С использованием магнитных анализаторов (H01J49/30)

H01J     Электрические газоразрядные и вакуумные электронные приборы и газоразрядные осветительные лампы (искровые разрядники H01T; дуговые лампы с расходуемыми электродами H05B; ускорители элементарных частиц H05H) (10498)
H01J49/30                     С использованием магнитных анализаторов(26)

Устройство масс-анализа ионов с квадрупольными полями с возбуждением колебаний на границе устойчивости // 2749549
Изобретение относится к области масс-спектрометрии и может быть использовано для совершенствования аналитических, эксплуатационных и коммерческих характеристик приборов микроанализа вещества, использующих движение ионов в квадрупольных высокочастотных электрических полях.

Масс-спектрометр ишкова // 2143110
Изобретение относится к технической физике и может быть использовано для анализа состава материалов и веществ. .

Устройство для разделения заряженных частиц по массам // 2133141
Изобретение относится к ядерной технике. .

Способ определения ионных токов мультиплетов масс в магнитном масс-спектрометре // 2064708
Изобретение относится к области масс-спектрометрии, в частности к способам измерения ионных токов мультиплетов масс в магнитных масс-спектрометрах. .

Масс-спектрометр // 1839274
Изобретение относится к физической электронике , в частности к приборам для анализа состава пучков ускоренных ионов путем измерения их отношения массы к заряду. .

Способ масс-спектрометрического анализа ионов // 1720108
Изобретение относится к физической электронике, в частности к разделению пучков ускоренных ионов. .

Призменный масс-спектрометр с многократным прохождением ионами магнитного поля // 1674290
Изобретение относится к масс-спектрометрии и может быть использовано для определения химического или изотопного состава веществ. .

Ионный микрозондовый анализатор // 1605288
Изобретение относится к научному приборостроению, в частности к ионно-оптическим приборам для локального микроанализа методом масс-спектрометрии вторичных ионов, и может быть использовано для химического или изотопного анализа состава вещества, получения увеличенных изображений поверхности твердых тел в ионах выбранного типа, а также в технологии производства полупроводниковых материалов для легирования их ионами различной природы.

Космический магнитный спектрометр // 1596401
Изобретение относится к экспериментальной физике, в частности к экспериментальным методам физики космических лучей. .

Масс-спектрометр // 1305795
Изобретение относится к области приборостроения и может быть использовано для элементного анализа твердых тел. .

Способ измерения масс-спектров в магнитном резонансном масс- спектрометре // 1218426
Изобретение относится к области масс-спектрометрии. .

Способ энергомасс-спектрального анализа состава веществ и устройство для его осуществления // 1178257
Изобретение относится к области масс-спектрометрии, в том числе к спектрометрии кинетических энергий ионов. .
 
.
Наверх