Обнаружение локальных дефектов (G01N27/24)

G01 Измерение (счет G06M); испытание (233827)

G01N Исследование или анализ материалов путем определения их химических или физических свойств (разделение материалов вообще B01D,B01J,B03,B07; аппараты, полностью охватываемые каким-либо подклассом, см. в соответствующем подклассе, например B01L; измерение или испытание с помощью ферментов или микроорганизмов C12M,C12Q; исследование грунта основания на стройплощадке E02D1;мониторинговые или диагностические устройства для оборудования для обработки выхлопных газов F01N11; определение изменений влажности при компенсационных измерениях других переменных величин или для коррекции показаний приборов при изменении влажности, см. G01D или соответствующий подкласс, относящийся к измеряемой величине; испытание (85240)

G01N27 Исследование или анализ материалов с помощью электрических, электрохимических или магнитных средств (G01N3-G01N25 имеют преимущество; измерение переменных электрических или магнитных величин и исследование электрических или магнитных свойств материалов G01R) (11014)

G01N27/24 Обнаружение локальных дефектов(40)

Способ диагностики датчика влажности с использованием нагревателя очистки от конденсата // 2638222

Изобретение относится к области управления работой двигателя внутреннего сгорания, в частности к диагностике неисправности датчиков влажности. Способ диагностики для емкостного датчика влажности, содержащего нагреватель и элемент считывания емкости, который по отдельности идентифицирует ухудшение характеристик нагревателя, элемента считывания температуры или элемента считывания емкости.

Способ обнаружения неоднородностей листа и устройство для его осуществления // 2483276

Способ определения концентрации и вида релаксаторов в кристаллических материалах // 2478199

Изобретение относится к неразрушающим методам контроля и может использоваться для физико-химического анализа и при контроле чистоты кристаллических и электроизоляционных материалов как при изготовлении, так и в процессе их эксплуатации, что особенно важно для кристаллов, используемых в оптоэлектронике и лазерных технологиях.

Способ и устройство для емкостного обнаружения дефектов в полимерных трубах // 2419784

Изобретение относится к способу и устройству для емкостного обнаружения дефектов в полимерных трубах, главным образом, в трубах из сшитого полиэтилена (ПЭ-X). .

Внутритрубный снаряд-дефектоскоп с резервированными датчиками дефектов и одометрами // 2406082

Изобретение относится к области неразрушающего контроля нефтегазопроводов. .

Система диагностики для определения разрыва или утончения диафрагм // 2397484

Управляющий блок для проверки целостности отрывных закрывающих устройств, установленных на соответствующие отверстия в полосовом упаковочном материале для формирования антисептических запечатанных упаковок для текучих пищевых продуктов // 2230666

Снаряд-дефектоскоп для контроля отверстий в стенках внутри трубопровода // 2172488

Изобретение относится к неразрушающему контролю нефтегазопроводов и может быть использовано для определения наличия отверстий и каверн внутри труб и их координат. .

Датчик для контроля сварных швов // 2089892

Изобретение относится к контрольно-измерительной технике и может быть использовано для неразрушающего контроля стальных сварных швов. .

Способ определения концентрации точечных дефектов с известным зарядом в сегнетоэлектрических кристаллах // 1790762

Способ определения дефектов волокнистых материалов и устройство для его осуществления // 1704053

Изобретение относится к измерительной технике текстильной промышленности, в частности к определению дефектов волокнистых материалов. .

Способ дефектометрии плоских диэлектрических материалов // 1698725

Изобретение относится к методам неразрушающего контроля материалов и изделий путемисследования характеристик газового разряда в электрическом поле высокой напряженности и может быть использовано для решения широкого класса задач дефектоскопии в различных областях народного хозяйства.

Способ оценки распределения по размерам пор толстых диэлектрических пленок на металлическом основании // 1659826

Термоактивационный способ определения типа и концентрации дефектов в кристаллах с водородными связями // 1642354

Изобретение относится к физико-химическому анализу и может быть использовано для определения изменения концентрации дефектов структуры в материалах, работающих в агрессивных средах, и изучения структуры минералов с неизвестным составом .

Устройство для контроля параметров и состояния участков технологического объекта // 1550408

Изобретение относится к средствам кондуктометрического контроля поверхностей металлических изделий и конструкций, работающих под нагрузкой, и может быть использовано в машиностроении, строительной индустрии и др.

Способ дефектометрии плоских диэлектрических материалов // 1550407

Изобретение относится к методам неразрушающего контроля диэлектрических материалов и изделий и может быть использовано для решения широкого класса задач дефектоскопии в самых различных областях народного хозяйства.