Способ определения исходной магнитной текстуры образцов холоднокатаной анизотропной электротехнической стали и многоосных ферромагнитных кристаллов

 

СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ ИСХОДНОЙ МАГНИТНОЙ ТЕКСТУРЫ ОБРАЗЦОВ ХОЛОДНОКАТАНОЙ АНИЗОТРОПНОЙ ЭЛЕКТРОТЕХНИЧЕСКОЙ СТАЛИ И МНОГООСНЫХ ФЕРРОМАГНИТНЫХ КРИСТАЛЛОВ путем измерения кривых магнитострикции в различных на .правлениях по отношению к кристгшлографическим осям, о т л и ч а, root и и с я тем, что, с целью повышения достоверности количественного определения концентраций магнитных фаз и упрощения процесса измерения, на образец воздействуют размагничивающим полем, намагничивают его в произвольном направлении и измеряют магнитострикцию в направлении прокатки стсши или оси легкого намагничивания кристалла. (Л

СОЮЭ Соа=ТСНИХ

МЦМ РЕСПУБЛИК (1Ж (И) ЗСЮ0 01 R 33 18 . ГОСУДАРСТВЕННЬЙ КОМИТЕТ СССР

ПО ДЕЛАМ ИЗОБРЕТЕНИЙ И ОТКРЫТИЙ

ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ

А Юб

10 (2i) 3479065/18-21 (22) 28.07.82 (46) 30 12 83. Бюл. 9 4& (72) Ф.Н. Дунаев, Н.Ф. Дунаева и С.Н. Иванченко (71) Уральский ордена Трудового

Красного Знамени государственный университет им. А.М. Горького (53) 621 ° 317.44(088.8) (56) 1. Вонсовский С.В. Шур Я.С, Ферромагнетизм. М.»Л., ГИТТЛ, 1948, с. 649-651. (54)(57) СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ ИСХОДНОЙ

МАГНИТНОЙ ТЕКСТУРЫ ОБРАЗЦОВ ХОЛОДНОКАТАНОЙ АНИЗОТРОПНОЙ ЭЛЕКТРОТЕХНИЧЕСКОЙ СТАЛИ И МНОГООСНЫХ ФЕРРОМАГНИТ-

ННХ KPHCTAKGOB путем измерения кривых магнитострикции в различных на.правлениях по отношению к кристаллографическим осям о т л и ч а юшийся тем, что, с целью повышения достоверности количественного определения концентраций магнитных фаз и упрощения процесса измерения, на образец воздействуют размагничивающим полем, намагничивают его в произвольном направлении и измеряют магнитострикцию в направлении прокатки стали или оси легкого намагничивания кристалла.

1064258

Изобретение относится к физике магнитных материалов и может быть использовано при испытании трансформаторной холоднокатаной аниэотроп-. ной стали, а также при анализе магнитной текстуры многоосных ферромагнитных кристаллов.

Наиболее близким к предлагаемому является способ количественного определения магнитной текстуры, т.е. концентраций магнитных фаэ и; и и; 10 с помощью измерения продольной магнитострикции в произвольном направлении по отношению к кристаллографическим осям j1) .

На образцы с различной ориентацией длинной оси по отношению к кристаллографическим осям наклеивают тензодатчик в направлении длинной оси образца, вдоль которой образец намагничивают, и измеряют, кривую зависимости продольной магнитострикции от величины поля. Концентрацию магнитных фаз определяют по формуле (< j, = A,ù,(Å ((О; ° h. I р . ) -- (1) где — длина образца, 8 — изменение длины образца,">

Недостатком известного способа является недостоверность онределе- 35 ния исходной магнитной текстуры вследствие того, что продольная маг-. нитострикция не дает правильного отражения процессов смещения стенок доменов и Hp. позволяет по формулс

<(1) вычислить по и и .

Цель изобретения - повышение достоверности количественного определения концентраций магнитных фаз и упрощение процесса измерения.

