Устройство для измерения толщины немагнитных покрытий на изделиях из магнитных материалов

 

, :1 1Ц17-17

Класс 42h, 12I>,-t

ОССV

ОПИСАНИЕ ИЗОБРКТ НИЯ

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ

Б. И. Крепс

УСТРОЙСТВО ДЛЯ ИЗМЕРЕНИЯ ТОЛЩИНЫ НЕМАГНИТНЫХ

ПОКРЫТИЙ НА ИЗДЕЛИЯХ ИЗ МАГНИТНЫХ МАТЕРИАЛОВ

Заявлено 4 декабря 1954 r, за ¹ 12158/450423 и 51инистергтво черной металлургии ГССР

Известны устройства для из:5!ер«ния толщины немагнитных покрытий на магнитных материалах, выпо, шенные в виде электромагнитного датчика по типу трансформатора с открытой магнитной цепью и двумя обмсtками, одна из которы; питается переменным током, а в цепь другой вкл;счен измерительный прибор.

Трансформатор устанавливается ti;t поверхности контролируемогс изделия, которое замыкает магншт!!у!с цепь сердечника трансформатора.

В зависимости от BEcttt÷èitBI зазора между концами сердечника и изделии, определяемого толщиной немагнитного покрытия, меняется величина пере»teltttoro напряжения, индуктируемого во вторичной обмотке трансформатора.

Величина этого наиряже!шя зави«ит не только от толщ1шы слоя нем!1!.нитного покрытия, но также и от ма1чи5т;них свшютв самого изделия и от его размерсг, (To;Illiины).

Особенность предложенного, согласно изобретению, устройства состоит в том, что для исключения влияния размеров и материала исследуемого изделия на результат измерения то;пцины покрытия на нем, магнитопроводы датчиков выполнены в виде трубок с ншрокими фланцами, образ !О!цlи:5111 tl«et!!>«It да 1 чиков, д, IH яогс чтобы можно было предварит««!1,но всзавить исследуемое изделие в отверстие магнитопровод;! одного из датчиков и по напряженик7 в дифференциальной схеме установить необходимый для нами!пи! и ванпя издс,!ия ток.

На фиг. изображ tt предложенный датчик; 1!а фиг. 7 — пр!шципиальная электричс«кая «хема в««го устройств;:,.

Устройство пред!!аз1!!!чается, B с«1! ОВПО М, ДЛ 51 ICOIITP 0«t 5i ТОЛ ЩИН bl ПОКрытия на стальной проволоке. Сердечник 1 датчш.а тр;шсформатора н:5!ест форму катушки, «Осто5нцсй llз т!)убки «дву.1я IIittp!Bitt:lll фл1111ца—

>П! III! t»Otlll,ак. На «C рдег1ПИ :.С ! цены две обмотки — первичная 2 lt и;OP tt«It!151 8.

ПРп испыт t!Ill!I . 51!1Гни111251 llgttl»

«с!7;!«чника замыкает«я грез контролируе.;10е издс,ше 4 (ста«!ы1!!я нрсвсЛОКа, ПОК!7ЫТ!!и ПЕ»1<1ГIIIITtit»III 5!!ITC!)It;1«!Ом) . Для предв!1рит«7!ы!с!! настройки «хемы провоз!О1,!1 вводится внутрь отверстия трубки датчика, как

3TG изображено на фиг. 1, б.

Электрическая схема устрой«тьа состоит из понижающего трансформатора 5, трех трансформаторных датчиков 6, 7 и 8 с разомкнутым магЛ !01242 фц . l

Ф;и. 2

Г ф

Устройство для измерения толщины немагнитных покрытий на изделиях из магнитных материалов Устройство для измерения толщины немагнитных покрытий на изделиях из магнитных материалов Устройство для измерения толщины немагнитных покрытий на изделиях из магнитных материалов 

 

Похожие патенты:

Изобретение относится к измерительной технике и может найти широкое применение в системах неразрушающего контроля и измерений толщины пленочных покрытий

Изобретение относится к области измерительной техники, в частности к области измерения геометрических размеров плоских изделий, и может быть использовано при измерении толщины плоских изделий из диэлектриков, полупроводников и металлов, в том числе полупроводниковых пластин, пластических пленок, листов и пластин
Наверх