Испытание электронных схем, например с помощью прибора для каскадной проверки прохождения сигнала (G01R31/28)

Отслеживание патентов класса G01R31/28
G   Физика(399361)
G01   Измерение (счет G06M); испытание (233827)
G01R     Измерение электрических и магнитных величин (измерение физических величин любого вида путем преобразования их в электрические величины см. примечание 4 к кл. G01; измерение диффузии ионов в электрическом поле, например электрофорез, электроосмос G01N; исследование неэлектрических и немагнитных свойств материалов с помощью электрических и магнитных методов G01N; индикация точности настройки резонансных контуров H03J3/12; контроль электрических счетчиков H03K21/40; контроль работы системы связи H04) (35008)
G01R31/28                     Испытание электронных схем, например с помощью прибора для каскадной проверки прохождения сигнала (испытание на короткое замыкание, обрыв, утечку или неправильное соединение G01R31/02; контрольные вычислительные устройства G06F11; статические запоминающие устройства для контроля работы накопителей G11C29)(669)

Способ повышения надежности гибридных и монолитных интегральных схем // 2664759
Изобретение относится к способу повышения надежности полупроводниковых монолитных и гибридных интегральных схем (ИС) в заданных условиях эксплуатации.

Способ испытаний электронной схемы на отказоустойчивость и стенд для его реализации // 2664493
Изобретение относится к способам проведения испытаний на надежность и устройствам для их реализации. В изобретении предложен способ проведения неразрушающих испытаний на отказоустойчивость, при котором имитируются отказы элементов, а схема сохраняет работоспособность.

Способ контрольных испытаний на гамма-процентный ресурс невосстанавливаемых радиоэлектронных устройств // 2660748
Изобретение относится к области испытаний радиоэлектронной аппаратуры. Технический результат: сокращение времени испытаний на гамма-процентный ресурс невосстанавливаемых резервированных радиоэлектронных устройств.

Способ оценки стойкости элементов цифровой электроники к эффектам сбоев от воздействия единичных частиц // 2657327
Изобретение относится к способам испытаний полупроводниковых приборов на стойкость к воздействию тяжелых заряженных частиц различных энергий космического пространства (КП).

Обнаружение периферийного usb-устройства на шине, не снабженной мощностью // 2649764
Изобретение относится к области электронного бытового оборудования. Технический результат заключается в уменьшении электропотребления оборудованием.

Устройство для определения нагрузочной способности микросхем // 2649244
Устройство для определения нагрузочной способности микросхем относится к области микроминиатюризации и технологии радиоэлектронной аппаратуры и может быть использовано для контроля параметров микросхем при их производстве.

Способ измерения теплового импеданса цифровых интегральных микросхем // 2649083
Изобретение относится к технике измерения параметров интегральных микросхем и может быть использовано для контроля качества цифровых интегральных микросхем и определения их температурных запасов.

Тест-купон и способ контроля погрешностей совмещения слоев многослойной печатной платы // 2646550
Тест-купон погрешностей совмещения слоев многослойной печатной платы состоит из 2n пар печатных проводников, ориентированных вдоль стороны МПП.

Выходная схема для магнитного/электронного трансформатора // 2645727
Изобретение относится к области электротехники и может быть использовано в лампах. Техническим результатом является обеспечение возможности питания от двух различных типов трансформаторов.

Способ испытания радиоэлектронной аппаратуры космических аппаратов на стойкость к вторичному дугообразованию // 2644455
Изобретение относится к технике испытаний и может быть использовано при наземной экспериментальной отработке и при приемочных испытаниях радиоэлектронной аппаратуры космических аппаратов на стойкость к инициированию вторичной дуги при работе аппаратуры на напряжениях, превышающих падение потенциала на дуге, в условиях имитации космического пространства, включая плазменное окружение, имитирующее плазму первичного разряда.

Способ тестирования электронных компонентов // 2643239
Изобретение относится к электронной промышленности, в частности к средствам и методам тестирования электронных компонентов, в том числе при их производстве.

Способ контроля и диагностики состояния сложных объектов // 2641322
Изобретение относится к электроизмерительной технике и может быть использовано для бесконтактного автоматизированного контроля параметров и диагностики технического состояния объектов, функционирование которых состоит из периодически повторяющихся циклов.

Способ измерения электрических параметров и характеристик без демонтажа объекта исследования, а также устройства для его реализации // 2627281
Изобретения могут использоваться в электронной, космической, авиационной, военной и других отраслях промышленности.

Устройство бесконтактного контроля исправности электротехнических объектов переменного тока // 2617731
Изобретение относится к электроизмерительной технике и может быть использовано для бесконтактного непрерывного контроля исправности электротехнических объектов переменного тока.

Устройство для определения нагрузочной способности микросхем // 2613573
Устройство для определения нагрузочной способности микросхем относится к области микроминиатюризации и технологии радиоэлектронной аппаратуры и может быть использовано для контроля параметров микросхем при их производстве.