Поставленная цель достигается тем, что согласно способу определения исходной магнитной текстуры образцов холоднокатаной анизотропной электротехнической-стали и многоосных ферромагнитных кристаллов путем измерения кривых магнитострикции в различных направлениях по отношению ,к кристаллографическим осям, на образец воздействуют раэмагничивающим полем, намагничивают его в произволь- 5 ном направлении и измеряют.магнитострикцию в направлении прокатки стали или оси легкого намагничивания кристалла.

На чертеже представлены экспери- 60 ментальные зависимости, полученные на трех монокристальных образцах вырезанных вдоль оси(111 иэ листа холоднокатаной анизотропии электротехнической стали с плоскостью P10$

На каждый образец наклеивают два тензодатчика один вдоль оси легкого намагничивания $001) а другой вдоль оси трудного намагничивания (11Ц, т.е. вдоль длинной оси образца. Ориентацию кристаллических осей определяют по поверхностным фигурам доменов оптическим или рентгеновским методом. На образце, прошедшем высокотемпературный отжиг (1473 К, 2 ч) и отжиг в магнитном поле вдоль оси (001), ожидается сильная исходная магнитная текстура. Кривая 13pooig (H) снятая при помощи первого датчика,. показывает, что действительно возникла сильная магнитная текстура с преимущественной ориентацией спонтанной намагниченности вдоль оси (001) и при . намагничивании вдоль оси (111) большой объем образца перемагнитился смешением 90 -ных стенок доменов, что привело к большой магнитострикции.

В этом же образце кривая 2 0«3(Н), снятая при помощи второго датчика, т.е. кривая продольной магнитострикции, совпацает с осью абсцисс.

Таким образом, продольная магнитострикция равна нулю. Если судить по этой магнитострикции, то можно заклю . чить, что смещений 90 -ных стенок при о намагничивании вдоль оси 111) не произошло. Однако измерения h.t.OO,3 (Н) при помощи первого датчика пс.::аэали что такие .смешения произошли, так как в обратном случае: значения были бы равны нулю. Таким образом, измерения .продольной магнитострикции вдоль оси трудного намагничивания в этом случае дают заведомо ложную информацию о процессах смещения стенок доменов при намагничивании и не позволяют определить не только концентрации,h» и по, но и качественно исходную текстуру.

Измерение Atoo 3 (H) позволяет ко- личественно определить по и п

Константной магнитострикцией g o называется магнитострикция насыщения вдоль оси (100, напримерЯэ(п,н при условии отсутствия исходной маг нитной текстуры, т.е. Б = и„ = и

= n> = по = 5 = 1/6. В этом случае при намагничивании до насыщения вдоль оси (001) смещением 90О-ных стенок перемагиитится 2/3 объема образца,,т.е. при перемагничивании

2/3 объема образца максимальная

) магнитострикция "S(oo 3 = "

W

В исследуемом образце (кривая 1) As oog= 21 10 6 . По этому значению легко вычислить концентрации п ий, поскольку магнитострикция Я ОО,3пропорциональна объему, перемагничиваемому вдоль этой оси смещения

1064258

Составитель, В. Вагин

Редактор . Огар ТехредИ. Гергель Корректор О. Билак

Заказ 10527/48 Тираж 710 Подписное

ВНИИПИ Государственного комитета СССР по делам изобретений и открытий

113035, Москва, 5-35, Раушская наб., д..4/5

Филиал ППП "Патент", г. Ужгород, ул. Проектная, 4

90 -ных стенок. Объем Х, перемагниченный таким образом в исследуемом образце, находят из пропорции

2/3 Х 2/3 . Х т e ------ = — 5

° °

6(»кк 24 ° 10 + +21- 10 . откуда Х = 0,58. Иа этот о".носительный объем при намагничивании уменьшилась концентрация фаз Ь и + lO

+ bhq X =. 0.58 ° . В конце процессов смещения в поле, параллельном оси

f111/, концентрации фаэ будут и »

И = Из = 4j3 . Значит, в размагниченном состоянии были коицентра- . )5 ции ?q . » 3ъз "1Э + Ь,ьз + дп у

= 0,91 или N = Йз = 0,46 (в раэмагниченном состоянии всегда п &ч,)».

