Коллектор светового излучения

 

КОЛЛЕКТОР СВЕТОВОГО ЙЗЛУЧЕЙИЯ для растровогоэлектронного микроскопа , содержащий°Ьобиракцее зеркаJiOt в одном из фокусов которого расположен обКектодержатель, а в другом - входной торец фотоприолиика , о тли ч а ю ц и и с я тем, что, с целью повьшения точности анализа и чувствительности коллектора, зеркало образовано усеченными фофокусными полуэллипсоидами, большие оси которых лежат в одной плоскости, :Проходяцей через общий фокус и пер пендикулярной электронно-оптической оси, а углы между секущими полуплоскостями , ограниченны ш линиями, 9 совпадахщими с электронно-оптической осью, обратно пропорционгшьнн величинам чувствителькостей фотОприемников .

СОЮЗ СОЙЕТСНИХ

«ЦЮ«

РЕСПУБЛИК

ЩП . Н 01 i. 37 244

ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ

«А В ТОРС«О МЫ СИИДВТВЬОТВУ (2Ц 3493293/18-21: (22) 23 ° 09.82 (46).30.12 ° 83. Вюл, Ф 48 (72) Г.В.Сапарин, С.К.Обыцен и С.И.Попов (71) Московский ордена Ленина, ордена Октябрьской Революции и ордена Трудового Красного Знамени государственный университет им. М.В.Ломоносова (53) 621.385.833 (088..8) (56) 1. Saparin G.V., Spivak G.×.

Deretopnent of Methods in the

ВЕМ.and its аррИсаМопэ..ВЕОО, v 8.,, 1975,. р. 245. 254.

2.. Патент Англии В 1402700; кл. H 4 F, опублик. 1975 (прототип) .

,(54) (57) KOJNEKTOP СВЕТОВОГО ЯЭЛУЧЕ. ЙИЯ для растрового электронного микроскопа, ссдержащий собираищее зеркало> в сднсм иэ фокусов которого расположен обЪектсдержатель, а в другом ". вхсдной торец фотоприемника, отличающийс ятем, -что, с целью повваиения точности ана, лиза и чувствительности каплектора,,зеркало образовано усеченными ФоФокусныни полуэллипсоидами, боиьмиЕ

:оси которых лежат в сдной плоскости, прохсдяцей через общий фокус и пер-

-::::. пендикулярной электронно-оптической оси, а углы между секущими полуплоскостями, ограниченными линиями, :совпадакщими с электронно-оптической .осью, обратно пропорциональна величинам чувствительностей фотоприемниковв .

ГОСУДАРСТВЕННЫЙ КОМИТЕТ СССР

flO ДЕЛАМ ИЗОБРЕТЕНИЙ И ОТНРЫТЮ

SU.„À

1064347

Изобретение относится к растровой электронной микроскопии и предназначено для разделения светового потока катодолюминесцентного излучения на.произвольное число частей с целью проведения последукщего коло.— риметрического и спектрального анализа.

Известен к оллек тор для растрового электронного микроскопа (РЭМ), содержащий собиракщее зеркало и фотоприемник. В данном коллекторе для разделения светового потока использован несимметричный световод, вхсдной: торец которого расположен в одном из фокусов зеркала (.13.

Недостатками укаэанного устройства являются неопределенность соотношения световых потоков на выходе коллектора и нерациональное использование фотоприемников с различными спектральными чуствительнос тями .

Наиболее близким к предлагаемому по технической сущности является коллектор светового излучения для РЭИ, ссдержащий собиракщее зеркало, в одном из фокусов которого расположен объектодержатель, а в другсик— входной торец фотоприемника. Фото- ° приемник снабжен световодом, который разветвляется на три части и обеспечивает разделение светового потока (27.

Недостатком данного коллектора является то, что, поскольку на выхоlac коллектора излучение имеет слож" ное пространственно-угловое распределение, практически невозможно определить долю светового потока, достигакщую каждого фотоумножителя (ФЭУ) после прохождения световода.

Это не позволяет добиться максимальной точности колориметрического анализа объектов и высокой чувствительности.

