Приспособление к профилографу для установки измеряемого изделия

 

ПРИСПОСОБЛЕНИЕ К ПРОФИЛОГРАФУ ДЛЯ УСТАНОВКИ ИЗМЕРЯЕМОГО ИЗДЕЛИЯ, содержащее устанавливаемые на столе профилографа стойку с ощупывающей головкой и основание с закрепленными на нем узлом базирования и приводом перемещения измеряемого изделия , отличающееся тем, что, с целью повыщения точности установки фасонных изделий , узел базирования выполнен в виде телескопической щтанги, звенья которой подпружинены друг относительно друга, один конец щтанги щарнирно закреплен на основании , а в другом выполнен призматический паз, биссекторная плоскость которого совпадает с осью щтанги, двух зажимных губок, установленных в пазу с возможностью перемещения вдоль него и предназначенных для фиксации измеряемого изделия , жестко закрепленной на основании Г-образной телескопической щтанги с вил-кой на конце и двух соосных роликов, установленных на вилке симметрично о носительно ощупывающей головки профилографа в биссекторной плоскости паза. сл 00 00 сл

СОЮЗ СОВЕТСНИХ соцИАлистичесних

РЕСПУБЛИН

3459 G Ol В 528

ГОСУДАРСТВЕННЫЙ КОМИТЕТ СССР

P Т (21) 3624156/25-28 (22) 08.06.83 (46) 15.10.84. Бюл. № 38 (72) В. С. Полехин, А. Е. Дмитриев и С. С. Шустов (53) 531.717 (088.8) (56) 1. «Измерительная техника», 1976, № 12, с. 17 — 18 (прототип). (54) (57) ПРИСПОСОБЛЕНИЕ К ПРОФИЛОГРАФУ ДЛЯ УСТАНОВКИ ИЗМЕРЯЕМОГО ИЗДЕЛИЯ, содержащее устанавливаемые на столе профилографа стойку с ощупывающей головкой и основание с. закрепленными на нем узлом базирования и приводом перемещения измеряемого изделия, отличающееся тем, что, с целью повыSU,„, 1118850 А щения точности установки фасонных изделий, узел базирования выполнен в виде телескопической штанги, звенья которой подпружинены друг относительно друга, один конец штанги шарнирно закреплен на основании, а в другом выполнен призматический паз, биссекторная плоскость которого совпадает с осью штанги, двух зажимных губок, установленных в пазу с возможностью перемещения вдоль него и предназначенных для фиксации измеряемого изделия, жестко закрепленной на основании

Г-образной телескопической штанги с вил- ° кой на конце и двух соосных роликов, установленных на вилке симметрично относительно ощупывающей головки профилографа в биссекторной плоекости паза.! 18850

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для исследования шероховатости и волнистости фасонных изделий с самоустановкой исследуемой поверхности относительно ощупывающей головки профилографа.

Наиболее близким к изобретению по технической сущности и достигаемому эффекту является приспособление к профилографу для установки измеряемого изделия, содержащее устанавливаемые на столе профилографа стойку с ощупывающей головкой и основание с закрепленными на нем узлом базирования и приводом перемещения измеряемого изделия !1l

Однако в известном приспособлении узел базирования выполнен в виде установленных на основании двух бабок, одна из которых имеет шпиндель для установки измеряемого изделия в центрах, кулачковом патроне или на планшайбе, что не обеспечивает высокой точности установки фасонных изделий с переменным радиусом кривизны относительно ошупываюшей головки.

Цель изобретения — повышение точности установки фасонных изделий.

Указанная цель достигается тем, что в приспособлении к профилографу для установки измеряемого изделия, содержащем устанавливаемое на столе профилографа стойку с ощупывающей головкой и основание с закрепленными на нем узлом базирования и приводом перемещения измеряемого изделия, узел базирования выполнен в виде телескопической штанги, звенья которой подпружинены друг относительно друга, один конец штанги шарнирно закреплен на основании, а в другом выполнен призматический паз, биссекторная плоскость которого совпадает с осью штанги, двух зажимных губок, установленных в пазу с возможностью перемещения вдоль него и предназначенных для фиксации измеряемого изделия, жестко закрепленной на основании

Г-образной телескопической штанги с вилкой на конце и двух соосных роликов, установленных на вилке симметрично относительно ошупываюшей головки профилогра,фа в биссекторной плоскости паза.

На фиг. 1 показана схема приспособления к профилографу для установки измеряемого изделия; на фиг. 2 — то же, вид сбоку; на фиг. 3 — компоновка совместно с профилографом.

