Исследование или анализ поверхностных структур в атомном диапазоне с использованием техники сканирующего зонда (G01N13/10)

G01 Измерение (счет G06M); испытание (233827)

G01N Исследование или анализ материалов путем определения их химических или физических свойств (разделение материалов вообще B01D,B01J,B03,B07; аппараты, полностью охватываемые каким-либо подклассом, см. в соответствующем подклассе, например B01L; измерение или испытание с помощью ферментов или микроорганизмов C12M,C12Q; исследование грунта основания на стройплощадке E02D1;мониторинговые или диагностические устройства для оборудования для обработки выхлопных газов F01N11; определение изменений влажности при компенсационных измерениях других переменных величин или для коррекции показаний приборов при изменении влажности, см. G01D или соответствующий подкласс, относящийся к измеряемой величине; испытание (85240)

G01N13 Исследование поверхностных или граничных свойств, например смачивающей способности; исследование диффузионных эффектов; анализ материалов путем определения их поверхностных, граничных и диффузионных эффектов; исследование или анализ поверхностных структур в атомном диапазоне(739)

G01N13/10 Исследование или анализ поверхностных структур в атомном диапазоне с использованием техники сканирующего зонда (посредством измерения вторичной эмиссии G01N23/22; измерение размеров с использованием техники сканирующего зонда G01B; конструктивные детали устройств сканирующего зонда вообще G12B21)(8)

Измерительное устройство с диском-ностителем с кантилеверами лепесткового типа // 2353918

Сканирующий зондовый микроскоп // 2334214

Использующие матрицу с нанометрическими зазорами способ и устройство для захвата, обнаружения и индентификации вещества // 2330262

Изобретение относится к обнаружению и идентификации веществ с чувствительностью к отдельным молекулам. .

Способ коррекции искаженных дрейфом изображений поверхности, полученных на сканирующем зондовом микроскопе // 2326367

Изобретение относится к области сканирующей зондовой микроскопии и может использоваться на любом приборе из семейства сканирующих зондовых микроскопов, возможно также применение способа на растровом электронном микроскопе.

Трехмерная структура, образованная тонкими кремниевыми проволоками, способ ее изготовления и устройство, содержащее ее // 2320976

Способ регистрации макромолекул при проведении протеомных исследований и биочип, используемый при их регистрации // 2283496

Изобретение относится к протеомике и медицинской диагностике. .

Устройство управления скоростью сканирования туннельного микроскопа // 2269803

Изобретение относится к сканирующей туннельной спектроскопии и может быть использовано в зондовых микроскопах и приборах на их основе. .

Способ измерения характеристик приповерхностного магнитного поля с использованием сканирующего зондового микроскопа // 2193769

Изобретение относится к области сканирующей зондовой микроскопии, а именно к способам измерения характеристик приповерхностного магнитного поля с применением сканирующего зонда (атомно-силового микроскопа, магнитосилового микроскопа).