Изобретение относится к световой микроскопии. Способ определения базовой фокальной плоскости включает определение реперной метки, напечатанной на поверхности покровного стекла или поверхности предметного стекла; сканирование покровного стекла или предметного стекла оптическим микроскопом для создания обзорной сканограммы; определение местоположения реперных меток, напечатанных на покровном стекле или предметном стекле, на основе обзорной сканограммы; фокусировку оптического микроскопа на реперной метке для вычисления фокусного расстояния реперной метки; и вычисление базовой фокальной плоскости, определяющей поверхность покровного стекла или поверхность предметного стекла, на основании фокусного расстояния реперной метки.
Изобретение относится к системам и способу спектрального анализа. Разработан планшет для размещения образцов для инфракрасного спектрального анализа, содержащий: подложку, образующую множество лунок, углубленных относительно ее поверхности, причем каждая из лунок образует участок образца, углубленный на глубину образца от указанной поверхности, и участок желоба, углубленный на глубину желоба от указанной поверхности, причем глубина желоба больше, чем глубина образца, и при этом глубина образца составляет 0,004-0,012 мм ± 0,002 мм; и где подложка изготовлена из материала, который по существу не вступает в реакцию с эталонным образцом и/или образцом, находящимся в лунках, и при этом подложка пропускает электромагнитное излучение.
Изобретение относится к области оптического приборостроения, нанотехнологий в оптике, в частности к области микроскопических исследований биологических объектов, клеток крови и т.д. Устройство микроскопного покровного стекла включает покровное стекло, на заднюю поверхность которого нанесена одна или более микролинз.