Способ контроля развивающихся дефектов

 

СПОСОБ КОНТРОЛЯ РАЗВИВАЮЩИХСЯ JQE0EKTOB с помощью акустической эмиссии при прочностных испытаниях изделий, заключакмцийей в том, что нагружают контролируемое и эталонное изделия, принимают сигналы акустической эмиссии с последних и по результатам сравнения параметров сигналов судят о наличии дефектов в контролируемом изделии, о т л ич а ю щи и с я тем, что, с целью повышения надежности контроля, в качестве эталонного выбирают бездефектное изделие, нагружают его, принимают сигналы акустической эмиссий, наносят на эталонное изделие имитатора различных дефектов, вторично науружают это изделие, принимают сигналы акустической эмиссии до и после нанесения имитаторов дефекта.

„„SU„„1023237 !

СОЮЗ СОВЕТСКИХ

6 Ю

РЕСПУБЛИК

ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТ

К АВТОРСНОМЪ СЮДЕТЕЛЬС ГВУ

ГОСУДАРСТВЕННЫЙ КОМИТЕТ СССР

flO ДЕЛАМ ИЗОБРЕТЕНИЙ И ОТНРЫТИЙ (21) 2556290/25- 28 (22) 19.12..77 (46) 15ü06 ° 83 ВюЛ 9 22 (72) Е.Д.Иезинцев и K.Â.Õèëêoâ (53) 620.179.16(088 8) / (56) 1. HL Dunegan, A.Ò.Green.

Factors affecting Acoustic, Emission

response йrom material, Acoustic

Eission ASTM STP SOSi 1972.

2 A new nonMestructive Testing

Тоо1 .ss01trasonicsssil969, v 7, В 3, Dunegan апй Harris, Acoustic

Emission (nporoxйп). (54)(57) СПОСОБ КОНТРОЛЯ РАЗВИВАЮ-.

ЩИХСЯ ДЕФЕКТОВ с помощью акустической эмиссии при прочностных испытаннях изделий, заключаюцийся в том, что нагружают контролируемое и эта лонное изделия, принимают сигналы акустической эмиссии с последних и по результатам сравнения параметров сигналов судят о наличии дефектов в контролируемом иэделии, о т л ич а ю шийся тем, что, с пелью

:повышения надежности контроля, в ка честве эталонного выбираЮт беэдефектное изделие, нагружают его, принимают сигналы акустической эмиссии, наносят на эталонное изделие имитатора различных дефектов, вторично иагружают зто изделие, принимают сигналы акустической эмиссии до и после нанесения имитаторов дефекта. I

1023237

Составитель Т.Головкина

Редактор Т.Веселова ТехредО.Неце .

Корректор A. Ильин

Заказ 4203/29 Тираж 471

ВНИИПИ Государственного комитета СССР по делам изобретений и открытий

113035, Москва, Ж-35, Раушская наб., д. 4/5

Подписное

Филиал ППП Патент, r. Ужгород, ул. Проектная, 4

Изобретение относится к неразрушающему контролю материалов и диагностики прочностных свойств конструкции и может быть использовано для определения браковочных параметров контроля дефектов, основанного на явлении акустической эмиссии.

Известны способы определения динамики развития дефектов в конструкциях, основанные на явлен и АЭ, заключающиеся в проведении йрочност- 1О ных испытаний конструкций, содержащих дефекты, и регистрации параметра АЭ в процессе испытаний N .

Наиболее близким по технической сущности к изобретению является способ контроля развивающихся дефектов с помощью акустической эмиссии при прочностных испытаниях изделий, заключающийся в.том, что нагружают контролируемое и эталонное иэделия, принимают сигналы акустической эмиссии с последних и по результатам сравнения параметров сигналов судят о наличии дефектов в контролируемом иэделии (2)

Недостатком этих способов является. низкая надежность контроля из-за низкой точйости расшифровки резуль-.. татов контроля, Цель изобретения - повышение надежности контроля.

Поставленная цель достигается тем, что согласно способу контроля развивающихся .дефектов с помощью акустической эмиссии при прочностных испытаниях изделий, заключающемуся в том, что нагружают контролируемое и эталонное изделие, принимают сигналы акустической эмиссии с последних и по результатам сравнения параметров сигналов судят о наличии дефектов в контролируемом изделии, в качестве эталонного выбирают бездефектное изделие, нагружают его, принимают сигналы акустической эмиссии, наносят на эталонное иэделие имитаторы различных дефектов, вторично нагружают это изделие, принимают сигналы акустической эмиссии до и после нанесения имитаторов дефекта.

Способ заключается в следующем.

Нагружают бездефектный эталонный образец, регистрируют сигналы акустической эмиссии, получив запись структурного шума, Затем на конструкции выполняют имитатор дефекта (например, надрез), нагружают это эталонное иэделие и записывают сигналы акустической эмиссии, соответствующие дефекту заданного типа, при этом получают сигналы от дефекта без их маскировки структурным шумом. Аналогичным Образом снимают сигналы при различных типах имитаторов. Так получают картину зависимости сигналов акустической эмиссии от различных дефектов.

После этого нагружают любое контролируемое изделие, принимают сигналы акустической эмиссии, сравнивают их с сигналами с эталонного иэделия и по результатам сравнения судят о развивающихся дефектах в контролируемом изделии °