Испытание цифровых схем (G01R31/317)
G Физика(403185)
G01 Измерение (счет G06M); испытание
(233827)
G01R Измерение электрических и магнитных величин (измерение физических величин любого вида путем преобразования их в электрические величины см. примечание 4 к кл. G01; измерение диффузии ионов в электрическом поле, например электрофорез, электроосмос G01N; исследование неэлектрических и немагнитных свойств материалов с помощью электрических и магнитных методов G01N; индикация точности настройки резонансных контуров H03J3/12; контроль электрических счетчиков H03K21/40; контроль работы системы связи H04)
(35008)
G01R31 Устройства для определения электрических свойств; устройства для определения местоположения электрических повреждений; устройства для электрических испытаний, характеризующихся объектом, подлежащим испытанию, не предусмотренным в других подклассах (измерительные провода, измерительные зонды G01R1/06; индикация электрических режимов в распределительных устройствах или в защитной аппаратуре H01H71/04,H01H73/12, H02B11/10,H02H3/04; испытание или измерение полупроводниковых или твердотельных приборов в процессе их изготовления H01L21/66; испытание линий передачи энергии H04B3/46)
(6575)
G01R31/317 Испытание цифровых схем(220)
Тестер-верификатор заказных сбис // 2777449
Настоящее техническое решение относится к области вычислительной техники. Технический результат заключается в расширении функциональных возможностей тестирования за счет проверки заказных СБИС на рабочих частотах, а также сокращении времени разработки и проверки заказных СБИС.
Модуль релейного коммутатора // 2746671
Изобретение относится к средствам автоматизированного контроля и диагностики радиоэлектронной аппаратуры и предназначено для использования в качестве технологического испытательного оборудования для контроля параметров цифровой радиоаппаратуры при производстве и сдаче готовой продукции для обеспечения коммутации контролируемых каналов радиоэлектронной аппаратуры к измерительным приборам и устройствам.
Группа изобретений относится к программируемым логическим устройствам. Техническим результатом является уменьшение пространства кристалла, выделенного для адресации ячеек запоминающих устройств, улучшение тестирования.
Изобретение относится к регулирующим и управляющим системам, в частности к цифровым сторожевым схемам для контроля микроконтроллера. Схемный узел для контроля характеристики тайминга микроконтроллера содержит микроконтроллер (µС), выполненный с возможностью управления по меньшей мере двумя секциями (Т1, С1, R1, R3, D1; T1, T2, C1, C2, R1, R2, R3, D1) формирования сторожевого напряжения для определенного по времени формирования по меньшей мере двух контрольных напряжений (Uc; U1, U2) и с возможностью регистрировать и считывать сформированные контрольные напряжения (Uc; U1, U2) в заданный момент снятия отсчета, и по меньшей мере две секции (Т1, С1, R1, R3, D1; T1, T2, C1, C2, R1, R2, R3, D1) формирования сторожевого напряжения.
Изобретение относится к анализаторам электронных схем. Устройство содержит интегральную схему, содержащую: схему логического анализатора, имеющую первый вход, принимающий множество сигналов, и первый выход для обеспечения выбранных выборок сигналов, поступающих на первый вход, и первый блок, имеющий первый вход, подключенный к схеме логического анализатора для приема одного или более сигналов, поступающих на его первый вход, и выход, подключенный к схеме логического анализатора для непосредственной подачи на него отдельного набора из одного или более сигналов, которые основаны на одном или более сигналах на первом входе первого блока, согласно заранее определенной функции, причем заранее определенная функция является конфигурируемой.
Изобретение относится к измерительной технике. .
Устройство для определения теплового сопротивления переход-корпус логических интегральных микросхем // 2327178
Изобретение относится к контролю качества микросхем на основе ТТЛ и ТТЛШ логических элементов (ЛЭ). .
Изобретение относится к контролю качества цифровых интегральных микросхем на основе ТТЛ и ТТЛШ логических элементов (ЛЭ). .
Способ поиска дефектов в цифровых блоках // 2255369
Изобретение относится к контрольно-измерительной технике и может быть использовано для обнаружения и указания места потенциально неисправного устройства, входящего в состав цифрового блока. .
Устройство для измерения теплового сопротивления переход- корпус цифровых интегральных микросхем // 2174692
Изобретение относится к технике измерения тепловых параметров полупроводниковых приборов и интегральных микросхем и может быть использовано для контроля качества и оценки температурных запасов цифровых интегральных микросхем.
Изобретение относится к электротехнике, в частности к диагностированию устройств релейной защиты и противоаварийного управления в системах электроснабжения (РЗА). .
Логический пробник // 2041473
Изобретение относится к автоматике и вычислительной технике и может быть использовано при отладке логических блоков, микропроцессорных систем, ЭВМ и т.д. .
Устройство для контроля цифровых блоков // 2028643
Изобретение относится к контрольно-измерительной технике и может быть использовано для обнаружения и указания места неисправного элемента в цифровых схемах. .
