Электронные или ионные микроскопы, трубки с дифракцией электронов или ионов (H01J37/26)
H Электричество(232322)
H01J Электрические газоразрядные и вакуумные электронные приборы и газоразрядные осветительные лампы (искровые разрядники H01T; дуговые лампы с расходуемыми электродами H05B; ускорители элементарных частиц H05H)
(10498)
H01J37 Разрядные приборы с устройствами для ввода объектов или материалов, подлежащих воздействию разряда, например с целью их исследования или обработки (H01J33,H01J40,H01J41,H01J47,H01J49 имеют преимущество; исследование или анализ поверхностных структур на атомном уровне с использованием техники сканирующего зонда G01N13/10, например растровая туннельная микроскопия G01N13/12; бесконтактные испытания электронных схем с использованием электронных пучков G01R31/305; детали устройств, использующих метод сканирующего зонда вообще G12B21)
(805)
H01J37/26 Электронные или ионные микроскопы, трубки с дифракцией электронов или ионов(189)
Изобретение относится к области растровой электронной микроскопии. В изобретении используется принцип фотограмметрической обработки изображений, полученных в растровом электронном микроскопе при различных углах наклона исследуемого образца.
Способ исследования угла оптического края и профиля задней поверхности интраокулярных линз // 2692996
Изобретение относится к медицине, а именно к офтальмологии, и может быть использовано для исследования угла оптического края и профиля задней поверхности интраокулярных линз (ИОЛ). Выделяют в водной среде параллельными разрезами из оптической части ИОЛ фрагменты толщиной 1 мм.
Способ визуализации ротационного искривления решетки нанотонких кристаллов включает получение электронно-микроскопического изображения нанотонкого кристалла в светлом и темном поле, получение электронограммы от кристалла, микродифракционное исследование, анализ картины изгибных экстинкционных контуров, присутствующих на электронно-микроскопическом изображении кристалла, расчет углов поворота решетки кристалла вокруг [001].
Высокочастотный электронно-ионный микроскоп // 2551651
Изобретение относится к системам электронно-ионной оптики и предназначено для изучения структуры вещества путем просвечивания его мощным потоком заряженных частиц. Высокочастотный электронно-ионный микроскоп состоит из вакуумной камеры и находящихся в ней источника заряженных частиц, исследуемого объекта, апертурной диафрагмы, флуоресцирующего экрана.
Изобретение относится к области калибровки просвечивающих электронных микроскопов (ПЭМ) при измерениях в нано- и субнанометровом диапазонах. Тестовый объект выполнен в виде держателя образцов с несколькими местами крепления исследуемых объектов, в одном из которых расположена эталонная структура, выполненная в виде тонкого поперечного среза кремниевой структуры с периодической рельефной поверхностью, имеющей известное межплоскостное расстояние и известные размеры трапециевидных элементов рельефа.
Изобретение относится к нанотехнологическому оборудованию и предназначено для замкнутого цикла производства новых изделий наноэлектроники. .
Сверхвысоковакуумная транспортная система // 2380785
Изобретение относится к вакуумной технике и предназначено для проведения операций по перемещению объектов внутри вакуумных систем. .
Электронный микроскоп // 2313850
Изобретение относится к микробиологии и может применяться при профилактике инфекционных болезней. .
Нанотехнологический комплекс // 2308782
Изобретение относится к нанотехнологическому оборудованию и предназначено для замкнутого цикла производства новых изделий наноэлектроники. .
Изобретение относится к области научного приборостроения и может быть использовано при выпуске просвечивающих электронных микроскопов. .
Изобретение относится к сканирующей туннельной спектроскопии и может быть использовано в зондовых микроскопах и приборах на их основе. .
Изобретение относится к способам получения изображений в растровой электронной микроскопии. .
Способ и устройство контроля и исследования поверхности внутри ядерных и термоядерных установок // 2169954
Изобретение относится к ядерной технике, в частности к исследованию материалов, подвергающихся воздействию радиации. .
Изобретение относится к нанотехнологическому оборудованию, к устройствам, обеспечивающим транспортировку и установку зондов и образцов в позиции измерения и функционального воздействия. .
Сканирующий туннельный микроскоп // 2018188
Изобретение относится к электронным приборам, предназначенным для исследования физических свойств поверхностей твердых тел при сверхнизких температурах с разрешающей способностью порядка размеров атома.