Устройство для определения нагрузочной способности микросхем // 2613568
Изобретение относится к области микроминиатюризации и технологии радиоэлектронной аппаратуры и может быть использовано для контроля параметров микросхем при их производстве.

Способ измерения переходной тепловой характеристики цифровых интегральных схем // 2613481
Использование: для контроля тепловых свойств цифровых интегральных схем. Сущность изобретения заключается в том, что способ заключается в разогреве цифровой интегральной схемы ступенчатой электрической греющей мощностью известной величины и в измерении в определенные моменты времени в процессе разогрева цифровой интегральной схемы температурочувствительного параметра с известным температурным коэффициентом, по изменению которого рассчитывают приращение температуры активной области цифровой интегральной схемы, с целью упрощения способа и уменьшения погрешности измерения переходной тепловой характеристики для задания электрической греющей мощности нечетное число (n>1) логических элементов контролируемой цифровой интегральной схемы соединяют по схеме кольцевого генератора, подключают его к источнику питания, в заданные моменты времени ti измеряют мгновенную мощность, потребляемую цифровой интегральной схемой от источника питания, и частоту колебаний кольцевого генератора, а значение переходной тепловой характеристики в момент времени t находят по формуле:где и - частота колебаний кольцевого генератора в моменты времени t0=0 и ti соответственно, - температурный коэффициент частоты колебаний кольцевого генератора, Рср(ti)=[Р(0)+P(ti)]/2 - средняя мощность, потребляемая цифровой интегральной схемой за время от начала нагрева t0=0 до момента времени ti, а P(0) и P(ti) - мгновенная мощность, потребляемая цифровой интегральной схемой в моменты времени t0=0 и ti соответственно.

Способ определения стойкости полупроводниковых приборов свч к воздействию ионизирующих излучений // 2602416
Использование: для отбраковки полупроводниковых приборов. Сущность изобретения заключается в подаче на каждый прибор из группы однотипных приборов неизменные напряжения питания, приложении последовательности циклов ионизирующего излучения, доза которого накапливается в каждом цикле с тем, чтобы получить вызванное ею приращение интегрального низкочастотного шума прибора над шумами его исходного состояния, анализе приращений интегрального шума с ростом накопленной дозы, определении приращения интегрального шума, достигнутого к моменту окончания М-го цикла, с которого начинают уверенно фиксироваться изменения рабочего тока прибора, выбраковке приборов тех типов, у которых среднее значение приращения интегрального шума на единицу дозы, достигнутое к моменту окончания М-го цикла, оказывается больше, чем у приборов других типов.

Интегральная схема с программируемым логическим анализатором с расширенными возможностями анализа и отладки и способ // 2579814
Изобретение относится к встроенному логическому анализатору и, в частности, к программируемому встроенному логическому анализатору для анализа электронной схемы.

Способ анализа устройства // 2570093
Использование: для выяснения причин отказов устройства или для оценки качества процесса производства внутренней части электронного устройства.

Способ определения теплового сопротивления переход-корпус цифровых интегральных микросхем // 2569922
Изобретение относится к технике измерения тепловых параметров полупроводниковых приборов и интегральных микросхем и может быть использовано для контроля качества и оценки температурных запасов цифровых интегральных микросхем на выходном и входном контроле.

Способ измерения теплового сопротивления кмоп цифровых интегральных микросхем // 2561337
Использование: для контроля качества цифровых интегральных микросхем КМОП логическими элементами и оценки их температурных запасов.

Способ измерения параметров элементов многоэлементных нерезонансных линейных двухполюсников // 2561336
Изобретение относится к технике измерения параметров элементов электрических цепей и может быть использовано для измерения параметров элементов многоэлементных двухполюсников, в том числе параметров элементов эквивалентных схем замещения полупроводниковых приборов.

Устройство автоматического бесконтактного контроля технического состояния диодного выпрямителя // 2549221
Изобретение относится к измерительной технике, представляет собой устройство для определения исправности полупроводниковых диодов и может быть использовано для автоматического бесконтактного контроля технического состояния мостовых диодных выпрямителей.

Устройство анализа результатов тестирования для поиска неисправных блоков // 2540805
Изобретение относится к области тестирования дискретных объектов большой размерности. Техническим результатом является повышение глубины локализации неисправностей.

Способ определения стойкости к дугообразованию элементов радиоэлектронной аппаратуры космических аппаратов // 2539964
Изобретение относится к технике испытаний и может быть использовано при наземной экспериментальной отработке радиоэлектронной аппаратуры космических аппаратов в диапазоне давлений окружающей среды от атмосферного до соответствующего глубокому вакууму.

Способ испытания на коррозионную стойкость интегральных схем // 2527669
Изобретение относится к микроэлектронике, а именно к способам испытаний интегральных схем (ИС) на коррозионную стойкость.

Способ и устройство для измерения переходных тепловых характеристик светоизлучающих диодов // 2523731
Изобретение относится к области приборостроения и может быть использовано для измерения температуры активной области светоизлучающих диодов.

