволоконного рамановского усилителя.
Изобретение относится к области спектроскопии и касается системы для абсорбционной спектроскопии с перестраиваемыми диодными лазерами с далеко отстоящими друг от друга длинами волн. Система включает в себя по меньшей мере первый и второй перестраиваемые диодные лазеры, генерирующие лазерный свет на первой и второй длинах волн, причем лазерный свет первой и второй длин волн не может эффективно совместно распространяться по одному и тому же одномодовому оптическому волокну.
Изобретение относится к области исследования поверхности материалов оптическими методами и касается устройства определения коэффициента затухания поверхностной электромагнитной волны (ПЭВ) инфракрасного диапазона за время одного импульса излучения.
Изобретение относится к области бесконтактного исследования поверхности металлов и полупроводников и касается устройства для измерения длины распространения инфракрасной поверхностной электромагнитной волны (ПЭВ).
Изобретение относится к области оптических измерений и касается компактного спектрометра. Спектрометр содержит осветительную часть, приемную часть, аппаратную часть, состоящую из блока обработки сигналов, блока управления и алгоритмического модуля.
Изобретение относится к области оптических измерений и касается устройства для измерения длины распространения инфракрасной поверхностной электромагнитной волны (ПЭВ). Устройство включает в себя источник монохроматического излучения, твердотельный образец с направляющей волну плоской гранью, элемент преобразования излучения в ПЭВ, регулируемую оптическую линию задержки, элемент преобразования ПЭВ в объемную волну, фотоприемник и измерительный прибор.
Изобретение относится к области оптических измерений и касается статического устройства для определения распределения интенсивности поля инфракрасной поверхностной электромагнитной волны (ПЭВ) вдоль ее трека.
Изобретение относится к области оптических измерений и касается способа определения отклонения длины оптического пути образца. Способ включает в себя облучение образца электромагнитным излучением при ряде волновых чисел, определение поглощения электромагнитной энергии в образце при ряде волновых чисел, определение первого волнового числа, связанного с первым уровнем поглощения полосы поглощения, и второго волнового числа, связанного со вторым уровнем поглощения полосы поглощения, определение разности между первым волновым числом и вторым волновым числом и определение отклонения длины оптического пути на основе полученной разности.
Способ определения присутствия или концентрации анализируемого вещества в пробе текучей среды, находящейся в контейнере, включает: (a) просвечивание контейнера вдоль первого участка, имеющего первую длину пути, для получения первого измерения интенсивности света, переданного вдоль первой длины пути, (b) определение того, что первое измерение оказалось за пределами заранее определенного динамического диапазона переданной интенсивности света, (c) перемещение пробы жидкости в указанном контейнере на другой участок с другой длиной пути, и (d) просвечивание указанного контейнера вдоль другого участка для получения другого измерения интенсивности света, переданного через другую длину пути.
Изобретение относится к области геологии и может быть использовано при поиске скоплений углеводородов. Предложен способ обнаружения углеводородов с использованием подводного аппарата, снабженного одним или несколькими измерительными компонентами.
Предлагается 3-бутил-5-окси-5-перфтороктил-4,5-дигидро-1H-пиразол-1-карботиоамид приведенной ниже формулы(1) в качестве материала стандартного образца состава для количественного определения фтора (массовая доля от 50 до 70%) и серы (массовая доля от 5 до 13%) в органических соединениях различной природы.
Изобретение относится к инфракрасной (ИК) спектроскопии поверхности металлов и полупроводников, а именно к определению амплитудно-фазовых спектров как самой поверхности, так и ее переходного слоя, путем измерения характеристик направляемых этой поверхностью поверхностных плазмонов (ПП).
Изобретение относится к области передачи информации посредством поверхностных электромагнитных волн и касается геодезической призмы для отклонения пучка монохроматических поверхностных плазмон-поляритонов (ППП).
Изобретение относится к области оптического приборостроения и касается спектрометра на основе поверхностного плазмонного резонанса. Спектрометр содержит последовательно расположенные на одной оптической оси источник излучения света с непрерывным спектром, коллиматор, поляризатор, цилиндрическую линзу или цилиндрическое зеркало, устройство нарушенного полного внутреннего отражения с отражающим элементом, диспергирующее устройство, фокусирующий объектив и светочувствительную фотоматрицу, установленную в фокусе объектива.
