Граничные испытания, например путем изменения напряжения питания (G01R31/30)

G   Физика(403185)
G01   Измерение (счет G06M); испытание (233827)
G01R     Измерение электрических и магнитных величин (измерение физических величин любого вида путем преобразования их в электрические величины см. примечание 4 к кл. G01; измерение диффузии ионов в электрическом поле, например электрофорез, электроосмос G01N; исследование неэлектрических и немагнитных свойств материалов с помощью электрических и магнитных методов G01N; индикация точности настройки резонансных контуров H03J3/12; контроль электрических счетчиков H03K21/40; контроль работы системы связи H04) (35008)
G01R31/30                     Граничные испытания, например путем изменения напряжения питания (граничные испытания вычислительных машин G06)(185)

Способ сравнительной оценки стойкости партий интегральных схем к электростатическому разряду // 2792841
Изобретение относится к микроэлектронике, а именно к контролю полупроводниковых интегральных схем (ИС). Сущность: на каждую ИС из репрезентативных выборок из каждой сравниваемой партии воздействуют электростатическими разрядами (ЭСР) разной полярности напряжением, равным удвоенному от допустимого по ТУ для данного типа ИС значения до наступления отказа ИС.

Способ определения стойкости элементов конструкций или радиоэлектронного оборудования низкоорбитальных космических аппаратов к воздействию факторов космического пространства и устройство для его реализации // 2791950
Изобретение относится к испытательной технике и может быть использовано в наземных испытаниях элементов конструкций (ЭК), материалов и покрытий, а также радиоэлектронного оборудования (РЭО) в условиях воздействия факторов космического пространства (ФКП) на низкоорбитальные космические аппараты (НКА).

Способ разделения интегральных схем по надежности // 2786050
Изобретение относится к микроэлектронике, а именно к способам обеспечения качества и надежности интегральных схем, и может быть использовано как в процессе производства, так и на входном контроле на предприятиях-изготовителях.

Лазерный ускоритель заряженных частиц для испытаний электронной компонентной базы // 2785079
Изобретение относится к испытаниям электронной компонентной базы на стойкость к воздействию заряженных частиц. Лазерный ускоритель заряженных частиц состоит из фемтосекундного высококонтрастного частотного лазера; системы контрастирования лазерного излучения; как минимум двух вакуумных мишенных камер, в каждой из которых реализуется своя схема облучения лазерной мишени; отклоняющего зеркала; мишенного узла, в каждой из вакуумных мишенных камер; оптической фокусирующей системы, состоящей из поворотного зеркала и параболического фокусирующего объектива; системы очистки твердотельных лазерных мишеней от загрязнений; не менее двух камер облучения, где реализуют юстировку испытываемых устройств по отношению к пучку заряженных частиц посредством системы позиционирования испытываемого устройства; системы питания и управления испытываемыми устройствами; магнитной системы отклонения заряженных частиц и системы транспортировки заряженных частиц, с помощью которых выделяют узкие полосы из спектра заряженных частиц, транспортируют их в камеру облучения и фокусируют на испытываемое устройство.

Способ обнаружения обрыва фазы пускового/резервного трансформатора с использованием оптического трансформатора тока // 2761112
Использование: в области электротехники. Технический результат – повышение чувствительности и точности идентификации в режиме холостого хода неисправности в виде обрыва фазы системы пускового/резервного трансформатора, что повышает надежность работы системы пускового/резервного трансформатора на электростанции.

Способ испытания крупногабаритных объектов, содержащих протяженные кабельные линии, на соответствие требованиям по стойкости к воздействию электромагнитного импульса // 2759494
Изобретение относится к области электромагнитных испытаний для оценки соответствия крупногабаритных объектов, имеющих в своем составе протяженные кабельные линии, заданным требованиям по стойкости к воздействию электромагнитного импульса (ЭМИ) субнаносекундного временного диапазона.

Способ выявления контрафактных микросхем, бывших в употреблении на основе свойств деградации созу // 2757977
Изобретение относится к области тестирования электроники, в частности, определения времени эксплуатации статической оперативной памяти и выявления контрафакта. Сущность: производят подсчет нестабильных бит путем записи при номинальном напряжении питания (Vп=Vном) во все биты СОЗУ значение 1 или 0.

