Со сканирующими лучами (H01J37/28)

H01J     Электрические газоразрядные и вакуумные электронные приборы и газоразрядные осветительные лампы (искровые разрядники H01T; дуговые лампы с расходуемыми электродами H05B; ускорители элементарных частиц H05H) (10498)
H01J37        Разрядные приборы с устройствами для ввода объектов или материалов, подлежащих воздействию разряда, например с целью их исследования или обработки (H01J33,H01J40,H01J41,H01J47,H01J49 имеют преимущество; исследование или анализ поверхностных структур на атомном уровне с использованием техники сканирующего зонда G01N13/10, например растровая туннельная микроскопия G01N13/12; бесконтактные испытания электронных схем с использованием электронных пучков G01R31/305; детали устройств, использующих метод сканирующего зонда вообще G12B21) (805)
H01J37/28                     Со сканирующими лучами (микроанализаторы со сканирующими лучами H01J37/256)(114)

Способ и система выравнивания изображений слоёв образца, полученных с помощью растрового электронного микроскопа с фокусированным ионным пучком // 2743231
Изобретение относится к способам обработки изображений и предназначено для выравнивания изображений слоев, полученных с помощью растрового электронного микроскопа с фокусированным ионным пучком, для последующего построения трехмерной модели образца.

Способ трехмерной реконструкции поверхности образца по изображениям, полученным в растровом электронном микроскопе // 2704390
Изобретение относится к области растровой электронной микроскопии. В изобретении используется принцип фотограмметрической обработки изображений, полученных в растровом электронном микроскопе при различных углах наклона исследуемого образца.

Способ количественной трехмерной реконструкции поверхности образца в растровом электронном микроскопе // 2657000
Изобретение относится к области растровой электронной микроскопии. В изобретении используется принцип фотограмметрической обработки изображений, полученных в растровом электронном микроскопе при различных углах наклона исследуемого образца.

Электрохимический сканирующий туннельный микроскоп // 2638941
Изобретение направлено на создание электрохимического цифрового сканирующего туннельного микроскопа. Технический результат - повышение точности, производительности и надежности измерений, а также расширение функциональных возможностей при исследовании электрохимических процессов.

Устройство механического перемещения для сканирующего зондового микроскопа // 2629538
Изобретение относится к точной механике и может быть использовано для сближения зонда и образца в сканирующей зондовой микроскопии. Сущность изобретения заключается в том, что в устройстве механического перемещения для сканирующего зондового микроскопа, содержащем основание 1, СЗМ головку 2, оснащенную первой опорой 3, второй опорой 4, третьей опорой 5, при этом первая опора 3 сопряжена с основанием 1 и снабжена первым приводом 6, установленным на СЗМ головке 2, а вторая опора 4 и третья опора 5 также сопряжены с основанием, вторая опора 4 снабжена вторым приводом 7, установленным на СЗМ головке 2, и третья опора 5 снабжена третьим приводом 8, установленным на СЗМ головке 2.

Способ количественной трехмерной реконструкции поверхности кремниевых микро- и наноструктур // 2622896
Изобретение относится к области растровой электронной микроскопии. В изобретении используется принцип фотограмметрической обработки изображений, полученных в растровом электронном микроскопе при различных углах наклона исследуемого объекта.

Способ определения рельефа поверхности // 2479063
Изобретение относится к измерительной технике. .

Сканирующий туннельный микроскоп // 2465676
Изобретение относится к области приборостроения. .

Способ томографического анализа образца в растровом электронном микроскопе // 2453946
Изобретение относится к растровой электронной микроскопии и может быть использовано для неразрушающего послойного тестирования образцов, в частности изделий микро- и наноэлектроники. .

Способ измерения температуры наночастицы // 2431151
Изобретение относится к области нанотехнологий, в частности к измерению температуры одной проводящей (металлической или полупроводниковой) наночастицы с помощью сканирующего туннельного микроскопа, работающего в режиме наноконтакта и использование эффекта Зеебека в наноразмерной контактной области.

Способ исследования поверхности твердого тела туннельным микроскопом // 2358352
Изобретение относится к исследованию микрорельефа как проводящих, так и непроводящих поверхностей образцов твердых тел. .

Электромагнитный фильтр для разделения электронных пучков // 2305345
Изобретение относится к растровой электронной микроскопии и, в частности, к электромагнитным фильтрам, предназначенным для пространственного разделения пучков первичных и вторичных электронов. .

Инерционный двигатель // 2297072
Изобретение относится к устройствам механического перемещения объекта вдоль одной координаты. .

Сканирующий туннельный микроскоп // 2296387
Изобретение относится к сканирующей туннельной спектроскопии и может быть использовано для получения топографии проводящих поверхностей, а также изучения физико-технологических свойств твердых тел. .

Способ определения нанорельефа подложки // 2280853
Изобретение относится к области машиностроения, а более конкретно к способам определения нанорельефа поверхности. .

Способ получения ионного луча // 2219618
Изобретение относится к электронике, а более конкретно к способам получения ионного луча. .

Сканирующий туннельный микроскоп // 2218629
Изобретение относится к области научного приборостроения и может быть использовано для получения топографии проводящих поверхностей, а также для изучения физико-технологических свойств твердых тел. .

