Способ определения ширины полосы и длины волны максимума пропускания интерференционного светофильтра

 

: COOS СОВЕУСИИХ

ECHHX

PE МИН а» . 00

3(56 2 В 28

ГОСУДАРОТВЕННЬ9 КОЦИТА. CQCP

ПО ДЕЛАМ HSOSPETEHHA И ОЧйвцТЭЙ

ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ . о aslOPCNOMV СИ В ВЮЬЮЪУ (21 3380623/18- 10 (22) 1I.03.82 (46) 23.06.83. Вюл. IP 23 (72) Я.Я. Бекшаев, В.И. Гриьйлатов, О.H. Окунишников, Р.A-. Петренко. и В.П. Соболь (7l) Одесский ордена Трудового

Красного Знамени-государственный университет им. И.И. Иечмикова (53) 535.,3М.67 (088.8) (56) Ф. Фильтры интерференционмые узкополосные. Руководящие технологические материало РТИ-3.- 11",27-72.

2. Черемухин f.Ñ., Рожнов В.П., Голубева Г..И. Измеремие спектральных.кривых пропускания сверхузкополосмых интерфереыциомных фильтров. и пластин материалов.-"Оптико- механическая промышленность", 1977, У 2, c. 69-70 (прототип ). (54.)(57) СПОСО6 ОПРЕДЕЛЕНИЯ ЩИРИНЫ

ПОЛОСМ И ДПИНН ВОЛНЫ ИАКСИИУИА ПРОПУСКАНИЯ ИНТЕРФЕРЕНЦИОННОГО СВЕТОФИЛЬТРА путем его просвечивания параллельным "пучком мояохроматичес-кого света м :регистрации интейсивности проведшего излучения при изме" ненни угла:падения излучения нв фильтр, о т л и ч а ю щ и 4 с я тем, что, с. целью повышения точности и обеспечения экспрессностл измерений, просвечивание осуществляют излуче.нием с длиной волны, меньшей длины, соответствующей максимуму пропусканил фмльтра; и измеряют угол падения

Лучка ма фильтр, соответствующий максимуму интенсивности прошедшего излучения,. а также угол падения, соответствующий половине максимума интенсивности прошедшего излучения, причем,щиринуоф полосы и длину Эщшх волны максимума пропускания фильтра определяют Ао следующим соотношениям уйд х

%ОХ и 2п

За !Евах-80SI

2 е

"пах

7 где fly - длина волны просвечивающего пучка, х - угол падения пучка на фильтр, соответствующий вь максимальной интенсивности 1, ф прошедшего излучения, ЬД

h - -показатель преломления вВЬ разделительного слоя фильтра, Ж

90,> - угол паденияпучка нафильтр . соответствующий половине максимума интенсивности про шедшего излучения.

4 1024862 2

Изобретение относится к оптическому приборостроению, а более конкретно к методам измерения характеристик интерференционных светофильтров.

Известен способ определения шири" ны полосы и:длины волны максимума пропускания интерференционного светофильтра путем его просвечивания пучком монохроматического света, регистрации интенсивности прошедшего излучения hpH перестройке длины волны просвечивающего излучения и построения зависимости пропускания фильтра от длины волны, по которой и определяют необходимые характеристики P)

Недостатком такого способа. являет-!

СЯ е В Ча СТНОСТИ > ВЫСОКаЯ СТОИМОСТЬ спектрофатометров, которые необходимы для его реализации.

Наиболее близким к предлагаемому изобретеиию по своей технической сущности является способ определения ширины полосы и длины волны мак-. симума пропускания интерференционного светофильтра пу ем его просвечивания параллельным пучком монохроматического света и регистрации интенсивности прошедшего излучения при изменении е угла падения излучения на фильтр. В соответствии с этим способом иссле дуемый фильтр поворачивают Относитель.но лазерного луча и последовательно регистрируют значения интенсивности прошедшего излучения при различных углах падения луча на фильтр. Таким образом, выявляется полная картина зависимости интенсивности прошедшего излучения от указанного угла, по которой в свою очередь определяются исиеиие велиииии (21

Однако необходимость получения полной информации Об указанной зависимости, присущая известному способу, делает процесс измерений весьма дли" тельным. Кроме того, это приводит к снижению точности измерений, поскольку при продолжительном ислользовании лазера на точности начинает сказываться нестабильность интенсивности его излучения.