Цель изобретения — повышение точности анализа и чувствительности коллектора.

Укаэанная цель достигается тем, что в коллекторе светового излучения для РЭМ, содержащем собиракщее зеркало, в одном иэ фокусов которого расположен объектсдержатель, а в другом — входной торец фотоприемника, зеркало образовано усеченньии софокусньми полуэллипсоидами, большие оси которых лежат в сдной плоскости, проходящей через общий фокус и перпендикулярной электронно-оптической оси, а углы между секущими полуплоскостями, ограниченныии линйями, совпадающими с электронно-.оптической осью, обратно пропорциональя-.. ны величиннй чувствительностей фотоприемников .

На фиг. 1 приведен вид зеркала со стороны отражакщих поверхностей; на фиг. 2 — сечение одной иэ секций коллектора и один из фотоприемников.

Электронно-оптическая ось 1 РЭМ пересекает поверхность объекта 2 и является осью отверстия 3 для прохождения электронного луча. Точка падения луча совпадает с общим фокусом 4 полуэллипсоидов 5. Световое

10 излучение 6 взаимодействует с отражакщими эллиптическими поверхностями 7, имекщими вторые фокусы 8, в которых расположены фотоприемники 9 °

Устройство работает следукщим

15 образом.

Тонкий электронный луч попадает на объект 2 через отверстие 3 и вызывает световое катодолюминесцентное излучение. Размер области высвечивания в образце очень мал (десятки микрон), поэтому источник можно счи тать точечным по -отношению к размерам всей системы. Объект расположен таким образом, чтобы точка падения

25 электронного луча на него совпала с общим фокусом 4 полуэллиптических отражакщих поверхностей 7. Поток световрго излучения 6 отражается от поверхностей 7 и собирается во вторых фокусах 8 полуэллипсоидов 5.

Вблизи вторых фокусов 8 расположены фотоприемники 9, торцы которых перпендикулярны направлению светового .луча с максимальной интенсивнсстью

35 на выходе. Это направление Определяется лучом, выходящим из объекта нормально к поверхности. Конструктивно коллектор выполнен в виде секций, которые представляют из себя параллелепипеды с плоскостями в фо т40 ме полуэллипсоидов 5 и усеченные полуплоскостйми р -О, Я -О. к О.углы между этими плоскостями равны о . ц ги . составляют в сумме 360О. Эти полуплоскости ограничены. одной и той же

45 прямой, которая совпадает с -электронно-оптической осью 1. Поскольку угло. вое распределение интенсивности излучения иэ объекта осесимметрично относительно этой оси, на каждую

50 секцию будет попадать световой поток> пропорциональный углу между секущими ее плоскостями. В данном случае представлен коллектор, содержащий секции и делящий световой поток на

55 три части в пропорции, определяемой значениями углов о(, р и у .

Аналогичньм образом можно разделять поток на произвольное число частей в заданной пропорции.

60 Применение коллектора для получения цветных катодолюминесцентных изображений в F3M предусматривает следукщий порядок выбора соотношений углов между секущими плоскостями.

65 Пусть имеются три фотоприемника, 106434 7

t Фиар

I ,l

1

I

1

7 ис. снабженных светофильтрами основных цветов с максимумами чувствительности на длинах волн Л,, 3 и Л3 „

Для каждого ФЭУ выбираются рабочие напряжения E„, Е > и Е>, соответствукщие допустимому .темновому току.

Определяются катодные чувствительности Фэу для каждых длин воли JK1t

Эк и Э . Соответственно определяютК2 ся анодные чувствительности 3 е, 3у и 3п> для выбранных напряжений. 10

Тогда искомые углы должны быть обратЯ но пропорциональны суммарньм чувст-, Вительностям ФЭУ 0, p3: - к1 А,„.! ": (к age (к3. Раз)Так, например, в предлагаемом кол- 15 лекторе удобно использовать ФЭУ- 68, обладакщие высокой чувствительностью в широкой области спектра, снабжЕнные светофильтрами с максимумами полос пропускания на длинах волн . 20

3<=450 нм, А2 = 550 нм, By 610 нм.

