Исследование или анализ поверхностных структур в атомном диапазоне с использованием техники сканирующего зонда (G01N13/10)
G01N13/10 Исследование или анализ поверхностных структур в атомном диапазоне с использованием техники сканирующего зонда (посредством измерения вторичной эмиссии G01N23/22; измерение размеров с использованием техники сканирующего зонда G01B; конструктивные детали устройств сканирующего зонда вообще G12B21)(8)
Изобретение относится к обнаружению и идентификации веществ с чувствительностью к отдельным молекулам. .
Изобретение относится к области сканирующей зондовой микроскопии и может использоваться на любом приборе из семейства сканирующих зондовых микроскопов, возможно также применение способа на растровом электронном микроскопе.
Изобретение относится к протеомике и медицинской диагностике. .
Изобретение относится к сканирующей туннельной спектроскопии и может быть использовано в зондовых микроскопах и приборах на их основе. .
Изобретение относится к области сканирующей зондовой микроскопии, а именно к способам измерения характеристик приповерхностного магнитного поля с применением сканирующего зонда (атомно-силового микроскопа, магнитосилового микроскопа).