Устройство для измерения линейных размеров

 

УСТРОЙСТВО ДЛЯ ИЗМЕРЕНИЯ ЛИНЕЙНЫХ РАЗМЕРОВ, содержащее источник и приемник излучения, установленные меяоду ними базирующее приспособление и диафрагмиоующий узел, фотоприемник и блок обработки, о тличающееся тем, что, с целью повьшения точности измерения толщины лис.товьк материалов, диафрагмируюпц1й узел выполнен в виде соосно установленных неподвижного диска с квадрантным вырезом,край которого cosna taeT с опорной плоскостью базируюи1его приспособления, и обтюратора с эксцентрично расположенным отверстием. к ИвнА W tnsA 4 Я ел 8 ISD ,4s.. ЬйГ 4, R ст k Фиг.1

СОЮЗ СОЕЕТСНИХ

СОЦИАЛИСТИЧЕСНИХ

РЕСПУБЛИК

ÄÄSU;ÄÄ1145244

4(Я) С 01 В 11 06

ГОсудАРстВенный номитет сссР по делАм изоБРетений и отнРытий

ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИ И

И ABT0PCHOMV СВИДЕТЕЛЬСТВУ

Фи г.1.(21) 3502326/25-28 (22) 18.10.82 (46) 15.03.85. Бюл. У 10 (72) Г.Д. Ершов (?1) Всесоюзный научно-исследовательский институт нерудных строительных материалов и гидромеханизации (53) 531.715.27(088.8) (56) 1. Акцептованная заявка Великобритании Р 1268903, кл.G 01 В 11/02, 1972.

2. Воронцов Л.H. "Фотоэлектрические системы контроля линейных величин", М., Машиностроение", 1965, с. 48-49 (прототип). (54) (57) УСТРОЙСТВО ДЛЯ ИЗМЕРЕНИЯ

ЛИНЕЙНЫХ РАЗМЕРОВ, содержащее источник и приемник излучения, установленные между ними базирующее приспособление и диафрагмипующий узел, фотоприемник и блок обработки, о т" л и ч а ю щ е е с я тем, что, с целью повышения точности измерения толщины листовых материалов, диафрагмирующий узел выполнен в виде соосно установленных неподвижного диска с квадрантным вырезом, край которого совпадает с опорной плоскостью базирующего приспособления, и обтюратора с эксцентрично расположенным ф отверстием.

145244 2

S 1

Изобретение относится к измери" тельной технике и может быть исполь-1 зовано для измерения линейных размеров, в частности для измерения толщины листовых материалов в потоке, например пластинок слюды в слюдоперерабатывающей промьппленности.

Известно устройство для измерения линейных размеров, содержащее осветитель, конденсор, фокусирующую линзу, сканирующий диск, два фотоприемника, блок обработки информации 1 1j, Наиболее близким .к изобретению по технической сущности является устройство для измерения линейных размеров, содержащее источник и приемник излучения, установленные между ними базирующее приспособление и диафрагмирующий узел, фотоприемник и блок обработки 523.

Недостатком известных устройств является низкая точность йзмерения толщины листовых материалов.

Целью изобретения является повышение точности измерения толщины .листовых материалов.

Поставленная цель достигается тем, что в устройстве для измерения линейных размеров, содержащем источник и приемник излучения, установленные между ними базирующее приспособление и диафрагмирующий узел, фотоприемник и блок обработки, диафрагмирующий узел выполнен в виде соосно установленных неподвижного диска с квадрантным вырезом, край которого совпадает с опорной плоскостью базирующего приспособления, и обтюратора с эксцентрично расположенным отверстием.

На фиг. 1 изображена принципиальная схема устройства для измерения линейных размеров; на фиг. 2— разрез А-А на фиг. 1. L.

Устройство содержит источник 1 из лучения, конденсор 2, диафрагмирующий узел, выполненный в виде соосно установленных неподвижного диск

3 с квадрантным вырезом (т.е. в виде сектора, отсекаемого радиусами, образующими угол 90 ) и обтюратора о

4 с эксцентрично расположенным отверстием, базирующее приспособленйе, выполненное в виде транспортирующих роликов 5, расположенных по оси на уровне горизонтального выреза квадранта, и прижимных валков 6, фоку сирующую линзу 7, фотоприемник 8 и блок 9 обработки.

Предлагаемое устройство работает следующим образом..