Способ неразрушающей диагностики интегральных схем // 2743708
Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для разбраковки интегральных схем (ИС) по критерию потенциальной надежности. Технический результат: повышение эффективности и достоверности разделения ИС на надежные и потенциально ненадежные.

Модифицированная микрополосковая линия, защищающая от сверхкоротких импульсов // 2732805
Изобретение относится к радиоэлектронике и может быть использовано для защиты радиоэлектронной аппаратуры от сверхкоротких импульсов. В устройстве из проводящей пластины, на которой параллельно ей расположена подложка, на которой параллельно ей располагается проводник прямоугольного поперечного сечения, выполнены два выреза, которые параллельны и равны по длине проводнику, в устройство добавлены два резистора, соединяющие концы проводника, образованного в проводящей пластине между двумя вырезами, с проводящей пластиной, при этом значение длины линии, умноженное на значение разности максимальной погонной задержки мод линии и наибольшей из остальных, не меньше суммы длительностей фронта, плоской вершины и спада сверхкороткого импульса, подающегося между проводником и проводящей пластиной, выбор параметров резисторов зависит от их поперечного сечения и расстояния между проводниками, а также относительной диэлектрической проницаемости, обеспечивающих минимизацию амплитуды сигнала на выходе.

Меандровая микрополосковая линия задержки из двух витков, защищающая от сверхкоротких импульсов // 2724972
Изобретение относится к электротехнике и может быть использовано для защиты радиоэлектронной аппаратуры от сверхкоротких импульсов. Техническим результатом является увеличенное ослабление СКИ, за счет его разложения на последовательность из девяти импульсов меньшей амплитуды: сначала на три импульса в первом витке, а затем каждого из них на три импульса во втором витке.

Меандровая линия задержки с лицевой связью из двух витков, защищающая от сверхкоротких импульсов // 2724970
Изобретение относится к электротехнике и может быть использовано для защиты радиоэлектронной аппаратуры от сверхкоротких импульсов, меньше чем длительность воздействующего импульса. Техническим результатом является увеличенное ослабление СКИ за счет его разложения на последовательность из девяти импульсов меньшей амплитуды: сначала на три импульса в первом витке, а затем каждого из них на три импульса во втором витке.

Способ неразрушающего контроля качества сверхбольших интегральных схем по значению критического напряжения питания // 2696360
Изобретение относится к микроэлектронике и может быть использовано для обеспечения качества и надежности сверхбольших интегральных схем (СБИС). Сущность: измеряют критическое напряжение питания при нормальной и повышенной температуре.

Способ повышения надежности и качества функционирования партии гибридных и монолитных интегральных схем // 2684943
Изобретение относится к повышению надежности и качества функционирования партии полупроводниковых монолитных и гибридных интегральных схем (ИС). Сущность: ИС подвергают искусственному старению, в результате которого происходит деградация параметров материалов и структуры ИС и изменение их информативных параметров.

Устройство для определения номера жилы кабеля // 2667685
Предлагаемое устройство относится к области контроля кабелей и предназначено для прозвонки и определения правильности монтажа кабелей, монтируемых на производстве или проложенных на объектах. Изобретение дополнено вторым n-канальным коммутатором, при этом к первым входам второго n-канального коммутатора подключены n контактов второго концевого устройства, ко второму его входу подключен третий выход узла выбора каналов, выход второго n-канального коммутатора подключен ко второму входу определителя номера жилы, а второй выход определителя номера жилы подключен к входу узла выбора каналов.

Способ расчетно-экспериментальной оценки радиационной стойкости интегральных схем к воздействию отдельных заряженных частиц, основанный на локальном лазерном облучении // 2661556
Cпособ относится к области исследований радиационной стойкости изделий полупроводниковой электроники, в частности интегральных схем, к воздействию ионизирующих излучений. Способ оценки радиационной стойкости интегральных схем к воздействию отдельных заряженных частиц, основанный на локальном лазерном облучении, включает сканирование кристалла микросхемы пучком лазерного излучения диаметром в пределах от 30 до 100 мкм в плоскости приборного слоя кристалла, выявление наиболее чувствительных к одиночным радиационным эффектам (ОРЭ) областей, в которых определяют наиболее чувствительные узлы и снимают зависимость пороговой энергии лазерного излучения возникновения ОРЭ от диаметра пятна.