Приспособление содержит устанавливаемое на столе 1 профилографа 2, основание 3, стойку 4 с ошупываюшей головкой 5, основание 6 с закрепленными на нем узлом базирования, выполненным в виде телескопической штанги, звенья 7 и 8 которой подпружинены пружиной 9 относительно друг друга, звено 7 закреплено на основании 6 на подшипниковом узле 10, а в звене 8 выполнен призматический паз

11, биссекторная плоскость которого совпадает с осью звеньев 7 и 8, двух зажимных губок 12 и 13, установленных в пазу 11 с возможностью перемещения вдоль него и предназначенных для фиксации измеряемого изделия 14, жестко закрепленной на основании 6 Г-образной телескопической штанги 15 с вилкой 16 на конце, двух ссюсных роликов 17 и 18, установленных на вилке 16 симметрично относительно ощупывающей головки 5 в биссекторной плоскости паза

11, винтов 19 и 20 для фиксации положения вилки 16, штифта 21 для предотврашения взаимного поворота звеньев 7 и 8 и упора

22, ограничивающего поворот звена 7 на подшипниковом узле 10, и приводом 23 перемещения измеряемого изделия 14.

Приспособление работает следуюшим образом.

20 В исходном состоянии на столе 1 устанавливают основание 6. Сжимают пружину 9 и фиксируют измеряемое изделие 14 между губками 12 и 13. Освобождают пружину 9 и регулируют винтами 19 и 20 длину штанги 15, обеспечивая прижатие с заданным усилием роликов 17 и 18 к измеряемой поверхности изделия 14. Фиксируют один конец тросика на звене 8 (или наматывают тросик на измеряемое изделие), а другой — на подвижном элементе мото30 привода профилографа 2. Устанавливают на стол 1 стойку 4 с ощупывающей головкой 5 и приводят иглу ощупывающей головки 5 в контакт с исследуемой поверхностью изделия 14.

При измерении отклоняют звенья 7 и 8, в положение, соответствующее началу трассы ощупывания, фиксируемое упором 22.

Включают профилограф 2, обеспечивая при помощи привода 23 поворот изделия 14 относительно оси вращения подшипникового узла 10. При изменении радиуса кривизны поверхности измеряемого изделия 14 с S до

Я„при повороте звеньев 7 и 8 на уголM эти звенья раздвигаются пружиной 9, обеспечивая прижим поверхности изделия 14 к роликам 17 и 18.

При этом обеспечивается самоустановка измеряемой поверхности относительно ошупываюшей головки 5.

Использование изобретения обеспечивает более высокую точность установки фасонных изделий за счет выполнения базируюшего устройства в виде поворотной самор аздви га ющейся телескопической шта нги с зажимным элементом на конце, фиксирующим измеряемое изделие, и обеспечивающей контактирование измеряемой поверхности с ориентирующими роликами с заданным усилием преднатяга.

1118850

ВНИИПИ Заказ 7416 28 Тираж 586 Подписное

Филиал ППП «Патент», г. Ужгород, ул. Проектная, 4

Приспособление к профилографу для установки измеряемого изделия Приспособление к профилографу для установки измеряемого изделия Приспособление к профилографу для установки измеряемого изделия 

 

Похожие патенты:

Изобретение относится к строительству и эксплуатации автомобильных дорог и предназначено для контроля несущей способности и ровности дорожных конструкций

Изобретение относится к испытательной технике и может быть использовано для оценки несущей способности поверхностных слоев изделий из различных материалов

Изобретение относится к технике контроля, в частности к устройствам контроля формы цилиндрических обечаек

Изобретение относится к измерениям точности формы поверхности, а именно к способам и устройствам для контроля отклонений от плоскостности

Изобретение относится к измерительной технике и предназначено для измерения шероховатости поверхности в заводских условиях эксплуатации

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для оценки микрогеометрии поверхности детали и абразивного инструмента

Изобретение относится к нанотехнологии, в частности к устройствам переноса зондов в высоковакуумных комплексах между различными технологическими модулями с использованием сканирующих зондовых микроскопов (СЗМ)

Изобретение относится к нанотехнологическому оборудованию, а более конкретно к устройствам, обеспечивающим измерение в режиме непрерывного сканирования в условиях низких температур

Изобретение относится к области сканирующей зондовой микроскопии, а более конкретно к устройствам, обеспечивающим наблюдение, измерение и модификацию поверхности объектов
Наверх