Конструктивные элементы устройств, использующих метод сканирующего зонда (G12B21)
G Физика(403185)
G12 Конструктивные элементы приборов(650)
G12B21 Конструктивные элементы устройств, использующих метод сканирующего зонда(45)
G12B21/02 - Зонды(6)
G12B21/04 - Зонды с туннельным эффектом(1)
G12B21/06 - Оптические зонды ближнего действия(1)
G12B21/08 - Атомные силовые зонды(4)
G12B21/20 - Устройства для сканирования или позиционирования(12)
G12B21/22 - Конструкционные детали(2)
Сканирующий зондовый микроскоп // 2366008
Изобретение относится к измерительной технике, а именно к сканирующим зондовым микроскопам атомарного разрешения, предназначенным для обучения неподготовленных пользователей. .
Многокоординатная метрологическая платформа // 2365953
Изобретение относится к областям техники, связанным с прецизионными координатными измерениями геометрии и локальных свойств материала нано- и микроструктур, протяженных в горизонтальном направлении, в частности интегральных микросхем, микроэлектромеханических систем и наномеханизмов.
Изобретение относится к области микросистемной техники и может быть использовано при создании сенсоров, функционирующих на основе туннельного эффекта, обеспечивающих преобразование «перемещение-электрический сигнал», в информационных системах мониторинга для прогнозирования, диагностики и контроля воздействий ударных волн и акустических колебаний на различные конструкции, транспортные средства, промышленные здания и сооружения, температуры, для создания сверхчувствительных микрофонов и диагностического медицинского оборудования.
Зонд для атомного силового микроскопа // 2356110
Изобретение относится к области атомных силовых микроскопов и зондам, применяемым в указанных микроскопах. .
Изобретение относится к механическому осциллятору, который определяет начальную точку кантилевера на переднем крае основы и может определять длину кантилевера без зависимости от точности выравнивания и величины травления, и способу изготовления механического осциллятора.
Острийная структура для сканирующих приборов, способ ее изготовления и приборы на ее основе // 2349975
Изобретение относится к прецизионному интструментарию для научных и производственно-технологических работ. .
Сканирующий зондовый микроскоп // 2334214
Способ измерения рельефа поверхности объекта с использованием сканирующего зондового микроскопа // 2329465
Изобретение относится к области сканирующей зондовой микроскопии. .
Изобретение относится к области сканирующей зондовой микроскопии и может использоваться на любом приборе из семейства сканирующих зондовых микроскопов, возможно также применение способа на растровом электронном микроскопе.
Изобретение относится к зонду для зондового микроскопа с использованием прозрачной подложки, в котором кантилевер может быть оптически возбужден и измерен, и к способу изготовления зонда, и к зондовому устройству микроскопа.
Изобретение относится к конструкции зонда для сканирующего зондового микроскопа. .
Изобретение относится к способам и устройствам для измерения частоты колебаний мультикантилевера. .
Нанотехнологический комплекс // 2308782
Изобретение относится к нанотехнологическому оборудованию и предназначено для замкнутого цикла производства новых изделий наноэлектроники. .
Изобретение относится к области нанометрологии и калибровочным структурам, а именно к устройствам, обеспечивающим наблюдение и измерение геометрической формы игл сканирующего зондового микроскопа, в том числе атомно-силовых микроскопов и сканирующих туннельных микроскопов.
Двухкоординатный микропозиционер // 2306621
Изобретение относится к нанотехнологии, а именно к устройствам, обеспечивающим перемещение объекта в плоскости по двум координатам, и может быть использовано для перемещения образцов, носителей образцов, носителей зондов и других элементов в сканирующей зондовой микроскопии.
Изобретение относится к области сканирующей зондовой микроскопии, а более конкретно, к устройствам, обеспечивающим наблюдение, измерение и модификацию поверхности объектов. .
Изобретение относится к нанотехнологии, а более конкретно к устройствам, обеспечивающим получение информации о топологии и других свойствах поверхности объекта. .
Изобретение относится к нанотехнологии, а именно к устройствам, обеспечивающим получение информации о состоянии поверхности с использованием сканирующей зондовой микроскопии. .
