Прибор для расшифровки профилограмм

 

М 108901

Класс 42b, 12„„.СССР

ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ

P. М. Рагузин и А. С. Егудкии

ПРИБОР ДЛЯ РАСШИФРОВКИ ПРОФИЛОГРАММ

Заяв.чево 1 февраля 1950 г. за М 03859/411779 в Гостехввку СССР

H„.. 360

Предметом изобретения является прибор для расшифровки профилограмм, снятых на оптических профилометрах и т. п. приборах. При массовой обработке профилограмм эта расшифровка связана со значительной затратой времени.

Описываемый ниже прибор обеспечивает сокращение времени, затрачиваемого на расшифровку проф илогр ам м.

На фиг. 1 изображен предлагаемый прибор; на фиг. 2 — его принципиальная схема.

Прибор (фиг. 1) состоит из корпуса 1, направляющей 2 с. миллиметровой шкалой, перемещаемой посредством трибки 3. Направляющая 2 жестко соединена с подвижной рамкой 4, на которой посредством винта 6 натянута визирная нить 6 (стальная лента).

На корпусс укреплен диск, снабженный поворотной линейкой 7, по которой с помощью головки 8 может передвигаться указатель с нанесенным на него крестом. Диск с поворотной линейкой соединен с направляющей посредством тонкой стальной ленты (на фиг. 1 не показана).

Подлежащую расшифровке (onpe делению класса чистоты) профилограмму, изображенную на фиг. 1 пунктирной линией, укрепляют при помощи прижимного устройства над прозрачным основанием прибора так, чтобы линия впадин нанесенной на профилограмме кривой совпадала с неподвижной визирной нитью 9 (стальной лентой), натянутой посредством винта 10. После этого, пользуясь трибкой 3, перемещают направляющую 2 до совмещения подвижной визирной нити 6 с линией гребешков кривой. При этом тонкая стальная лента 11 (фиг. 2), соединяющая диск 12 и направляющую, отклонит поворотную линейку 7 на угол (x, величина которого будет соответствовать расстоянию между визирными нитями би9,илп Н„,„, При перемещении точки Л, лежащей на линии гребешков, в точку Ai пройденный путь, равный

Н „„„., связан с углом поворота а, диска 12 уравнением № 108901

Фиг. 1

Указатель 18 устанавливаот на деление поворотной линейки, соответствующее вертикальному масштабу рофилограммы, и по положению креста указателя относительно неподвижной спиральной шкалы 14 определяют класс чистоты.

Предмет пзобретепия

Прибор для расшифровки профилограмм, снятых на оптических профилограммах и т. п. приборах, отличающийся тем, что, с целью сокращения времени, затрачиваемого на определение класса чистоты г,о максимальной величине записанных на профилограмме неровноcreA, он выполнен в виде двух визирных нитей, одной — неподвижной, совмещаемой с линией впадин профилограммы, и другой — подвижной, устанавливаемой по линии ее гребешков и связанной посредством гибкой связи с поворотной линейкой, снабженной подвижным указателем, устанавливаемым в зависимости от масштаба профилограммы, и по положению креста указателя относительно неподвижной спиральной шкалы определяют класс чистоты поверхности.

Прибор для расшифровки профилограмм Прибор для расшифровки профилограмм Прибор для расшифровки профилограмм 

 

Похожие патенты:

Изобретение относится к строительству и эксплуатации автомобильных дорог и предназначено для контроля несущей способности и ровности дорожных конструкций

Изобретение относится к испытательной технике и может быть использовано для оценки несущей способности поверхностных слоев изделий из различных материалов

Изобретение относится к технике контроля, в частности к устройствам контроля формы цилиндрических обечаек

Изобретение относится к измерениям точности формы поверхности, а именно к способам и устройствам для контроля отклонений от плоскостности

Изобретение относится к измерительной технике и предназначено для измерения шероховатости поверхности в заводских условиях эксплуатации

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для оценки микрогеометрии поверхности детали и абразивного инструмента

Изобретение относится к нанотехнологии, в частности к устройствам переноса зондов в высоковакуумных комплексах между различными технологическими модулями с использованием сканирующих зондовых микроскопов (СЗМ)

Изобретение относится к нанотехнологическому оборудованию, а более конкретно к устройствам, обеспечивающим измерение в режиме непрерывного сканирования в условиях низких температур

Изобретение относится к области сканирующей зондовой микроскопии, а более конкретно к устройствам, обеспечивающим наблюдение, измерение и модификацию поверхности объектов
Наверх