Способ нахождения оптической и электрической осей в гальке кварца

 

Класс 42h, 34 4 14849

ПЛТ : Т НЛ ИЗОБР1Т1НИ2

»»»»»»тюле»»»»»»»»»»»»»»»»м» х»»»а»

У

ОПИСАНИЕ способа нахождения оптической и злектрической осей в гальке кварца.

К патенту A. В. Шубникова и Г. Г. Яеммдейна, заявленному 11 июня

1929 года (ваяв. свид. ¹ 49024).

О выдаче патента опубликовано 31 марта 1930 года. Действие патента распространяется на 15 лет от 31 марта 1930 года.

Предмет патента.

Предлагаемое изобретение касается способа нахождения оптической и электрической осей в гальке кварца и состоит в следующем. Небольшим алмазным фрезером на случайном участке гальки, неимеющей кристаллографических очертаний, выбирается полусферическая ямка диаметром около 5 — 8 мм, тонко шлифуется наждаком и затем травится фтористоводородной кислотой. В обработанную таким путем ямку пускается параллельный пучек света, который, отражаясь от травленой поверхности ямки, дает на экране, поставленном пути лучи, так назыв. „звезду Брюстера". Изменяя положение гальки, можно получить нужную ориентировку ее оптической оси.

Изучая пьезоэлектрические свойства поверхности ямки прибором Мейснера, можно найти положение электрических осей.

Способ может применяться при изготовлении как оптических, так и пьезоз1лектрических кварцевых препаратов.

Сйособ нахождения оптической и электрической осей в гальке кварца, не имеющей кристаллографических очертаний, характеризующийся тем, что на произвольном участке гальки выбирают при помощи алмазного фрезера ямку диаметром около 5 — 8 мм, выбранную поверхность тонко шлифуют наждаком и травят фтористоводородной кислотой и, для нахождения оптической оси, в обработанную таким образом ямку направляют параллельный пучек световых лучей, который, отражаясь от травленой поверхности ямки, дает на экране, поставленном перпендикулярно пути лучей, „звезду Брюстера", при чем изменением положения гальки получают требуемую ориентировку ее оптической оси, для определения же направления электрических осей исследуют пьезоэлектрические свойства поверхности этой ямки.

Способ нахождения оптической и электрической осей в гальке кварца 

 

Похожие патенты:

Изобретение относится к оптическому приборостроению, а точнее к поляризационным приборам, предназначенным для измерения поляризационных характеристик света, прошедшего оптически активные и двулучепреломляющие вещества

Изобретение относится к области оптического приборостроения, в частности к приборам и оптическим системам, в которых кварцевая линза является одним из основных элементов: в оптической литографии, поляризационной технике

Изобретение относится к геолого-минералогическим методам исследования горных пород и руд и может быть использовано для восстановления термодинамических условий образования и последующих деформаций рудных и других геологических тел, а также для решения различных структурно-петрологических задач

Изобретение относится к лазерной спектроскопии и может быть использовано в спектрально аналитическом приборостроении и газоанализе

Изобретение относится к способам измерения оптических свойств материалов, в частности оптической анизотропии, и может быть использовано для изучения свойств оптически прозрачных сред, например полимерных пленок, кристаллов природных и искусственных материалов и др
Наверх