Метки, наносимые на полупроводниковые приборы, например регистрационные метки, контрольные рисунки (H01L23/544)
H01L23/544 Метки, наносимые на полупроводниковые приборы, например регистрационные метки, контрольные рисунки(1)
Изобретение может быть использовано для гибридизации матричных фотоприемных устройств (МФПУ) методом перевернутого монтажа. Способ повышения точности контроля качества стыковки БИС считывания и матрицы фоточувствительных элементов (МФЧЭ) включает установку состыкованного модуля в держатель под небольшим углом к оптической оси объектива микроскопа так, чтобы в поле зрения микроскопа появились сфокусированные действительное изображение края МФЧЭ и мнимое изображение того же края МФЧЭ, зеркально отображенное от плоскости БИС считывания.
Использование: для создания лазерного прибора. Сущность изобретения заключается в том, что лазерный прибор содержит от двух до шести мезаструктур, обеспеченных на одном полупроводниковом кристалле, причем мезаструктуры электрически соединены параллельно так, что мезаструктуры выполнены с возможностью испускания лазерного излучения в одно и то же время, если на мезаструктуры подано заданное пороговое напряжение, причем лазерный прибор дополнительно содержит драйвер для электрического возбуждения мезаструктур, причем драйвер выполнен с возможностью подачи заданного порогового напряжения на мезаструктуры, причем полупроводниковый кристалл имеет длину стороны менее 250 мкм.
Изобретение относится к способам защиты носителя данных от несанкционированного использования и подделки. .