Изобретение относится к аналитическому приборостроению и может быть использовано для определения содержания химических элементов в пробах различных типов методом атомно-абсорбционной спектрометрии. Спектрометр содержит оптически связанные источник излучения с длиной волны, соответствующей резонансному поглощению определяемого элемента, поляризатор, оптомодулятор, фазовую пластину и атомизатор, расположенный в постоянном магнитном поле, оптически связанные монохроматор и приемник излучения, систему регистрации и обработки сигнала, электрически связанную с приемником излучения и синхронизованную с оптомодулятором, а также устройство преобразования излучения, оптически сопряженное с атомизатором и монохроматором, выполненное в виде оптически сопряженных второго поляризатора и жгута световодов с переменным профилем, причем входному торцу жгута световодов придана форма, совпадающая с профилем сечения пучка излучения, а выходному торцу придана вытянутая форма и он совмещен с входной щелью монохроматора.
Изобретение относится к технике спектрального анализа и может найти применение при эмиссионных и атомно-абсорбционных измерениях в спектроанализаторах с дифракционными решетками и многоэлементными фотоприемниками.
Изобретение относится к инфракрасной спектроскопии поверхностей металлов и полупроводников. .
Изобретение относится к бесконтактным исследованиям поверхности металлов и полупроводников оптическими методами, а именно к определению спектров поглощения как самой поверхности, так и ее переходного слоя, путем измерения длины распространения поверхностных электромагнитных волн (ПЭВ), направляемых этой поверхностью, в инфракрасном диапазоне (ИК) спектра и может найти применение в исследованиях физико-химических процессов на поверхности твердого тела, в ИК-спектроскопии окисных и адсорбированных слоев, в сенсорных устройствах и контрольно-измерительной технике.
Изобретение относится к способу определения золота в отходах производства элементов электронной техники методом атомно-абсорбционной спектрометрии (ААС). .
Изобретение относится к электротермическому атомизатору для определения благородных металлов. .
Изобретение относится к спектральным газоразрядным лампам для атомной абсорбции и предназначено для использования в спектрометрах абсорбционного типа. .
Изобретение относится к оптическим методам исследования тонких слоев на поверхности металлов и полупроводников, а именно к инфракрасной (ИК) спектроскопии диэлектрической проницаемости. .
Изобретение относится к бесконтактным исследованиям поверхности металлов и полупроводников оптическими методами, а именно - к определению спектров поглощения как самой поверхности, так и ее переходного слоя путем измерения коэффициента затухания поверхностных электромагнитных волн (ПЭВ), направляемых этой поверхностью, в инфракрасной (ИК) области спектра, и может найти применение в исследованиях физико-химических процессов на поверхности твердого тела, в ИК-спектроскопии окисных и адсорбированных слоев, в контрольно-измерительной технике нанотехнологий, в лазерной и интегральной оптике.
Изобретение относится к измерительной технике. .
Изобретение относится к измерительной технике. .
Изобретение относится к спектрометрии. .
Изобретение относится к области измерительной техники. .
Изобретение относится к атомной спектроскопии. .
Изобретение относится к спектроскопии. .
Изобретение относится к исследованиям быстропротекающих процессов на поверхности металлов и полупроводников оптическими методами и может найти применение в спектрометрии окисных и адсорбционных слоев. .
Изобретение относится к области исследований быстропротекающих процессов на поверхности металлов и полупроводников оптическими методами, а именно к мгновенному определению спектров поглощения тонких переходных слоев путем регистрации характеристик возбуждаемых на поверхности образца поверхностных плазменных поляритонов (ППП), может найти применение в спектрометрии окисных и адсорбционных слоев.
Изобретение относится к технической физике и предназначено для определения концентрации химических элементов при спектральных измерениях различных растворов. .
Изобретение относится к области спектрального анализа и может найти применение для качественного и количественного контроля состава пород, технологических продуктов, биологических объектов и т.п. .
Изобретение относится к измерительной технике. .
Изобретение относится к области спектрального анализа и может найти применение для качественного и количественного контроля состава пород, технологических продуктов, биологических объектов и т.п. .
Изобретение относится к магнитным измерениям, исследованию состава веществ путем определения их магнитных, магнито-оптических и спектральных характеристик и может найти применение для качественного и количественного контроля состава пород, технологических продуктов, биологических объектов и т.п.
Изобретение относится к аналитической химии и может быть использовано при количественном анализе различных минералов, металлов биологических и растительных материалов атомно-абсорбционным методом. .
Изобретение относится к оптическим абсорбционным спектральным методам определения содержания поглощающих компонент. .