Электромагнитный структуроскоп

 

ОП ИСАНИЕ

ИЗОБРЕТЕНИЯ

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ

Союз Советскик

Социапистическик

Рес убпик (>1) 3 000889 (6l ) Дополнительное к авт. свид-ву(22)Заявлено 13.07. 79 (21) 2803889/25-28 с присоелинением заявки М3271353/25-28 (23)Приорнтет(5 l ) М. -Кд.

6 01 и 27/90

Гевуаарстееяяье1 кетевтет

Опубликовано 28.02.83 Бюллетень РВ ав аевем язебретекк» и вткрытий (И) УДК 620,179, . 14 (088. 8) Дата опубликования описания 28 02 83

В.A. Сандовский, В.М;Барабашкин, Г.И.Сте аной:=", ."-„ . т.. и Е.С.Берестова

ы (72) Авторы изобретения (73) Заявитель

Институт физики металлов Уральского научного

AH СССР (54) ЭЛЕКТРОМАГНИТНЫЙ СТРУКТУРОСКОП

Изобретение относится к неразрушающему конт ролю и может быт ь и спользовано для контроля качества термической обработки и механических свойств сталей.

Известен электромагнитный структу- s роскоп, содержащий последовательно соединенные генератор гармонического тока, . трансформаторный электромагнит.ный преобразователь, анализатор гармоник и индикатор (1 ).

Недостаток известного устройства состоит в низкой производительности контроля, что связано со сложностью разбраковки на несколько классов по показаниям индикатора.

Наиболее близким к изобретению по технической сущности является электромагнитный -структуроскоп, содержащий последовательно соединенные

20 генератор переменного тока, трансформаторный электромагнитный преобразователь, частотно-фазовый анализатор и индикатор (2 ).

Однако и этот электромагнитный структуроскоп не обладает требуемой производительностью контроля, что также связано со сложностью разбраковки по показаниям индикатора при одноканальном анализе сигналов электромагнитного преобразователя.

Цель изобретения - повышение производительности-контроля.

Поставленная цель достигается тем,-что электромагнитный дефектоскоп снабжен последовательно соединенными амплитудным анализатором матричного типа и блоком разбраковки, а также вторым индикатором, подключенным к второму выходу амплитудного анализатора матричного типа, входы последнего соединены с соответствующими выходами частотно-фазового анализатора, выполненного многоканальным.

На чертеже представлена структурная схема электромагнитного структуроскопа.

10008

Формула изобретения

ВНИИПИ Заказ 1369/45 Тираж 871 Подписное филиал ППП "Патент", r.. Ужгород, ул . Проектная, 4

Электромагнитный, структуроскоп состоит из последовательно соединенных генератора 1 переменного юока, трансформагорного электромагнитного преобразователя 2, многоканального частотно-фазового анализатора 3, амплитудного анализатора 4 матричного типа и блока 5 разбраковки, а также индикаторов 6 и 7, подключенных к вторым выходам амплитудного анализа- $Q тора 4 матричного типа и многоканального, частотно-фазового анализатора 3 соответственно.

Электромагнитный структуроскоп работает следующим образом. 15

Генератор 1 переменного тока питает возбуждающую обмотку трансформаторного электромагнитного преобра- . зователя 2, взаимодействующего с контролируемым объектом. С выхода р элект рома гнитного преобразователя

2 сигнал поступает на многоканальный частотно-фазовый анализатор 3, на выходе которого формируется М постоянных напряжений, пропорцио- д нальных амплитудам, и N постоянных напряжений, пропорциональных фазам составляющих спектра сигнала..И равно числу используемых гармоник,а

М 4 И-1. С целью промежуточного Зв контроля работы структуроскопа величина амплитуд и фаз гармоник может быть измерена с помощью индикатора 7.

С выхода многоканального частот35 но-фазового анализатора 3 И + Я по-. стоянных напряжений поступают в амплитудный анализатор 4 матричного типа, состоящий из рядов ячеек. Число этих рядов равно числу классов разбраковки. Каждая ячейка анализирует величину постоянного напряжения, .поступающего, на ее вход. Если величина этого напряжения оказывается в пределах, установленных для данной

45 ячейки, на ее выходе появляется сигнал "Да".

Ячейки, расположенные в одном ряду, анализируют напряжения, приходящие по различным каналам. Они соответ, ствуют одному и Т мч же классу. Если на выходе всех ячеек, относящихся к одному классу, присутствует сигнал

"Да", то на выходе этого ряда также появляется сигнал "Да". Это означает, что напряжения, приходящие по всем каналам, находятся в интервалах, соответствующих данному классу. Поэтому изделие может быть отнесено к данному классу. Сигналы, снимаемые с выходов рядов ячеек, поступают на соответствующие входы индикатора 6, при этом загорается световое табло соответствующего класса.

Этот же сигнал поступает на блок

5 разбраковки. На нем имеются переключатели, с помощью которых выбира.ют класс или классы ), подлежащие забраковке, или задается программа сортировки по классам.

Предлагаемый структуроскоп позволяет автоматически рассортировывать контролируемые объекты на заданное число классов, что существенно повышает производительность контроля.

Электромагнитный структуроскоп, содержащий последовательно соединенные генератор переменного тона, трансформаторный электромагнитный преобразователь, частотно-фазовый анализатор и индикатор, о т л и ч аю шийся тем, что, с целью повышения производительности контроля, он снабжен последовательно соединенными амплитудным анализатором матричного типа и блоком разбраковки, а также вторым индикатором, подключенным к второму вь.ходу амплитудного анали затора матричного типа, входы последнего соединены с соответствующими выходами частотно-фазового анализатора, выполненного многоканальным.

Источники информации, принятые во внимание при экспертизе

1. "Дефектоскопия", 1971,, и 5, с. 127.

2. Авторское свидетельство СССР

It 492796, кл. G 01 N 27/90, 1975