Устройство для измерения характеристик мдп-структур

 

Устройство для измерения характеристик МДП-структур, содержащее генератор тестового сигнала и генератор напряжения смещения, выход которых соединены с первой клеммой для подключения испытуемой структуры, вторая клемма для подключения которой соединена с первым выводом резистора, второй вывод которого соединен с общей шиной, усилитель напряжения, вход которого также соединен со второй клеммой для подключения испытуемой структуры, сумматор, логический элемент "И", блок задержки, блок сравнения, выход которого соединен со стробирующим входом блока измерения напряжения, выход которого соединен с первым входом блока обработки и отображения информации, отличающееся тем, что, с целью повышения точности измерений, оно снабжено формирователем импульсов, генератором тактовых импульсов, двумя ключами, вторым сумматором, причем второй выход генератора напряжения смещения соединен с первым входом формирователя импульсов, второй вход которого соединен с выходом логического элемента И, первый вход которого подключен к первому выходу формирователя импульсов, второй выход которого соединен с первым входом генератора тактовых импульсов, а также с первым входом блока задержки, выход которого подключен ко второму входу генератора тактовых импульсов, выход которого соединен соответственно с первым входом первого сумматора и синхронизирующим входом блока сравнения, первый вход которого подключен к выходу первого сумматора, а второй - к выходу второго сумматора, вход которого подключен к выходу первого ключа, первый вход которого соединен с выходом блока сравнения, который также подключен к первому входу второго ключа и второму входу первого сумматора, выход второго ключа подключен к третьему входу генератора тактовых импульсов, четвертый вход которого подключен к первому выходу блока обработки и отображения информации, второй выход которого подключен ко вторым входам первого и второго ключей, а третий выход блока обработки и отображения информации соединен со вторым входом блока задержки, второй вход блока обработки и отображения информации подключен к выходу логического элемента И, а выход усилителя напряжения подключен к входу блока измерения напряжения, при этом генератор напряжения смещения выполнен в виде генератора трапецеидального сигнала, блок сравнения - в виде цифрового блока сравнения, а блок задержки - в виде цифрового блока задержки.



 

Похожие патенты:

Изобретение относится к области контрольно-измерительной техники и может найти применение в электронной технике для измерения напряжений на диэлектрике и полупроводнике, а также их временного изменения в МДПДМ-структурах

Изобретение относится к технике контроля параметров полупроводников и предназначено для локального контроля параметров глубоких центров (уровней)

Изобретение относится к электронике и при использовании позволяет повысить точность контроля заданной величины отрицательного дифференциального сопротивления за счет изменения соотношения глубины положительных и отрицательных обратных связей в элементе с регулируемыми напряжениями и токами включения и выключения

Изобретение относится к области электротехники и может быть использовано при конструировании и производстве тиристоров

Изобретение относится к радиационной испытательной технике и может быть использовано при проведении испытаний полупроводниковых приборов (ППП) и интегральных схем (ИС) на стойкость к воздействию импульсного ионизирующего излучения (ИИИ)

Изобретение относится к области измерения и контроля электрофизических параметров и может быть использовано для оценки качества технологического процесса при производстве твердотельных микросхем и приборов на основе МДП-структур

Изобретение относится к области измерительной техники, в частности к области измерения электрофизических параметров материалов, и может быть использовано для контроля качества полупроводниковых материалов, в частности полупроводниковых пластин

Изобретение относится к электроизмерительной технике и может быть использовано для контроля полярности выводов светодиодов

Изобретение относится к области теплового неразрушающего контроля силовой электротехники, в частности тиристоров тиристорных преобразователей, и предназначено для своевременного выявления дефектных тиристоров, используемых в тиристорных преобразователях, без вывода изделия в целом в специальный контрольный режим
Наверх