Получение скрытых подложек с большим содержанием примесей, например скрытых коллекторных слоев, внутренних соединений (H01L21/74)
H01L21/74 Получение скрытых подложек с большим содержанием примесей, например скрытых коллекторных слоев, внутренних соединений(1)
Изобретение относится к производству полупроводниковых микросхем, в частности к изготовлению структур высоковольтных кремниевых интегральных схем с диэлектрической изоляцией компонентов. .