Изобретение относится к микроскопии и может быть использовано в растровой электронной и оптической микроскопии, а также в электроннои ионнолучевой литографии . .
Способ приготовления микросеток // 1749947
Сканирующий туннельный микроскоп // 1698914
Изобретение относится к электронной микроскопии и может быть использовано при исследованиях свойств и поверхности при низких температурах. .
Анализатор энергий электронов // 1661869
Изобретение относится к области электроннолучевой техники и может быть использовано в растровой электронной микроскопии. .
Изобретение относится к электронной микроскопии и может быть использовано для локального количественного контроля и анализа параметров сверхбольших интегральных схем при их изгртовлении„ Цель изобретения - упрощение конструкции и повышение надежности о Устройство содержит зондовую карту 5, в которой установлено кольцо 6 с зондирующими иглами 7„ Подъемник выполнен в виде кольцевого элемента 9 с гофрированными стенками, наполненного жидкостью или газом, соединенного с терморегулирующим элементом 10„Элемент 9 может быть выполнен в виде полого кольца из материала, обладающего термомеханической памятью, стенки которого имеют по крайней мере один гофр.
Изобретение относится к устройствам для исследования микроструктуры и топографии твердых тел. .
Изобретение относится к области микрозондовой техники и может быть использовано в электронной микроскопии. .
Способ локального катодолюминесцентного анализа твердых тел и устройство для его осуществления // 1569910
Изобретение относится к области электронной микроскопии и может быть использовано для микроанализа поверхности твердых тел методом катодолюминесценции. .
Сканирующий туннельный микроскоп // 1564702
Изобретение относится к электронным приборам, предназначенным для исследования физических свойств поверхностей твердых тел с разрешающей способностью порядка размеров атома. .
Перемагничивающее устройство для термомагнитных исследований в просвечивающем электронном микроскопе // 1531182
Изобретение относится к электронной микроскопии и может быть использовано для исследования доменной структуры и измерения статических магнитных характеристик тонких магнитных пленок. .
Растровый туннельный микроскоп // 1471232
Изобретение относится к технике измерений и может использоваться для контроля структуры поверхностей. .
Счетчик аэроионов // 1469433
Изобретение относится к приборам для измерения концентрации легких ионов в воздухе производственных или общественных помещений и может быть применено в медицине, а также в различных отраслях народного хозяйства .
Сканирующий туннельный микроскоп // 1453475
Изобретение относится к электронным приборам для исследования физических свойств поверхностей твердых тел. .
Электронный микроскоп // 1415269
Способ наблюдения цмд-структур // 1396025
Изобретение относится к области исследования материалов с помощью радиационных методов и может быть использовано для получения изображения доменносодержащих материалов. .
Изобретение относится к области электронной микроскопии и может быть использовано для исследования магнитных полей на магнитных лентах.Цель - расширение функциональных возможностей способа электронно-микроскопического анализа намагниченности магнитной ленты за счет визуализации изображения магнитной сигналограммы, записанной на магнитной ленте.
Изобретение относится к области микрозондовой техники и является усовершенствованием известного способа юстировки электромагнитной зондофор . .
Изобретение относится к области электронно-микроскопического приборостроения и может быть использовано для прецизионного перемещения образца . .
Изобретение относится к растровой электронной микроскопии. .
Изобретение относится к области исследования физических и химических свойств веществ, в частности к технике препарирования объектов, и может быть использовано в просвечивающей электронной микроскопии при исследовании гигроскопических образцов .
Изобретение относится к электронно-оптическому приборостроению. .
Электронный микроскоп // 1243046
Изобретение относится к электрозондовым устройствам для наблюдения и регистрации изображения, в частности к электронным микроскопам просвечиваемого типа. .
Изобретение относится к электронной микроскопии и может быть исрользовано йрй разработке стробо4-4i---4f скопических электронных микроскопов для исследования быстропротекающих процессов в твердом теле. .
Диодный микроскоп // 1201919
Изобретение относится к области микроскопии и может быть использовано для анализа проводящих микрообъектов. .
Электронно-зондовое устройство // 1112436
Просвечивающий электронный микроскоп // 1035679
Электронный микроскоп // 1023445