Из условия K(h .t и )= 1 вытекает

Ь» +Pl,» +»»pi+ Ь 1,-(п) + g) = ;р = 0,09. Поскольку оси $100$ и (010) расположены s исследуемой . стали симметрично по отношению к плоскости листа (под углом 45 ), то они равноправны и концентрации их фаз можно считать одинаковыми. . Следовательно, П Ь tl, = % = 0,022

Таким образом определяют все шесть концентраций магнитных фаэ в размагниченном состоянии, т,е. количественно оценивают исходную маг- . .нитную текстуру. В исследуемом образце магнитная текстура имеет большое преимущество объема магнитных фаз с ориентацией спонтанной намагниченности вдоль оси $00/ (n о п,,п я п ), В случае изучения анизотропии магнитных свойств на образцах в форме диска или параллелепипеда предлагае»нм способом упрощается процесс измерения магнитострикции, так как требуется только один тензодатчик, наклеенный вдоль оси )001$, которым измеряют магнитострикцню при любой ориентации магнитного поля.

Использование изобретения позволяет контролировать исходную магнитЙую текстуру холоднокатаной аниэо тропной электротехнической стали и облегчает поиск путей создания оптимальной исходной текстуры в трансформаторной стали и, следовательно; улучшения свойств стали.

Кроме того, изобретение позволяет уточнить представления о процессах перемагничивания и физической природе указанных магнитных характеристик.

Способ определения исходной магнитной текстуры образцов холоднокатаной анизотропной электротехнической стали и многоосных ферромагнитных кристаллов Способ определения исходной магнитной текстуры образцов холоднокатаной анизотропной электротехнической стали и многоосных ферромагнитных кристаллов Способ определения исходной магнитной текстуры образцов холоднокатаной анизотропной электротехнической стали и многоосных ферромагнитных кристаллов 

 

Похожие патенты:

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для определения температурного коэффициента частоты у образцов из ферромагнитного материала

Изобретение относится к области магнитных измерений и может быть ис пользовано для исследования магнитострикционных свойств магнитных материалов в образцах малой величины

Изобретение относится к магнитным измерениям и может быть использовано для исследования и контроля магнитострикционных свойств магнитных материалов в виде проката

Изобретение относится к измерительной магнитной технике и может быть использовано для измерения и контроля магнитострикционных свойств образцов в виде проката

Изобретение относится к аморфным ферромагнитным микропроводам (АФМ) в тонкой стеклянной оболочке и используется в устройствах измерительной техники. Сущность изобретения заключается в том, что в способе измерения характеристик аморфных ферромагнитных микропроводов (АФМ) исследуемый АФМ жестко закрепляют с одного конца, а к другому концу с помощью груза прикладывают начальное растягивающее напряжение σ0. С помощью соленоида создают некоторое начальное магнитное поле H0z, направленное вдоль оси АФМ, намагничивающее образец АФМ до насыщения. Через АФМ пропускаются синусоидальный электрический ток I частотой в пределах 5…10 кГц. Проводят измерение и построение зависимости сигнала ЭДС в измерительной катушке на удвоенной частоте в зависимости от изменяющегося приложенного внешнего магнитного поля Н. При этом измерения проводят для нескольких значений механических напряжений σ1…σn (где n≥2). По построенным зависимостям при фиксированном значении ЭДС определяют значение величины магнитных полей для пары различных механических напряжений, затем при фиксированном значении поля определяют пару значений ЭДС для той же пары механических напряжений, после чего проводят вычисление затравочного поля анизотропии Ha, закалочных напряжений Δσ, намагниченности насыщения Ms и константы магнитострикции λs. Технический результат – определение намагниченности насыщения и константы магнитострикции в одном цикле измерений, а также дополнительного определения внутренних закалочных напряжений АФМ. 3 ил.
Наверх