Устройство для контроля цифровых блоков // 1807774
Изобретение относится к вычислительной технике и может быть использовано в аппаратуре контроля при электротермотренировке цифровых блоков и при испытаниях их на ресурс. .
Способ контроля логических устройств // 1709256
Изобретение относится к технической диагностике и может быть использовано при контроле интегральных логических схем и цифровых устройств, построенных на их основе. .
Изобретение относится к контрольноизмерительной технике и может быть использовано для контроля логических устройств. .
Изобретение относится к технике контроля микросхем. .
Изобретение относится к контрольноизмерительной технике и может быть использовано для контроля цифровых устройств, в частности для многоканальной параллельной визуальной индикации статических сигналов с возможностью выбора оператором для анализа любой группы каналов .
Устройство для контроля цифровых блоков // 1691793
Изобретение относится к контрольноизмерительной технике и может быть использовано для автоматизированного контроля цифровых блоков, включающих в себя большие интегральные схемы. .
Изобретение относится к контрольноизмерительной технике и может быть использовано в качестве встроенного устройства для съема информации с цифровых микросхем для контроля и диагностики. .
Изобретение относится к контрольно-измерительной технике. .
Устройство для контроля динамических параметров и функционирования цифровых интегральных схем // 1674017
Изобретение относится к контрольно-измерительной технике. .
Изобретение относится к технике измерения параметров интегральных микросхем и может быть использовано для контроля качества цифровых интегральных микросхем на основе ТТЛ и ТТЛШ логических элементов. .
Устройство для проверки логических микросхем // 1596291
Изобретение относится к контрольно-измерительной технике и может быть использовано при проверке логических микросхем. .
Логический тестер // 1596289
Изобретение относится к контрольно-измерительной технике и может быть использовано при контроле и поиске неисправностей цифровых устройств. .
Логический пробник // 1594459
Изобретение относится к контрольно-измерительной технике и может быть использовано при контроле микросхем. .
Изобретение относится к контрольно-измерительной технике и может быть использовано для контроля контактирования логических блоков с установками тестового контроля. .
Изобретение относится к контрольно-испытательной технике и может быть использовано для переключения логических элементов при испытании их работоспособности. .
Изобретение относится к контрольно-измерительной технике и может быть использовано при наладке, контроле и диагностике цифровых устройств. .
Изобретение относится к вычислительной технике и может быть использовано для функционально-динамического контроля цифровых схем, а также для управления любым быстродействующим процессом. .
Изобретение относится к технике измерения статических параметров интегральных микросхем, в частности к измерению входных пороговых напряжений логических схем. .
Изобретение относится к контрольно-измерительной технике. .
Изобретение относится к вычислительной технике и может быть использовано, в частности, в процессе ее эксплуатации и в процессе проведения входного контроля цифровой элементной базы, а также при производстве цифровых систем.
Устройство для контроля кмоп-логических схем // 1552137
Изобретение относится к контрольно-измерительной технике и может быть использовано для контроля КМОП-логических схем. .
Устройство для контроля логических схем // 1529153
Изобретение относится к контрольно-измерительной технике и может быть использовано при регулировке устройств на интегральных схемах. .
Изобретение относится к технике неразрушающего контроля и может быть использовано для контроля надежности и отбраковки цифровых интегральных микросхем. .
Логический пробник // 1525636
Изобретение относится к автоматике и предназначено для контроля импульсных сигналов. .
Устройство для контроля цифровых схем // 1522130
Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано в каналах измерительных систем для контроля цифровых микросхем и блоков с двунаправленными выводами. .
Устройство для контроля микросхем // 1504631
Изобретение относится к электроизмерительной технике и может быть использовано для контроля работоспособности и определения типа цифровых МОП интегральных микросхем при производстве радиоэлектронной аппаратуры.
Устройство для контроля цифровых блоков // 1503031
Изобретение относится к контрольно - измерительной технике и может быть использовано при контроле цифровых блоков. .
Логический оптический тестер // 1499288
Изобретение относится к контрольно-измерительной технике и может быть использовано при настройке, техническом обслуживании и эксплуатации волоконно-оптических трактов приема и передачи информации. .
Способ контроля логических схем // 1499287
Изобретение относится к контрольно-измерительной технике и служит для расширения функциональных возможностей устройства. .
Способ контроля логических схем // 1479900
Изобретение относится к контрольно-измерительной технике и может быть использовано в устройствах диагностики логических схем. .
Изобретение относится к области контрольно-измерительной техники и может быть использовано для контроля параметров интегральных схем. .
Устройство для контроля цифровых блоков // 1458841
Изобретение относится к вычислительной технике и может быть использовано для контроля логических блоков ;средств цифровой вычислительной техники . .
Логический пробник // 1456916
Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для контроля логических интегральных схем при наладке и ремонте управляющих вычислительных устройств . .