Изобретение относится к нанотехнологии, более конкретно к устройствам, обеспечивающим получение информации о состоянии поверхности с использованием сканирующей зондовой микроскопии. .
Изобретение относится к устройствам, обеспечивающим наблюдение в безапертурных оптических микроскопах ближнего поля для получения локально усиленных спектров ГКР. .
Зонд для сканирующей емкостной микроскопии // 2289862
Изобретение относится к сканирующей зондовой микроскопии, а более конкретно к системам измерения емкости между зондом и образцом из металла или полупроводника, покрытого тонким слоем диэлектрика. .
Устройство для микроперемещений объекта // 2284642
Изобретение относится к области научного приборостроения и предназначено для использования в сканирующих зондовых микроскопах и нанотехнологических установках для перемещения. .
Изобретение относится к измерительной технике, а именно к способам измерения с помощью сканирующего зондового микроскопа рельефа, линейных размеров и физических характеристик поверхности объектов в режимах сканирующего туннельного микроскопа, атомно-силового микроскопа, близкопольного оптического микроскопа и др.
Устройство перемещения // 2282258
Изобретение относится к нанотехнологии, а более конкретно к устройствам перемещения по трем координатам. .
Сканирующий зондовый микроскоп, совмещенный с устройством модификации поверхности объекта // 2282257
Изобретение относится к измерительной технике, а именно к устройствам измерения с помощью сканирующего зондового микроскопа рельефа, линейных размеров и физических характеристик поверхности объектов в режимах сканирующего туннельного микроскопа, атомно-силового микроскопа и близкопольного оптического микроскопа.
Криогенный сканирующий зондовый микроскоп // 2271583
Изобретение относится к измерительной технике, а более конкретно к приборам для исследования образцов на атомарном уровне в условиях сверхнизких температур. .
Изобретение относится к нанотехнологическому оборудованию. .
Устройство электростатического возбуждения кантилевера в сканирующей зондовой микроскопии // 2259607
Изобретение относится к области сканирующей зондовой микроскопии и. .
Координатный стол // 2254640
Изобретение относится к нанотехнологии, а более конкретно к устройствам, обеспечивающим перемещения объекта по трем координатам (X, Y, Z) и точную повторяемость положений объекта при его переустановке, например для перемещения образцов, держателей образцов, зондов и других элементов в сканирующей зондовой микроскопии.
Криогенный ввод // 2254622
Силовой зонд на основе кварцевого резонатора // 2251071
Изобретение относится к нанотехнологическому оборудованию, а именно к устройствам, обеспечивающим получение информации о поверхности образцов и модификацию поверхности образцов в туннельном и атомно-силовом режимах в сканирующем зондовом микроскопе (СЗМ).
Изобретение относится к сканирующим зондовым микроскопам, к устройствам, обеспечивающим взаимные перемещения зонда и сканируемого образца. .
Изобретение относится к области сканирующей зондовой микроскопии. .
Изобретение относится к сканирующей зондовой микроскопии. .
Изобретение относится к области сканирующей зондовой микроскопии, а более конкретно к устройствам, обеспечивающим наблюдение, измерение и модификацию поверхности объектов. .
Изобретение относится к нанотехнологии, а более конкретно к устройствам, обеспечивающим съем оптической информации с поверхности тел с использованием сканирующего зондового микроскопа (СЗМ). .
Изобретение относится к контрольно-измерительной технике и может быть использовано для измерения физико-механических параметров среды и для неразрушающего контроля диагностируемых объектов. .
Изобретение относится к нанотехнологии, в частности к устройствам, обеспечивающим анализ поверхности образцов в жидкостной среде с использованием методов сканирующей зондовой микроскопии. .
Изобретение относится к нанотехнологии, в частности к устройствам, обеспечивающим анализ поверхности образцов с использованием жидкостных ячеек методом сканирующей зондовой микроскопии. .
Изобретение относится к нанотехнологии, в частности к устройствам переноса зондов в высоковакуумных комплексах между различными технологическими модулями с использованием сканирующих зондовых микроскопов (СЗМ).
Изобретение относится к нанотехнологии, а более конкретно - к устройствам, обеспечивающим получение информации о магнитном состоянии поверхности с использованием сканирующей зондовой микроскопии. .
Сканер термокомпенсированный // 2169401
