Прибор для оптического контроля качества поверхности

 

1. ПРИБОР ДЛЯ ОПТИЧЕСКОЮ . КОНТРОЛЯ КАЧЕСТВА ПСеЕРХНОСТЙ отражающих, преимущественно цилиндрических , испытуемых образцов по методу световрго сечения, включающий в .себя ооветитепьный тракт и тракт формирования изображения, где осветительный тракт включает в себя источник света, расположенную за ним кольцевую диафрагму и оптическую систему, а тракт формирования изображения - оптическую систему, форме-. рующую изображение , и фотоэлектрический приемник с расположенной перед ним кольцевой диафрагмой, ив обоих трактах . предусмотрены зеркала для отклонения лучей, отличающийся тем, что, как ОЛЯ осветительного тракта, так И для тракта фо{жшрования изображения предусмотрен конусообразный рефлектор 6, 10, окватывающий испытуемый образец 9 и имеющий в середине направляющие 8,17,20, 21 для испытуемого образца 9,причем отражающая поверхность каждого рефлектора 6, 10 имеет фо{ыу внешней поверхности усеч§ш1ого конуса и оба рефлектора 6, 1О так расположены друг относительно друга, что их малые основания расположены в непосредственной бтеости друг от друга и что отклоняющие зеркала 5, 11 в осветительном тракте и в тракте формирования изображения имеют по одному направляювдему устройству 7, 16 для движущихся через .прибор испытуемых образцов 9, пренмуйественно под действи «4 силы тя (П жести. 2. Прибор по п. 1,0 т л и ч а ю-г Щи и с я тем, чтог рефлектор 18 представляет собой единое цепое и отражаю- Шая поверхность 19 вме форму внещней пов хноств двух усеченных конусов 1 сопр;гисасающихся своими малыми основа .ниями, к 4to в середине рефлектора 18 располсжены направляющие 20« 21 для испытуемого образца. эо 9

СОЮЗ СОВЕТСКИХ

СОЦИАЛИСТИЧЕСКИХ

РЕСПУБЛИН (19) (11) З 5р (01 В 11/24

ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТ

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ и для тракта формирования изображения предусмотрен конусообразный рефлектор 6, 10, охватывающий испытуемый обраэец 9 и имеющий в середине направляющие 8, 1 7,20, 21 для испытуемого обраэпа 9,прячем отражающая поверхность каждого рефлектора 6, 10 имеет форму внешней поверхности усеченного конуса и оба рефлектора 6, 10 так расположены друг относительно друга, что их малые основания расположены в непосредственной близости друг от друга и что отклоняющие зеркала 5, 11 в ocseтнтельном тракте и в тракте формирования изображения имеют по одному направляющему устройству 7, 16 для движущихся через, прибор испытуемых образцов 9, g преимущественно под действием силы тяжести.

2. Прибор по п. 1 о т л и ч а ю- ш и и с я тем, что, рефлектор 18 представляет собой единое целое и отражаю- -шая поверхность 19 имеет форму внешI ней поверхности двух усеченных конусов соприкасающихся своими малыми основаниями, и что. в середине рефлектора 18 располякены направляющие 20, 21 для испытуемого образца.

ГОСУДАРСТВЕННЫЙ НОМИТЕТ СССР

ПО ДЕЛАМ ИЗОБРЕТЕНИЙ И ОТКРЫТИЙ (89) 131200 ГДР (21) 7770172/25-28 . (22) 04.05.78 . (31) g P Q 01 B/198712 (46) 15.09.83. Бюл. М 34

, (72) Уве Рюттингер (ГДР) (71) ФЕБ Отто Бухвитц Старкстром-Ан лагенбау, Дрезден (ГДР) . (53) 531.717(088,8) (54) (57) 1. ПРИБОР ДЛЯ ОПТИЧЕСКОГО КОНТРОЛЯ КАЧЕСТВА ПОВЕРХНОС-"

