Измерение градиента (G01R33/022)
G01R33/022 Измерение градиента(21)
Изобретение относится к области измерительной техники, более конкретно – к устройствам для измерения градиентов слабых магнитных полей. Раскрыт тонкопленочный градиентометр, для измерения градиентов слабых магнитных полей, включающий два чувствительных элемента, разнесенных в пространстве и имеющих сонаправленные оси максимальной чувствительности.
Изобретение относится к области измерительной техники и может найти применение для измерения слабых магнитных полей. Устройство для измерения слабых магнитных полей на основе эффекта гигантского магнитного импеданса содержит магниточувствительный элемент, выполненный из двух идентичных аморфных ферромагнитных микропроводов в стеклянной оболочке или с удаленной стеклянной оболочкой, размещенных внутри одной многовитковой катушки, причем высокочастотное возбуждение микропроводов осуществляется от многовитковой катушки, а регистрация сигналов с двух микропроводов осуществляется с помощью дифференциального усилителя.
Изобретение относится к технике создания магнитных полей. .
Изобретение относится к области измерительной техники и предназначено для поиска кабельной линий с током, утерянных трубопроводов и буров в геологических скважинах, обнаружения дефектов печатных плат, поиска намагниченных предметов в теле человека, для обнаружения скрытого оружия на контрольных пунктах и т.д.
Изобретение относится к области измерительной техники и предназначено для поиска кабельных линий с током, утерянных трубопроводов и буров в геологических скважинах, обнаружения дефектов печатных плат, поиска ферромагнитных предметов в теле человека, для обнаружения скрытого оружия на контрольных пунктах и т.д.
Изобретение относится к магнитным измерениям и может быть использовано при разработке градиентометров для геофизических исследований. .
Изобретение относится к устройствам магнитометрической техники и может быть использовано для повышения степени астатичности сверхпроводникового измерительного преобразователя градиента магнитной индукции.
Изобретение относится к устройствам для исследования параметров магнитного поля при неразрушающем контроле ферромагнитных изделий. .
Изобретение относится к средствам регистрации тонкой структуры магнитного поля в ближней зоне источника и может быть использовано для измерения первых производных пространственных производных компонент вектора напряженности магнитного поля.
Изобретение относится к магнитоизмерительной технике. .