Источник t излучения с конденсором 2 формируют параллельный световой поток, 3/4 которого поглощается диском 3. За счет равномерного вращения обтюратора 4 "зрачок" фото10 приемника 8 через отверстие обтюратора 4 попеременно освещается и затеняется. На выходе фотоприемника

8 формируются импульсы прямоугольной формы определенной длительности, воспринимаемые блоком 9 обработки, который дополнительных импульсов не вырабатывает. При прохождении лис> тового материала 10, например слюды, даже самой тонкой, между прижимны2р ми валками 6 и вращающимися транспортирующими роликами 5 произойдет перераспределение длительности импульса на выходе фотоприемника 8. Импульс от затененной части длиннее, соответственно на такую же величину импульс от засвеченной части короче, а в силу того, что отверстие обтюратора 4 за один оборот пересекает листовой материал 10 один раз, то эта величина пропорциональна толщине измеряемого листового материала 10 ° Селектор импульсов по длительности, входящий в блок 9 обработки, выделяет разницу между дли35 тельностью «стандар г ь импу сов (импульсов, равных по длителькоСти импульсам, полученным без измеряемого материала) и импульсами,,сформированными при прохождении материала 10 через зону измерения, 40 Блок 9 обработки выдает результат измерения либо на табло, либо на исполнительный механизм (не показаны).

В силу того, что за время прохождения материала 10 обтюратор 4 делает и оборотов, то можно выдавать результат средней толщины измеряемого материала 10 либо минимальной или максимальной ее толщины, либо в комплека се.Применение обтюратора 4 диска 3 с вырезом в виде квадранта и базирующего. приспособления в виде транспортирующих роликов 5 и эластичных прижимных валков 6 позволяет существенно повысить точность измерения толщи-ны листовых материалов, в частности толщины слюдяных пластин в потоке.

Использование предлагаемого устройства позволяет исключить влияние

Составитель Л. Лобзова

Техред С. Йовжий Ксрректор Л. Пилипенко

Редактор А. Гулько

Заказ 1159/31 Тираж 651 Подписное

ВНИИПИ Государственного комитета СССР по делам изобретений и открытий

113035, Москва, Ж-35, Раушская наб., д. 4/5

Филиал ППП "Патент", r. Ужгород, ул. Проектная, 4

)Ipстабильности источника излучения и фотоприемника, который фиксирует не изменение светового потока, а его наличие и отсутствие, т.е. гра-. ницу "тень-свет". Тем самым существенно повьппается точность измерения за счет того, что всякое приращение

145244 4 толщины в устройстве фотоприемником фиксируется однозначно, т.е. при различной степени освещенности (что равно старению. источника излучения и фотоприемника или температурному дрейфу), импульсы Ъ нронорциональные толщине, формируются без щскажения.

Устройство для измерения линейных размеров Устройство для измерения линейных размеров Устройство для измерения линейных размеров 

 

Похожие патенты:

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для бесконтактного измерения толщины и показателя преломления прозрачных слоев

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для бесконтактного автоматического измерения толщины прозрачных материалов, например листового стекла, в непрерывном производственном процессе

Изобретение относится к измерительной технике, а именно к оптическим интерферометрам, и может быть использовано для непрерывного бесконтактного измерения геометрической толщины прозрачных и непрозрачных объектов, например листовых материалов (металлопроката, полимерных пленок), деталей сложной формы из мягких материалов, не допускающих контактных измерений (например, поршневых вкладышей для двигателей внутреннего сгорания), эталонных пластин и подложек в оптической и полупроводниковой промышленности и т.д

Изобретение относится к оптическим способам измерения толщин слоев прозрачных жидкостей и может быть использован для бесконтактного определения толщин слоев прозрачных жидкостей в лакокрасочной, химической и электронной промышленности, а также в физических и химических приборах

Изобретение относится к измерительной технике, а именно к интерференционным способам измерения оптической толщины плоскопараллельных объектов и слоев

Изобретение относится к контрольно-измерительной технике и может быть использовано в черной и цветной металлургии для измерения толщины проката в условиях горячего производства без остановки технологического процесса

Изобретение относится к контрольно-измерительной технике и предназначено для неразрушающего контроля толщины пленок, в частности в устройствах для измерения и контроля толщины пленок фоторезиста, наносимых на вращающуюся полупроводниковую подложку в процессе центрифугирования в операциях фотолитографии

Изобретение относится к контрольно-измерительной технике и предназначено для неразрушающего контроля толщины и измерения разнотолщинности пленок, в частности в устройствах для нанесения фоторезиста в операциях фотолитографии

Изобретение относится к оптическим способам измерения толщины слоя прозрачной жидкости
Наверх