Способ визуализации изображений объектов, эмитирующих заряженные частицы, и устройство для реализации способа // 2210138
Изобретение относится к области электронных приборов, в частности к эмиссионным видеоустройствам. .

Способ получения электронного луча // 2208262
Изобретение относится к области электроники, а именно к способам получения электронного пучка. .

Тестовый объект для калибровки растровых электронных микроскопов // 2207503
Изобретение относится к области электронной микроскопии. .

Кантилевер для сканирующего зондового микроскопа // 2161344
Изобретение относится к нанотехнологическому оборудованию, а именно к устройствам, обеспечивающим наблюдение, изменение и модификацию поверхности объектов в туннельном и атомно-силовых режимах. .

Сверхвысоковакуумный сканирующий зондовый микроскоп // 2161343
Изобретение относится к нанотехнологическому оборудованию, к устройствам, обеспечивающим наблюдение, измерение и модификацию поверхности объектов в туннельном и атомно-силовом режимах. .

Сканирующий зондовый микроскоп // 2159454
Изобретение относится к нанотехнологическому оборудованию, к устройствам, обеспечивающим наблюдение, измерение и модификацию поверхности объектов в режиме сканирующего туннельного микроскопа (СТМ) или атомно-силового микроскопа (АСМ).

Кантилевер для сканирующего зондового микроскопа // 2153731
Изобретение относится к нанотехнологическому оборудованию, а именно к устройствам, обеспечивающим наблюдение, изменение и модификацию поверхности объектов в туннельном и атомно-силовом режимах. .

Сверхвысоковакуумный сканирующий зондовый микроскоп // 2152103
Изобретение относится к нанотехнологическому оборудованию, к устройствам, обеспечивающим наблюдение, измерение и модификацию поверхности объектов в туннельном и атомно-силовом режимах в условиях сверхвысокого вакуума и в широком диапазоне температур.

Сканирующий зондовый микроскоп // 2152063
Изобретение относится к нанотехнологическому оборудованию, к устройствам, обеспечивающим наблюдение, измерение и модификацию поверхности в многоигольчатом комплексном режиме работы. .

Кантилевер для сканирующего зондового микроскопа // 2124780
Изобретение относится к нанотехнологическому оборудованию, а именно к устройствам, обеспечивающим наблюдение, измерение и модификацию поверхности объектов в туннельном и атомно-силовом режимах. .

Многозондовый кантилевер для сканирующего зондового микроскопа // 2124251
Изобретение относится к нанотехнологическому оборудованию, а более конкретно к устройствам, обеспечивающим наблюдение, измерение и модификацию поверхности объектов в туннельном и атомно-силовом режимах.

Способ визуализации на экране изображений исследуемых объектов и устройство для реализации способа // 2101800
Изобретение относится к электронным вакуумным приборам, в частности к эмиссионным микроскопам и видеоусилителям, и раскрывает способ визуализации и увеличения изображений исследуемых объектов. .

Способ исследования поверхности микрообъектов и устройство для его реализации // 2092863
Изобретение относится к области исследования поверхностных слоев вещества методами СВЧ и сканирующей туннельной спектроскопии. .

Комбинированный сканирующий туннельный микроскоп - растровый электронный микроскоп // 2089968
Изобретение относится к научному приборостроению и может быть использовано в приборах для топографии и анализа состава поверхности. .

Устройство для исследования поверхности проводящих образцов // 2077091
Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано в исследовательских и технологических установках для контроля рельефа поверхностей и локального воздействия на них. .

Способ определения топографии поверхности вещества посредством сканирующего туннельного микроскопа // 2072581
Изобретение относится к области приборостроения, в частности, к сканирующей туннельной микроскопии (СТМ), используемой для исследования поверхности проводящих веществ. .

Детектор обратно-отраженных электронов для растрового электронного микроскопа // 2069412
Изобретение относится к области растровой электронной микроскопии (РЭМ). .

Способ изготовления зондирующего эмиттера для туннельной микроскопии // 2058612
Изобретение относится к эмиссионной электронике и предназначено главным образом для изготовления микроострий-зондов для туннельных микроскопов, а также точечных автоэлектронных источников и образцов для автоэмиссионной микроскопии.

Микроманипулятор для позиционирования зонда // 2056666
Изобретение относится к устройствам, предназначенным для точного дистанционного позиционирования зонда, и может быть использовано в приборах для локального анализа поверхностей, например в туннельном или атомно-силовом микроскопе.

Способ диагностики диэлектрического слоя на проводящей поверхности // 2047930
Изобретение относится к методам исследования тонких пленок и поверхности твердого тела, в частности адсорбированных слоев, находящихся в равновесии с газовой фазой при высоких давлениях. .

Импульсная система для электронно-лучевых микрозондовых приборов // 2019885
Изобретение относится к импульсной технике и может быть использовано в электронно- и ионнолучевых микрозондовых системах. .

Корпускулярно-лучевой тестер // 2019884
Изобретение относится к контрольно-измерительной технике, в частности к диагностическим электронно- и ионно-лучевым системам, и может быть использовано для анализа работоспособности БИС. .

Способ контроля проводящей поверхности // 2019883
Изобретение относится к электронной технике, в частности к способам контроля качества проводящей поверхности, которые основаны на явлении туннелирования электронов между поверхностью и подводимым к ней острийным электродом малого радиуса и позволяют контролировать рельеф поверхности.
 
.
Наверх