С поочередной подачей однотипных изделий на испытание, например шаговые испытания в массовом производстве (G01R31/18)

G01 Измерение (счет G06M); испытание (233827)

G01R Измерение электрических и магнитных величин (измерение физических величин любого вида путем преобразования их в электрические величины см. примечание 4 к кл. G01; измерение диффузии ионов в электрическом поле, например электрофорез, электроосмос G01N; исследование неэлектрических и немагнитных свойств материалов с помощью электрических и магнитных методов G01N; индикация точности настройки резонансных контуров H03J3/12; контроль электрических счетчиков H03K21/40; контроль работы системы связи H04) (35008)

G01R31 Устройства для определения электрических свойств; устройства для определения местоположения электрических повреждений; устройства для электрических испытаний, характеризующихся объектом, подлежащим испытанию, не предусмотренным в других подклассах (измерительные провода, измерительные зонды G01R1/06; индикация электрических режимов в распределительных устройствах или в защитной аппаратуре H01H71/04,H01H73/12, H02B11/10,H02H3/04; испытание или измерение полупроводниковых или твердотельных приборов в процессе их изготовления H01L21/66; испытание линий передачи энергии H04B3/46) (6575)

G01R31/18 С поочередной подачей однотипных изделий на испытание, например шаговые испытания в массовом производстве(14)

Способ оценки электромиграционных параметров металлических проводников // 2567016

Изобретение относится к области микроэлектроники и может быть использовано для оценки и контроля надежности металлизации, а именно металлической разводки, при производстве интегральных микросхем для оптимизации процесса производства и повышения информативности.

Способ неразрушающего определения содержания влаги в подкорпусном объеме интегральных схем // 2263369

Изобретение относится к микроэлектронике, а именно к определению влаги в подкорпусном объеме интегральных схем (ИС). .

Способ определения сопротивления контактных переходов неокрашенных резисторов // 1347049

Изобретение относится к процессам контроля резистивной пленки и контактных переходов ненарезанных неокрашенных резисторов и позволяет повысить точность определения контактных переходов. .