Цель изобретения - повышение точности и обеспечение экспрессности измерений, Поставленная цель достигается тем, что согласно способу определения ширины полосы и длины волны максимума пропускания интерференционного светофильтра путем его просвечивания параллельным пучком монохроматического света и регистрации интенсивности прошедшего излучения при именении угла падения излучения; на фильтр, просвечивание осуществля т

5 излучением с. длиной волны, меньшей длины, соответствующей максимуму пропускания фильтра, и измеряют .угол падения пучка на фильтр, соответствующий максимуму интенсивности про® шедшего излучения, а также угол падения, соответствующий половине максимума интенсивности прошедшего иэлучения, причем ширину полосы Ь и длину, л п1ах волны максимума пропус15кания фильтра определяют по следующим соотношениям:

®мах

> ах "п 1+ ее

)в,„е",„, I

Ъ

"вак где - длина волны просвечиваютh

25 . щего пучка, 9„, „- угол падения пучка.на мах . м фильтр, соответствующии максимальной интенсивносв е ти прошедшего излучения, 30 1 " показатель преломления

РаЗДЕЛиТЕЛЬНОГО СЛОЯ .

Фильтра;

8О " угол падения пучка на фильтр, соответствующий половине максимума интенсивности прошедшего излучения.

Предлагаемый cnocîá реализуется при использовании источника кваэипа раллельного монохроматического пучка света, например лазера, длина волны излучения которого меньше .длины, соответствующей максимуму пропускания. исследуемого фильтра. При этом 5 фильтр поворачивают относительно оси пучка и, наблюдая за показаниями измерительного прибора, регистрирующего интенсивность прошедшего сквозь фильтр излучения, фиксируют значения

50 двух углов падения пучка на фильтр.

Один иэ этих углов соответствует максимуму интенсивности прошедшего излучения, а второй - половине этого ,максимума. Искомые характеристики фильтра Определяются путем подстановки значений измеренных углов в приведенные выше соотношения.

Экспериментальная проверка способа проводилась на интерференцион3 10246 мом светофильтре со следующими паспортными данмыми; ф 6з4,9 мм,Ьф1 0 15. .h. 1,35 (крио4ит)..

Фильтр просвечивался излучением

Не-Не лазера ЛГ-52-2 с длиной волны излучения 632,8 нм. Интенсивность проведеего через фильтр излучения регистрировалась фотодиодом. Измерялись углы поворота млвтра, при которых интенсивность .проведвего из" лучения была максимальной и состав- . ляла половину от максимальной, и вы" числялась аирима волосы и длина волHbl в максимуме tlo соотаетствующим формулам. Полученные результаты с

62 ю точностью до 103 совпали с паспортными данными фильтра.

Таким образом, в отличие от известного способа,в котором последовательно определяется целый ряд величин, в предлагаемом способе достаточно измерить всего два значения угла падения пучка на фильтр. Это позволяет существенно скоратить время измерений и повысить их точность. В то we время предлагаемый способ не требует применения дорогостоящих спектрофатометров, что выгодно отличает его и от известного способа измерения характеристик интерференционных фильтров, повсеместно применяющегося в настоящее время.

Составитель В, Кравченко

Редактор В. Иванова Техред Q.Неце Корректор С. Шекмар

»»»»»»»»»»»»»

Заказ 4390/43 Тираж Я11 Oодписное

ВНИИПИ Государственного комитета СССР по делам изобретений и открытий

113035, Москва, N-35, Раунккая наб,, д. 4/5

»» »»»

»»»»»»»»»»»»»»» филиал AllO "Патент", г. Ужгород, ул..",роектная, 4