Такие характерйстики;светофильтров соответствуют колориметрическим координатам R,:G, В. При этом надо учесть зависимость относительной катодной чувствительности от длины волны света Эк,, 3q . В случае использования одйнаковых ФЭУ-68 для г трех каналов.;. Уд„"- 3 3 и для отношения углов имеет а4p:g

=0,5:0,7: l. Откудао 80, Р 115

) =165 °

С помсиаью предлагаемого устройства в РЭМ Стереоскан получены цветные катодолюминесцентные иэображения различных образцов в реальных цветах в обычном режиме стробоскопии. которйй отличается. малой интексив ностью сигнала. В качестве объектов используют лквеинофоры, полупровсщники, а также слабосвет щиеся объекты биологического происхождения.

3а счет отсутствия световодов потери снижены до 26 и определяются только отражением на зеркальных поверхностях, ограниченной аппертурой ФЭУ и диаметром отверстия 3. Отнсиаение сигнал/шум было меньше 20 для всех фотоприемников при ускоряки ум напряжении 20 кВ и токе луча 10 А.

ВНИИГИ Заказ 10540/53

Тираж 703 Подписное

Филиал ППП "Патент", I

r. Ужгород, ул. Проектная, 4

Коллектор светового излучения Коллектор светового излучения Коллектор светового излучения 

 

Похожие патенты:

Изобретение относится к области электронного приборостроения, а более конкретно - к конструкции детекторов электронов, и может найти преимущественное использование в электронных микроскопах

Изобретение относится к электронно-оптическому приборостроению

Способ и устройство предназначены для контроля интенсивности электронного луча при проведении исследований образцов. Способ контроля интенсивности электронного луча, образующего плазму при своем распространении, при котором обнаруживают и анализируют электронное излучение или электромагнитное излучение, создаваемое непосредственно или косвенно электронным лучом, при этом для измерительной регистрации электронного или электромагнитного излучения, создаваемого непосредственно или косвенно электронным лучом, предусмотрен детектор, который направляют через стенку прозрачного или просвечивающего упаковочного материала на плазму. Технический результат - дезинфекция внутренней поверхности тары при исследовании биологических образцов. 2 н. и 23 з.п. ф-лы, 2 ил.

Система литографии элементарными пучками заряженных частиц для переноса шаблона на поверхность мишени содержит датчик для определения одной или нескольких характеристик одного или нескольких элементарных пучков заряженных частиц. Датчик содержит элемент (1) преобразователя для приема заряженных частиц (22) и генерации в ответ фотонов. Этот элемент преобразователя содержит поверхность для приема одного или нескольких элементарных пучков заряженных частиц, причем эта поверхность снабжена одной или несколькими ячейками для оценивания одного или нескольких индивидуальных элементарных пучков. Каждая ячейка содержит заданный шаблон (18) блокировки из одной или нескольких структур блокировки заряженных частиц, образующих множество режущих краев в переходах между областями блокировки и областями без блокировки вдоль заданной траектории сканирования элементарных пучков по поверхности элемента преобразователя. Поверхность элемента преобразователя покрыта слоем покрытия (20), по существу проницаемым для упомянутых заряженных частиц и по существу непроницаемым для внешнего света. Электрически проводящий слой (21) расположен между слоем покрытия и структурами блокировки. Технический результат - повышение точности датчика, измеряющего свойства элементарных пучков. 4 н. и 22 з.п. ф-лы, 3 ил.

Предложены устройство и способ определения характеристик пучка частиц, при которых обеспечивают прием пучка частиц в центральной области кожуха с пониженным давлением; воздействуют принятым пучком на ударную пластину для пучка, которая термически изолирована от кожуха; измеряют изменение температуры ударной пластины для пучка за счет воздействия пучка измеряют изменение давления в кожухе за счет приема пучка; и обрабатывают измеренное изменение температуры и измеренное изменение давления, чтобы определить характеристики пучка. Технический результат - улучшение дозиметрии для управления обработкой детали. 3 н. и 21 з.п.ф-лы, 8 ил.
Наверх