Способ определения теплового импеданса сверхбольших интегральных схем - микропроцессоров и микроконтроллеров // 2521789
Способ предназначен для использования на выходном и входном контроле качества сверхбольших интегральных схем (СБИС) - микропроцессоров и микроконтроллеров - и оценки их температурных запасов.

Способ контроля работоспособности многоточечной измерительной системы с входной коммутацией датчиков // 2515738
Изобретение относится к измерительной технике и может применяться для исследования измерительных характеристик и контроля точности работы измерительного устройства многоточечных измерительных систем с входной коммутацией датчиков.

Способ определения теплового импеданса цифровых кмоп интегральных микросхем // 2504793
Изобретение предназначено для использования на выходном и входном контроле качества цифровых КМОП интегральных микросхем и оценки их температурных запасов.

Способ испытаний полупроводниковых бис технологии кмоп/кнд на стойкость к эффектам единичных сбоев от воздействия тяжелых заряженных частиц космического пространства // 2495446
Изобретение относится к способам испытаний полупроводниковых приборов на стойкость к воздействию тяжелых заряженных частиц различных энергий космического пространства.
Способ регулирования сопротивления твердотельных приборов и резистивная матрица памяти на основе полярнозависимого электромассопереноса в кремнии // 2471264
Изобретение относится к полупроводниковой микроэлектронике и может быть использовано при создании и многократном регулировании сопротивления металлических перемычек, соединяющих электроды твердотельных приборов, работа которых основана на полярнозависимом электромассопереносе в кремнии (ПЭМП).

Способ определения теплового импеданса кмоп цифровых интегральных микросхем // 2463618
Изобретение относится к технике измерения параметров интегральных микросхем и может быть использовано для контроля качества цифровых интегральных микросхем на основе КМОП логических элементов (ЛЭ).

Устройство для измерения технических параметров аварийных радиомаяков/радиобуев // 2453860
Изобретение относится к области приборостроения и может быть использовано в контрольно-поверочной аппаратуре, для измерения технических параметров аварийных радиомаяков и радиобуев.

Способ разбраковки кмоп микросхем, изготовленных на кнд структурах, по радиационной стойкости // 2444742
Изобретение относится к области электронной техники, в частности предназначено для разбраковки КМОП микросхем, изготовленных на КНД ("кремний на диэлектрике") структурах, по радиационной стойкости.

Система функционального тестирования корпусированных микросхем оперативно запоминающих устройств // 2438164
Изобретение относится к испытательной технике и может быть использовано для диагностики функционирования микросхем оперативной памяти во всех отраслях микроэлектроники и радиотехники.

Способ определения места и характера дефекта в цифровом блоке // 2433418
Изобретение относится к контрольно-измерительной технике. .

Способ автоматического сохранения работоспособности трансформаторно-тиристорного мостового выпрямителя // 2419803
Изобретение относится к области электротехники и может использоваться в источниках питания для исключения в них коротких замыканий при «пробое» тиристоров и сохранения выходного напряжения.

Способ отбраковки кмоп микросхем, изготовленных на кнд структурах, по стойкости к радиационному воздействию // 2411527
Изобретение относится к области электронной техники, в частности предназначено для отбраковки КМОП микросхем, изготовленных на КНД (кремний на диэлектрике) структурах, по радиационной стойкости.

Способ диагностического неразрушающего контроля (днк) программируемых логических интегральных схем иностранного производства (плис ип) // 2397504
Изобретение относится к области вычислительной и контрольно-измерительной техники и может быть использовано для контроля программируемых логических интегральных схем, в частности, иностранного производства.

Импульсный имитатор солнечного излучения // 2388104
Изобретение относится к солнечной энергетике, в частности к имитаторам солнечного излучения на основе импульсных газоразрядных ламп для измерения световых вольтамперных характеристик и других фотоэлектрических параметров солнечных фотоэлементов и фотоэлектрических модулей с концентраторами излучения.

Способ определения значений теплоэлектрофизических параметров тестовых образцов проводящих или резистивных структур // 2372625
Изобретение относится к области электроизмерительной техники и может быть использовано при разработке оперативных методов и средств определения или неразрушающего контроля значений теплоэлектрофизических параметров и электрофизической диагностики проводящих или резистивных структур интегральных схем (ИС).

Способ разбраковки микросхем оперативного запоминающего устройства по уровню бессбойной работы // 2371731
Изобретение относится к области электронной техники, в частности предназначено для разбраковки микросхем оперативного запоминающего устройства (ОЗУ) по уровню бессбойной работы (УБР).

Устройство для выявления потенциально ненадежных полупроводниковых интегральных схем методом анализа форм и/или параметров динамического тока потребления // 2348049
Изобретение относится к области микроэлектроники и может быть использовано в технологии изготовления полупроводниковых интегральных схем (ИС), а также для анализа изделий, отказавших у потребителя.
Способ контроля ис по содержанию влаги в подкорпусном объеме // 2330301
Изобретение относится к контролю интегральных схем (ИС) и может быть использовано для отбраковки ИС на этапе серийного производства, а также на входном контроле при производстве радиоаппаратуры.
 
.
Наверх