С использованием поверхностной ионизации, например холодная эмиссия, термоионная эмиссия или фотоэмиссия (H01J49/16)

H01J     Электрические газоразрядные и вакуумные электронные приборы и газоразрядные осветительные лампы (искровые разрядники H01T; дуговые лампы с расходуемыми электродами H05B; ускорители элементарных частиц H05H) (10498)
H01J49/16                     С использованием поверхностной ионизации, например холодная эмиссия, термоионная эмиссия или фотоэмиссия(4)

Очистка источника ионов на основе коронного разряда // 2758103
Изобретение относится к области спектрометрии. Технический результат – повышение эффективности работы коронирующего устройства.

Способ и устройство для покрытого оболочкой источника ионизации коронного разряда // 2693560
Изобретение относится к области спектрометрии. Источник ионизации коронного разряда содержит тонкий провод, содержащий жилу, содержащую первый материал, и оболочку, содержащую второй материал, причем оболочка провода окружает часть жилы провода, а диаметр оболочки провода больше, чем диаметр жилы провода.

Очистка источника ионов на основе коронного разряда // 2652979
Изобретение относится к области спектрометрии. Описываются системы и способы для очистки коронирующего острия.

Способ и приспособление для выработки положительно и/или отрицательно ионизированных анализируемых газов для анализа газов // 2426983
Изобретение относится к способу и приспособлению для выработки положительно и/или отрицательно ионизированных анализируемых газов для анализа газов в спектрометре ионной подвижности или в масс-спектрометре.

Ленточный ионизатор ионного источника масс-спектрометра // 2282267
Изобретение относится к области масс-спектрометрии и может быть использовано для изотопного анализа твердых материалов. .
Способ получения ионных пучков щелочных металлов // 2148870
Изобретение относится к получению ионных пучков и может быть использовано в ускорительной технике, масс-спектрометрии и т.п. .

Способ послойного анализа твердых веществ // 1257725
Изобретение относится к области масс-спектрометрии вторичных ионов. .
 
.
Наверх