Системы, использующие "муаровый край" (G02B27/60)
G02B27/60 Системы, использующие "муаровый край" (средства для преобразования выходного сигнала чувствительного элемента с помощью дифракционных решеток G01D5/38)(18)
Изобретение относится к оптическим материалам, способным создавать ряд визуальных эффектов. Однослойная система проецирования изображений для проецирования одного или более изображений включает структуру отражающих дугообразных элементов, имеющих верхнюю дугообразную поверхность, нижнюю поверхность и ограниченную верхней дугообразной и нижней поверхностями дугообразную зону, а также отражающий узор из рельефных микроструктур изображений, расположенных по крайней мере на некоторых из верхних дугообразных поверхностей дугообразных элементов или внутри них.
Способ анализа для получения фазовой информации путем анализа периодической структуры муара содержит этапы: подвергания периодической структуры муара оконному преобразованию Фурье с помощью оконной функции; отделения информации о первом спектре, содержащем фазовую информацию, от информации о втором спектре, наложенной на информацию о первом спектре для получения фазовой информации с использованием аппроксимации каждой из форм первого и второго спектров в форму предварительно заданной функции.
Изобретение относится к области защитных технологий для защиты от подделки удостоверяющих документов, кредитных карт, банкнот и ценных бумаг, включающих пластиковые структуры с защитными признаками. .
Изобретение относится к измерительной технике, к устройствам для определения формы и перемещений поверхности объекта. .
Изобретение относится к линзовому устройству. .
Изобретение относится к оптическому приборостроению, в частности к оптике и лазерной технике, может быть использовано в оптико-механической промышленности для изготовления объективов с малыми аберрациями и большим динамическим диапазоном освещенностей.
Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано в технологии ионной и ионнохимической обработки материалов при производстве оптических деталей, элементов полупроводниковой микроэлектроники и интегральной оптики.