Пробоотбирающий электрод для спектрального анализа

 

ПРОБООТБИРАЮЩИЙ ЭЛЕКТ1 ОД ДЛЯ СПЕК1РАЛЬНОГО АНАЛИЗА металлических образцов, выполненный в форме стержня, отличающийся тем, что, с целью повышения эффективности отбора проб от металлических образцов без их разрушения, на рабочей части электрода закреплен пористый электронепро8одя|ций материал , размещенный внутри электронепроводящей опорной оправки, выступающей над ней. и пропитанный электролитом. 2

СОЮЗ СОВЕТСНИХ

ККМКЮ

РЕСПУБЛИК

0% 01) 1

ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ / "

К ARTOPCNOMV CICIAETWIOCTEV

ГОСУДАРСТВЕННЫЙ КОМИТЕТ СССР

flO ДЕЛАМ ИЗОБРЕТЕНИЙ И ОТКРЫТИЙ (21) 3378184/24-25 (22) 05.01.82 (46) 23.10.84. Бвл. з 39 (72) О.Н.Воронкова, Д.Б.Князьков и А.С.Климова (53) 535.8(088.8) (56) 1. Таганов К.И . Спектральный анализ металлов и сплавов с предварительным отбором пробы. "Металлургия", 1968, с. 49-57. 2. Авторское свидетельство СССР

9 519601, кл. С 01 J 3/10. 974. (54) (57) ПРОБООТБИРИМЦИЙ. ЭЛЕКТРОД

ДЛЯ СПЕКТРАЛЬНОГО АНАПИЗА металлических образцов, выполненный в форме стержня, о т л и ч а в шийся тем, что, с целью повивения эффективности отбора проб от металлических образцов без их разрувения, на рабочей части электрода закреплен пористый электронепроводящий материал, размещенный внутри электронепро.водящей опорной оправки, выступакщей над ней. и пропитанный электролитом.

11291

Изобретение относится к спектральному анализу с предварительным отбором пробы, а именно для отбора пробы в малых дозах вещества.

Известны электроды для спектрального анализа с предварительным отбором пробы электрическим разрядом, представляющие собой ыеталлические, графитовые или угольные стержни, на которые происходит отбор пробы, .1О путем разряда конденсатора между электродом и металлическим образцом.

При этом некоторая часть металлического образца под действием электрического разряда переносится йа отбирающий электрод 1 ).

Однако возникающие значительные .механические и термические удары . в местах действия электрического разряда приводят к дефекту образцов. 2р

Кроме того, электроды не обеспечивают возможность. отбора пробы от тонкостенных хрупких .деталей и от металлических пленок на непроводящих подложках. Имеет место также йзменение 2 состава перенесенного вещества по сравнению с анализируемой пробой за счет испарения легколетучих компонентов.

Наиболее близким по технической сущности к предлагаемому является пробоотбирающий электрод для спект-, рального анализа металлических образцов, выполненный в форме стержня f2 ).

Недостатком является малая эффективность отбора пробы и разрушение

35 хрупких образцов при отборе °

Цель изобретения — повышение эффективности отбора пробы от металлических образцов без их разрушения.

Поставленная цель достигается . благодаря тому, что в пробоотбирающем электроде для спектрального

I анализа металлических образцов, выполненном в форме стержня, на рабо45 чей части электрода закреплен пористый электропроводящий материал, размещенный Внутри электронепроводящей опорной оправки, выступающей над ней и пропитанный. электролитом.

На чертеже изображен электрод.

Электрод. включает стержень 1, на торце которого закреплена насадка из пористого материала 2 в форме

i конуса, пропитанная электролитом, .веРшина конуса выступает в отверстие опорной оправки 3.

Сборка электрода производится следующим образом.

77 2

На рабочую часть стержня закрепляется насадка из пористого материала путем касания основания насадки к разогретому до 200 С торцу данного стержня. Закрепленная пористая насадка пропитывается электролитом погружением в него с прижимом и отпуском. Затем на конец стержня .поверх пористой насадки осторожно надевается опорная оправка.

Пробоотбирающий электрод работает следующим образом.

Электрод устанавливается на металлический образец опорной оправкой так, чтобы выступающая часть пористой насадки плотно прилегала к нему. Затем пробоотбирающий электрод подключается в качестве катода в электроцепь с источником постоянного тока, вольтамперметром и амперметром; ано дом является непосредственно металлический образец, который посредством подводящего электрода (щуп) формирует цепь. Контролируется ток и время электролитического отбора пробы.

Для проведения последующего спектрального анализа с пробоотбирающего электрода осторожно снимается опорная оправка и постепенным нагреванием сушится, а затем оплавляется пористый материал. С использованием электродов с эталонным составом прородится спектральный анализ по раз- работанным методикам.

Применение пробоотбирающего электрода дает возможность отбирать пробу от металлических образцов для спектрального анализа без их разрушения. Отбор пробы происходит без разогревания.образца. Проба может быть отобрана в любых малых дозах, достаточных для проведения спектрального анализа: (10 "-10 :г) . Электрод обеспечивает отбор пробы отдельных металлических деталей, связанных в конструкции, без ее нарушения и целостности всего изделия.

Пробоотбирающнй электрод обеспечивает значительную эффективность отбора проб металлических образцов без их разрушения и возможность отбора пробы от образцов, изготовленных как иэ твердых сплавов, так и легкоплавких.

Отбор пробы не зависит от формы и толщины образца. Так, например, отбор пробы от вогнутой части неровной поверхности детали, от тонких

3 1120177 металлических пленок на непроводя- монтажа. Кроме того, пробоотбирающих подложках, от тонкостенных и щий электрод позволяет производить хрупких деталей, от деталей навесного дозированный отбор пробы.

Ъ

1 Составитель Л. Гойхман

Редактор Е.Лушникова Техред Л.Мартяшова Корректор Г.Or ap

Заказ 7729/29 Тираж 822 Подписное

ВНИИПИ Государственного комитета СССР по делам изобретений и открытий

113035, Москва, Ж-35, Раушская наб., д. 4/5

Филиал ППП "Патент",.г.Ужгород, ул.Проектная, 4

Пробоотбирающий электрод для спектрального анализа Пробоотбирающий электрод для спектрального анализа Пробоотбирающий электрод для спектрального анализа 

 

Похожие патенты:

Изобретение относится к эмиссионному спектральному анализу и может быть применено при количественном спектральном анализе химического состава вещества

Изобретение относится к импульсным широкополосным источникам некогерентного оптического излучения высокой пиковой мощности и может быть использовано для проведения научно-исследовательских работ, в микроэлектронике, в медицине и других областях

Изобретение относится к спектральному анализу, в частности к распылителям порошковых проб, направляемых в источник возбуждения спектра и может быть использовано для спектрального анализа проб ограниченной навески, например, при озолении биологических объектов или в минералогии

Изобретение относится к области микроэлектронных и микромеханических устройств и может быть использовано в качестве нагревателя интегрального полупроводникового газового датчика, инфракрасного излучателя адсорбционного оптического газоанализатора, активатора печатающей головки струйного принтера

Изобретение относится к спектральному анализу и может быть использовано для проведения анализа электропроводных материалов без предварительной механической пробоподготовки

Изобретение относится к калибровке светодиодов и их использованию, в частности, в неинвазивных оксигемометрах

Изобретение относится к области спектрального приборостроения

Изобретение относится к измерительной технике

Изобретение относится к устройствам, применяемым в спектрофотометрии в качестве излучателя на область спектра от 202 нм до 3500 нм, позволяющим получить интенсивный спектр излучения после монохроматора спектрофотометра
Наверх