Способ оценки стойкости элементов цифровой электроники к эффектам сбоев от воздействия единичных частиц // 2657327
Изобретение относится к способам испытаний полупроводниковых приборов на стойкость к воздействию тяжелых заряженных частиц различных энергий космического пространства (КП). В способе оценки стойкости элементов цифровой электроники к эффектам сбоев от воздействия единичных частиц КП определяется минимальное значение потока частиц, соответствующее отличному от нулевого значения сечению сбоев в области малых значений линейной передачи энергии (LET).

Способ оценки стойкости цифровой электронной аппаратуры к воздействию ионизирующих излучений (варианты) // 2578053
Изобретение относится к области исследования радиационной стойкости полупроводниковых приборов (ППП) и интегральных схем, и в большей степени интегральных микросхем (ИМС) с последовательной и комбинационной обработкой логических сигналов.

Способ контроля идентичности изделий в партии однотипных микросхем // 2554675
Изобретение относится к области электронной техники. Способ контроля идентичности изделий в партии однотипных микросхем основан на контроле электромагнитного сигнала, причем на один из выводов каждой микросхемы из партии в качестве входного воздействия подается электрический сигнал изменяющейся частоты в диапазоне от 1 ГГц до 10 ГГц, снимаются частотные характеристики выходного контрольного электромагнитного сигнала с другого вывода микросхемы и частотные характеристики отраженного сигнала от упомянутых использующихся входного и выходного выводов, полученные частотные характеристики для различных микросхем сравниваются между собой, и на основании этого контроля делается заключение об идентичности микросхем в партии.

Способ электротермотренировки интегральных микросхем // 2554660
Изобретение относится к области микроэлектроники и может быть использовано для повышения качества электротермотренировки интегральных микросхем. Технический результат: повышение надежности микросхем.

Способ контроля технического состояния высоковольтного трансформаторного оборудования // 2511038
Предложен способ контроля технического состояния элементов высоковольтного оборудования (ЭО). В способе осуществляют регистрацию и анализ спектров собственного электромагнитного излучения (ЭМИ) ЭО, при котором производят мониторинг спектров ЭМИ.

Установка для тестирования чипов каскадных фотопреобразователей на основе соединений al-ga-in-as-p // 2391648
Изобретение относится к измерительной технике и предназначено для бесконтактного неразрушающего контроля качества чипов полупроводниковых фотопреобразователей, в частности солнечных элементов. .
Способ контроля технического состояния элементов высоковольтного оборудования // 2368914
Изобретение относится к способам дистанционного контроля технического состояния электроэнергетического (ЭЭ) оборудования, находящегося под напряжением. .

Способ разделения интегральных микросхем по радиационной стойкости и надежности // 2311654
Изобретение относится к области испытания объектов электронной техники, в частности предназначено для отбраковки образцов интегральных микросхем с аномально низкой радиационной стойкостью и надежностью.

Способ отбора интегральных схем повышенной надежности // 2295735
Изобретение относится к области микроэлектроники и может быть использовано для выделения из партии интегральных схем (ИС) схемы повышенной надежности. .

Измеритель остаточного напряжения на накопительном конденсаторе в емкостных системах зажигания // 2179322
Изобретение относится к электроизмерительной технике, в частности к устройствам для измерения параметров искровых разрядов в свечах зажигания, и может быть использовано для измерения остаточного напряжения на накопительном конденсаторе в емкостных системах зажигания газотурбинных двигателей.

Способ обнаружения и идентификации скрытых электронных установок и устройство для его осуществления // 2150120
Изобретение относится к средствам предотвращения несанкционированного контроля работы оборудования, а также деятельности и перемещений персонала и отдельных личностей, например, скрытыми видеокамерами. .
Способ испытаний полупроводниковых фотоприемников // 2138058
Изобретение относится к способам испытаний полупроводниковых приборов на надежность и может использоваться для ускоренных испытаний полупроводниковых фотоприемников, например фотодиодов для прогнозирования их надежности в процессе длительной эксплуатации.

