С внедрением ионов (H01L21/425)

H01L21/425              С внедрением ионов (трубки с ионным пучком для локальной обработки H01J37/30)(8)

Способ изготовления дифракционной решетки // 2544873
Изобретение относится к оптике. Способ изготовления дифракционной решетки заключается в формировании на поверхности исходной подложки элементов заданной структуры дифракционной решетки путем ионной имплантации через поверхностную маску, при этом имплантацию осуществляют ионами металла с энергией 5-1100 кэВ, дозой облучения, обеспечивающей концентрацию вводимых атомов металла в облучаемой подложке 3·1020-6·1022 атомов/см3, плотностью тока ионного пучка 2·1012-1·1014 ион/см2с в оптически прозрачную диэлектрическую или полупроводниковую подложку.

Ферромагнитный полупроводниковый материал // 2515426
Изобретение относится к области материалов полупроводниковой электроники и может быть использовано для создания элементов спинтронных устройств, сочетающих источник и приемник поляризованных спинов носителей заряда в тройной гетероструктуре ферромагнитный полупроводник/немагнитный полупроводник/ферромагнитный полупроводник.

Способ получения ферромагнитного полупроводникового материала // 2361320
Изобретение относится к технологии получения ферромагнитных полупроводниковых материалов. .

Способ получения слоев n-типа проводимости в образцах cdx hg1-xte р-типа // 2035804
Изобретение относится к полупроводниковой технике, в частности к производству фотоприемных устройств, линеек, матриц, МДП-фотодиодов, приборов зарядовой связи и инжекции ИК-диапазона. .

Способ создания на образцах cdxhg1-xte p-типа структур с глубококомпенсированным слоем // 2023326
Изобретение относится к полупроводниковой технике, в частности к фотоэлектронике и может быть использовано для создания многоэлементных ИК-фотоприемников на основе n+/n-p- или n+/p-/p- и МДП-фотодиодов, а также приборов зарядовой связи (ПЗС) или инжекции (ПЗИ).
 
.
Наверх