Получение скрытых подложек с большим содержанием примесей, например скрытых коллекторных слоев, внутренних соединений (H01L21/74)

H01L21/74              Получение скрытых подложек с большим содержанием примесей, например скрытых коллекторных слоев, внутренних соединений(1)

Способ изготовления структур кремниевых интегральных схем с диэлектрической изоляцией компонентов // 1222149
Изобретение относится к производству полупроводниковых микросхем, в частности к изготовлению структур высоковольтных кремниевых интегральных схем с диэлектрической изоляцией компонентов. .
 
.
Наверх