С использованием магнитных анализаторов (H01J49/30)
H01J49/30 С использованием магнитных анализаторов(26)
Изобретение относится к области масс-спектрометрии и может быть использовано для совершенствования аналитических, эксплуатационных и коммерческих характеристик приборов микроанализа вещества, использующих движение ионов в квадрупольных высокочастотных электрических полях.
Изобретение относится к технической физике и может быть использовано для анализа состава материалов и веществ. .
Изобретение относится к ядерной технике. .
Изобретение относится к области масс-спектрометрии, в частности к способам измерения ионных токов мультиплетов масс в магнитных масс-спектрометрах. .
Изобретение относится к физической электронике , в частности к приборам для анализа состава пучков ускоренных ионов путем измерения их отношения массы к заряду. .
Изобретение относится к физической электронике, в частности к разделению пучков ускоренных ионов. .
Изобретение относится к масс-спектрометрии и может быть использовано для определения химического или изотопного состава веществ. .
Изобретение относится к научному приборостроению, в частности к ионно-оптическим приборам для локального микроанализа методом масс-спектрометрии вторичных ионов, и может быть использовано для химического или изотопного анализа состава вещества, получения увеличенных изображений поверхности твердых тел в ионах выбранного типа, а также в технологии производства полупроводниковых материалов для легирования их ионами различной природы.
Изобретение относится к экспериментальной физике, в частности к экспериментальным методам физики космических лучей. .
Изобретение относится к области приборостроения и может быть использовано для элементного анализа твердых тел. .
Изобретение относится к области масс-спектрометрии. .
Изобретение относится к области масс-спектрометрии, в том числе к спектрометрии кинетических энергий ионов. .