Камера для электроклиматических испытаний // 2054688
Изобретение относится к контрольно-диагностической и испытательно-исследовательской технике и может быть использовано при создании диагностико-испытательного оборудования для испытаний и исследований современной радиоэлектронной аппаратуры.

Способ измерения и контроля мертвого времени устройств регистрации ионизирующего излучения // 1714543
Изобретение относится к области испытаний и контроля, в частности к измерению' и контролю мертвого времени канала измерения интенсивности ионизирующего излучения. .

Устройство для контроля контактирования выводов интегральной схемы // 1712907
Изобретение относится к электронной технике. .

Устройство для фиксации обрывов и коротких замыканий на корпус или подложку внешних выводов твердотельных интегральных схем с диодной изоляцией // 1691790
Изобретение относится к контрольноизмерительной технике и может быть использовано при производстве и контроле интегральных схем с диодной изоляцией в процессе испытаний на виброустойчивость и воздействие акустических шумов.

Способ теплового контроля качества объемных интегральных схем // 1675908
Изобретение относится к вычислительной технике и может быть использовано для неразрушающего контроля качества объемных интегральных схем. .

Способ параметрического контроля мдп-интегральных схем // 1674022
Изобретение относится к микроэлектронике. .

Измерительный источник-преобразователь напряжения и тока // 1670632
Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано в составе автоматизированных измерительных комплексов для контроля параметров интегральных микросхем. .

Способ контроля и прогнозирования технического состояния усилителей мощности транзисторных связных передатчиков с амплитудной модуляцией по ширине полосы частот сигнала несущей частоты // 1601593
Изобретение относится к контрольно-измерительной технике и может быть использовано для контроля и прогнозирования технического состояния усилителей мощности транзисторных связных передатчиков с амплитудой модуляцией.

Способ диагностики и контроля качества изготовления электронных блоков // 1596290
Изобретение относится к контрольно-измерительной технике и может быть использовано при контроле качества изготовления сложных электронных блоков, преимущественно с печатным монтажом. .

Способ контроля надежности интегральных микросхем // 1596288
Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для диагностического контроля и отбраковки предрасположенных к коррозии интегральных микросхем. .

Способ контроля интегральных микросхем памяти // 1594458
Изобретение относится к контрольно-измерительной технике в микроэлектронике и предназначено для отбраковки запоминающих устройств, имеющих дефектные ячейки памяти. .

Устройство для функционального контроля больших интегральных микросхем // 1583887
Изобретение относится к контрольно-испытательной технике и может быть использовано для функционального контроля больших интегральных схем, имеющих выходы с третьим состоянием. .

Способ контроля качества многослойных печатных плат и устройство для его осуществления // 1580598
Изобретение относится к контрольно-измерительной технике. .

Устройство для автоматизированной функциональной настройки гибридных интегральных микросхем // 1552135
Изобретение относится к электронике и может быть использовано при настройке гибридных интегральных микросхем (ГИМС). .

Способ контроля отсутствия обрывов и коротких замыканий на корпус или подложку внешних выводов твердотельных интегральных схем с изолирующими диодами // 1541542
Изобретение относится к контрольно-измерительной технике и может быть использовано при производстве и контроле твердотельных интегральных схем с изолирующими диодами. .

Способ отбраковки интегральных схем // 1539696
Изобретение относится к микроэлектронике, а именно к контролю в производстве интегральных микросхем. .

Устройство для автоматического контроля больших интегральных схем // 1529220
Изобретение относится к контрольно-измерительной технике и может быть использовано для контроля электрических /статических и динамических/ параметров и функционирования цифровых логических БИС, в частности схем с эмиттерно-связанной логикой.

Способ контроля микросхем со скрытыми дефектами // 1511721
Изобретение относится к контролю изделий электронной техники, в частности может быть использовано для выявления микросхем (МС) со скрытыми дефектами. .

Устройство для измерения электрических параметров интегральных микросхем // 1504633
Изобретение относится к технике контроля качества и надежности радиоэлементов, интегральных микросхем, электронных устройств и блоков и может быть использовано для контроля их статических параметров и функционального контроля.
 
.
Наверх