ТИ отражающих, преимущественно цилиндрических, испытуемых образцов по методу светового сечения, включанмций в себя ос ветительный тракт и тракт формирования изображения, где осветительный тракт включает в себя источник света, расположенную за ним кольцевую диафрагму и оптическую систему, а тракт формирования изображения - оптическую систему, формиp71aolyIo изображение, H фотоэлектрический приемник с расположенной перед ним кольцевой диафрагмой, и в обоих трактах предусмотрены зеркала для отклонения лучей, отличающийся тем, что, как для осветительного тракта, так

ЕНИЯ ц

Р .*

Цепью изобретения явпяется создание конструктивно простого прибора без пере мещаемых элементов дпя оптического койтропя качества поверхности испытуемых цилиндрических Образцов, где транспортировка испытуемых образцов в процессе контроля упрощена, позволяющего непрерывно и экономично исследовать испытуемы е цилиндрические образцы.

Поставленная цель достигается тем,: что в приборе дпя оптического контропя качества поверхности отражающих, пре,ийушественно ципиндрических, испытуемых

1 304i

Изобретение относится к установкам дпя оптического контропя качества отражающих, преимущественно ципиндрических испытуемых образцов по методу светового свечения. 5

У известных приборов для оптического контропя качества поверхности методом светового сечения лучи от источника света, проходя через шепевую дииррагму, образуют световую плоскость, которая, 10 в свою очередь, образует с поверхностью испытуемого образца определенный угол. Попученное сечение профиля рассматривается с увеличением под микроскопом и анапиэируется. С, помощью этого прибора можно контропировать лишь плоские поверхности испытуемых образцов или ци-: линдрические тела вдоль образующей.

Контроль качества поверхности вдоль конр, тура сечения невозможен. 20

Прибор для оптического контроля поверхностей цилиндрических теп вращения, включающий в себя устройство освещения, отклоняющие зеркала, системы, формирующие изображение, и фотоэлектри«25 ческий приемник, описан в Q Е» ,Р5 1.041.263. Дпя контроля испытуемых образцов по всей боковой поверхнос- . .Ти вокруг них поворачивается стойка, на которой устанавливаются оптические элементы. В этом случае невозможно использование принципа светового сечения. В описаном в СН-Р5 527409 приборе дпя контропя поверхностных неровностей у кабелей предусмотрено расположение преимущественно нескольких источников света вокруг испытуемого образца,.которые освещают его в форме линий. Ограженный свет при этом подается на фотоэпектрический приемник. Из-за установки 4 нескольких истОчникОВ сВета этот прибОр очень спожен..Поочередное включение ис точников света по времени и анализ измерительных сигналов также сопряжены с бодьшими техническими трудностями.

S67 2 образцов по методу светового сечения, включающем в себя осветительный тракт и тракт формирования иэображения, где осветитепьный тракт включает в себя источник света, расположенную эа ним. кольцевую диафрагму и оптическую систему, а тракт формирования изображения — oIIтическую систему, формирующую изображение, и фотоэлектрический приемник с распопоженной перед ним кольцевой диафрагмой, и в обоих трактах предусмотрены зеркала для отклонения лучей, как дпя осветительного тракта, так и для тракта формирования изображения предусмотрен рефлектор в форме конуса, охватывающий испытуемый образец и имеющий ь середине направпяюшие для испытуемого образца, причем отражиацая поверхность каждого рефпектора имеет форму внешней поверхности усеченного конуса и оба рефлектора так распопожены друг относительно друга, что их малые основания расположены в непосредственной бпиэости друг от друга и что отклоняквцие зеркала в осветитеяьном тракте и в трак те формирования изображения имеют по одному направпяющему устройству дпя ..движущихся через прибор испытуемых образцов, преимущественно под действием силы тяжести.

Рефлектор представляет собой единое целое и отражающая поверхнрсть имеет форму внешней поверхности двух усечен— ных конусов, соприкасающихся своими малыми основаниями, и в середине рефпектс>ра расположены направляющие для испытуемого образца.

