Приборов, в которых полупроводниковые подложки содержат оксид или йодид меди (H01L21/16)

H01L21/16              Приборов, в которых полупроводниковые подложки содержат оксид или йодид меди(11)

Оптический способ контроля редкоземельных примесей в монокристаллических ферритах-гранатах // 2210835
Изобретение относится к физике твердого тела, в частности к магнитооптике, оптической спектрофотометрии. .
 
.
Наверх