Прибор для контроля толщины стенок изделий из немагнитных материалов

 

И. А.;)ег,ии

У 11 Г! !ИР ,;! !, .. .-, —,-..- 1,1 ИС !! ГК-",1 -, l., ", Д 1"; :,:, i:! 033 ÌI II v >01!

1 рт:, . ", ",;),)О.,,) ",С)!СП "!О!ПИ! ";! 31 ) - И: !Р -" - - -1-3 -ПО- "

1!атсриала. Далее трубка 1 с шариком и-) тиодится к сердс -!и:.!ку .) и1!дУктиВПОГО Патчика 4 с пезамкп ГО:! )!Ð3à 1 Гпй); I;c: 310. Г1РП ат О.;1, 11," " . ТЗис Iп Ii) .",Пи и".)дтк)иаио т:.! дат и: и. 3 Ic.!! cTcÿ 3c i!!-!ии, "3010,!1 l "г . 3 0 (>, пЦ.; 0 1, П-), " )П,) « ;, О ", — "..!с;) то.1 li, П С " .Г" r .:! !П) 1, ; Ж;I i), l) С).lо. I TО !КC 11,11 . ; C:. !ИЕН)!: .:13. CЛ1;5. П13 ) ИК.

P-...,;, .так —;ÃCт О!и ::Пт !Ы ; СИЛ 1..11ГП" .: .:,;Cò О. )311!Tl К, ПТ

"- îêà, и),;.01:.и1-;".о срез об)потку . 3ò:)I;;;l.. 0)к:.т оыть из.;!Срсиа посрс;ста .)л! <Пк )! О, 1:160, пс. : 3)jü)lñÃÎ 3.!ск)",):" !Сс:(ОГО «cò001!"ò32. Так !1310!I .и:" . 1:и !Сптс:.",с и )сд тс) .лс;:!3 ппи!i!Ill. l I 3.,)ь:l3 i „". Ома и li0033 соде!)жа1!le! ":l11 )укт:13:100 со.!;)0., ."IÇ;1c!Ièc ! дя)Пика. Ilcпемеииое и)!дукт1!и:)о. йп;)отдай!Сп:!.: 1, коррсктируко:ц;= .—., ре)!е:)нос:!ндукт !в:- ое сопротиилс:-, пс 1,.", т)3-;c!I:0 )ìÿòîð Т1), зы.))пiljl! 33 13 и от: и:;ы!; милл)!ам3

ПC,,") .М" l Р Л ) (1..

П р е,7 м с т ll 3 О О f) (. T с н н н

1 ".:!001), .i! !<0:ITi)Î !н то .!11. f!!û сто п)к из:!О,(i!if из:(смЯГ((итнb(x м 3 (с>От(ЯГ:03.. .0<цс;.) >к 3 н<,:i!! н{ (укT(f Bfl l i!f;! 3 f ;!L3>CA!bi!f - онн()ll T;>!)0:Ii., ко((7,>07! I )l<)Е>3 .)(>(>СЯ .НIТ !ОЕ TC !0,;) Го С!. . <ÒOJ>0:! \, О Т;I И<(и Го .Iбе;: с<:c:iнн 5 .мо)к:(). и ко (т )О,f. ÿ

ГС< (>(!7 ((< Г (": ), "! «;;:Е(! ; (!(3 iC - . Н! i (1)(ОМЯ! :! НТ;! >(TL70 П ) НOOt)3

ВЬ(ПО C:IO 3 Зиге (f!3(>! КЯ.,;,(CКН(;.ЧО ЗОЗЛ(ОжНОС(Ä ЗЗОб07<Н;>(О ПС!)СМЕI. . (С I Г(Г(.

:3!

à,! I

iQ Комитет по делам изоорете((ий и открытий при Совете Министров СССР

Ре а кт() >> Л. . Го;>ннд((< и> гр. (>!! (п(1>оя(! ;о >ни<>.пала !åë гкп!! (>T:.!(.!.

Объем 0,(7 и. л. 3 а к. 575<). (!о !. к >i(... J7 XJ(-((И) г, Тора>к (675. Цена 25 коп.

Гор. Алатырь, типографня >1Ъ2 М;(нпстерст>>>> ку.,ь)уоы Чувашской АССР.

ДГ(Л 0 П>;.) ЕД С-! <Я; (Н >(1 О !:и:.>: I I; C Г С!;! i! f 3 3 3 В Н; и М >С (7 ОТ Д И Я М С < Р 3 Н (i:): (К<> "1 (. C ."; !31(Иl(И-(! i КЯTÎf)3 (. i ..;;>>ЯТ<.Н ПО 3TЯ.IОН:(>i М .7(ТЯ! (ИМ ")ЯД< I! f)0(зо>(н;:.:е ;)(:Bь.е (1 c*jfa!О (зеj! {е;(((Я (TÁc! зи (с7(<ности и;.)ПборЯ. (!)Ср, )ОМЯГНИТНЫЙ СЕРДЕЧНИК << 1)ЯСПО ЯЯГЯЕТСИ OTITOCHTC, (ЬНО 06)(ОТКИ )73тт! ИК;! 4 несимметрично таким обр 33ом. чтобы конец сер.7еч пик(! 0 стор!оны

ИЗМ "ПГ :; 3>Ь(; Г":! f! Оы кеi:, .о/кно М .П::!IC,

Прибор для контроля толщины стенок изделий из немагнитных материалов Прибор для контроля толщины стенок изделий из немагнитных материалов 

 

Похожие патенты:

Изобретение относится к измерительной технике и может найти широкое применение в системах неразрушающего контроля и измерений толщины пленочных покрытий

Изобретение относится к области измерительной техники, в частности к области измерения геометрических размеров плоских изделий, и может быть использовано при измерении толщины плоских изделий из диэлектриков, полупроводников и металлов, в том числе полупроводниковых пластин, пластических пленок, листов и пластин

Изобретение относится к измерительной технике и предназначено для контроля толщины металлических покрытий в процессе их образования, например, на металлических деталях, в частности, при нанесении покрытий из паровой фазы пиролитическим способом

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для определения деформирующей способности технологических остаточных напряжений в поверхностном слое изделий из металлов и сплавов с различными электромагнитными свойствами

Изобретение относится к неразрушающим методам контроля качества и геометрических размеров изделий и может быть использовано для измерения толщины проводящих покрытий
Изобретение относится к электронной технике и электротехнике и может быть использовано, в частности, в качестве датчиков магнитного поля или тензодатчиков

Изобретение относится к контрольно-измерительной технике и может быть использовано для измерения толщины различных покрытий на цилиндрических металлических основах

Изобретение относится к измерительной технике, а более конкретно к методам и техническим средствам для контроля толщины твердых и полутвердых защитных покрытий, изоляционных слоев, жировых отложений, смазочных и лакокрасочных пленок на электропроводящей, в частности, металлической основе
Наверх