Кроме того, преимуществом прибора явдяется то, что для ципиндрических тел контроль качества поверхности вдопь некоторого контура поперечного сечения возможен с помощью несложных средств, причем конструкция прибора проста и не включает в себя подвижных элементов.

Благодаря наличию направляющих просто реализуется транспортировка испытуемых .образцов через прибор.

На фиг. 1 изображена оптическая схе - ма прибора, на фиг. 2 - рефпектор.

К осветительному тракту относится источник 1 света, который через конден- сатор 2 освещает кольцевую диафрагму 3.

Дапее следует оптическая система 4, отклоняющее зеркало.5 со сквозным отверстием, а также рефпектор 6, имеющий внутри форму конуса. Через Отверстие отклоняющего зеркала 5 и через середину рефлектора 6, имеющего внутри форму кос (3 1041867 4 нуса, проходят направляющие 7 и 8 для образец 9, движущийся через прибор по ,транспортировки испытуемого образца 9 направляющим 8 и 17., Вдоль внешнего через прибор. контура поперечного сечения испытуемого

К тракту формирования изображения образца 9 возникает световая полоса 22, относятся следующие элементы конструк- g. Отраженный от испытуемого образца 9 ции, расположенные по направлению pac свет:проходит через рефлектор 10, откло» пространения света: рефлектор.lO, имею-, няюшее зеркало 11 оптическую систе щий внутри форму конуса, второе отклоня- му 12 и попадает на диафрагму 14. Здесь ющее зеркало 11 со сквозным отверстием,, возникает профялограмма испытуемого циоптическая система 12 и прикрывающая 30 линдрического образца 9, Диафрагма 14 фотоэлектрический приемник 13 кольцевая служит для диафрагмирования иэображедиафрагма 14. <Фотоэлектрический приим- ния. Если, например, глубина дефекта поник 13 соединен с анализирующим устрой- верхности йспытуемого образца 9 превыством 15. Через отверстие отклоняницего. сит, размер, определяемый диаметром кольэеркала 11 и через середину рефлекто + )g: цевой диафрагмы 14, то часть иэображера 10 также проведены направляющие 16 ния испытуемого образца экранируется и 17. Как видно из фиг. 1, осветитель-:,диафрагмой. Расположенный эа кольцевой ный тракт и тракт формирования изобра- . диафрагмой 14 фотоэлектрический приемже щя сконструированы с максимально, . ник 13 вырабатывает сигнал, который возможной симметрией, что обеспечивает gp подается на анализирующее устройство 15. экономичность изготовления отдельных;. Анализирующее устройство может быть элементов конструкции. связано с некоторой системой, позволяю:щей классифицировать испытуемые образНа фиг. 2 изображен рефлектор 18 как . цы или отсортировывать дефектные испы . единое целое, отражающая поверхность 19gj: туемые образцы. которого имеет форму внешней поверхнос- ., Вместо диафрагмы 14 необходимую ти двух усеченных конусов, соприкасаю- . кольцевую форму может иметь также свещихся своими ManblMH основаниями, Внуч точувствительный слой фотоэлектрического ри рефлектора 18 также предусмотрены приемника 13, на который отображается . направляющие 20 и 21 для испытуемого >jo профилограмма испытуемого образца 9. образца. Освещаемая источником 1 света" . Признано изобретением по результатам кольцевая диафрагма 3 проецируется on-. экспертизы, осуществленной Ведомством тической системой 4, отклонякицим зерка-.: по изобретательству Германской Демокралом 5 и рефлектором 6 на испытуемый тической Республики.

1041 Ì7

ВНИИПИ Заказ 7112/41 7ираж б02 Подписное

Филиал ППП "Патент, г.Ужгород,ул. Проектная,4

Прибор для оптического контроля качества поверхности Прибор для оптического контроля качества поверхности Прибор для оптического контроля качества поверхности Прибор для оптического контроля качества поверхности 

 

Похожие патенты:

Изобретение относится к контрольно-измерительной технике, а именно к устройствам для измерения радиуса сферических полированных поверхностей, и может быть использовано при контроле оптических деталей
Наверх