Электромагнитный дефектоскоп для контроля коротких изделий

 

ЭЛЕКТРОМАГНИТНЫЙ ДЕФЕКТОСКОП ДЛЯ КОНТРОЛЯ КОРОТКИХ ИЗДЕЛИЙ, содержащий измерительный преобразо-; ватель,формирователь,к входу которого подключен измерительный преобразователь , И вспомогательных преобразователей ,установленных соосно с . измерительным преобразователем,блок управления, к входам которого подключены вспомогательные преобразователи , и:блок разбраковки, отличающийся тем, что,, с целью повышения надежности контроля, он -снабжен (п -1 измерительными преобразователями , расположенными соосно с первым измерительным преобразователем и подключенньлми к формирователю , соединенными последовательно переключателем, подключенным к выходу формирователя, блоком образцовых сигналов и арифметико-логическим блоком, выход которого подключен к блоку разбраковки, измерительным блоком, первый вход которого.объе динен с вторым входом блока образцовых сигналов и подключен к выходу блока управления, второй вход соединен с вторым выходом переключателя , а выход измерительного блока подключен к второму входу арифмети (Л ко-логического блока, и распределителем , выходы которого подключены с к соответствующим входам блока управления , формирователя, блока образцовых сигналов и измерительного блока.

союз сонетсних

СОиИАЛИСТИЧЕСНИХ

РЕСПУБЛИН

4(51) 4 01 М 27 /90

ГОСУДАРСТВЕННЫЙ НОМИТЕТ СССР по делАм изобРетений и отнРытий (21) 3650806/25-28 (22) 11.10.83

{46) 30.03.85. Бюл, V: 12 (72) A.Ï.Àëåêñååâ (71) Куйбышевский электротехнический институт связи (53) 620.179.14(088.8) (56) 1.Авторское свидетельство СССР .Р 930101, кл. g 01 Ч 27/90, 1982.

2.Авторское свидетельство СССР

М 678401, кл, Ц 01 N 27/90, 1979 (прототип). (54)(57) ЭЛЕКТРОМАГНИТНЫЙ ДЕФЕКТО—

СКОП ДЛЯ КОНТРОЛЯ КОРОТКИХ ИЗДЕЛИЙ, содержащий измерительный преобразо-, ватель, формирователь,к входу которого подключен измерительный преобразователь, М вспомогательных преобразователей,установленных соосно с измерительным преобразователем, блок управления, к входам которого подклю.чены вспомогательные преобразователи, и блок разбраковки, о т .л и ч а ю шийся тем, что, с

„„SU„„- 1147967 А. целью повышения надежности контроля, он снабжен щ -1 измерительными преобразователями, расположенными соосно с первым измерительным преобразователем и подключенными к формирователю, соединенными последовательно переключателем, подключенным к выходу Формирователя, блоком образцовых сигналов и арифметико-логическим блоком, выход которого подключен к блоку разбраковки, измерительным блоком, первый вход которого.объединен с вторым входом блока образцовых сигналов и подключен к выходу блока управления, второй вход соединен с вторым выходом переключателя, а выход измерительного блока подключен к второму входу арифметико-логического блока, и распределителем, выходы которого подключены к соответствующим входам блока управления, формирователя, блока образцовых сигналов и измерительного блока.

1147967

Изобретение относится к методам неразрушающего контроля и может быть использовано для контроля качества малогабаритных изделий в автоматизированных системах., Известен электромагнитный дефектоскоп для контроля коротких изделий, содержащий соединенные последовательно измерительный преобразователь, блок сравнения, блок обработки сигналов и индикаторный .блок и соединенные последовательно второй вихретоковый преобразователь, блок управления и блок образцовых сигналов, подключенный к второму входу блока сравнения (1) .

Недостатком этого дефектоскопа является необходимость перестройки блока образцовых сигналов при перехо" де от контроля изделий одного типоразмера к контролю изделий другого типоразмера.

Наиболее близким техническим решением к предлагаемому является электромагнитный дефектоскоп для контроля коротких изделий, содержащий измерительный преобразователь,формирователь, к входу которого подключен измерительный преобразователь, 1 вспомогательных преобразователей, установленных соосно с измерительным преобразователем, блок управления, к входам которого подключены вспомогательные преобразователи и блок разбраковки (2) .

Недостатками известного дефек- 35 тоскопа также являются необходимость его перестройки для контроля изделий другого типоразмера и зависимость результата контроля от внеш— них условий и электромагнитных 4О свойств изделий.

Цель изобретения — повышение надежности контроля.

Поставленная цель достигается тем, что электромагнитный дефектоакоп для контроля коротких изделий,. содержащий измерительный преобразователь, формирователь, к входу которого подключен измерительный преобразователь, 8 вспомогательных преобразователей, установленных соосНо с измерительным преобразователем, блок управления, к входам которого подключены вспомогательные преобразователи, и блок разбраковки,снабжен а-1 измери ".ельными преобразователями, расположенными соосно с первым измерительным преобразователем и подключенными к формирователю, соединенными последовательно переключателем, подключенным к 60 выходу формирователя, блоком образцовых сигналов и арифметико-логическим блоком, выход которого подключен к блоку разбраковки, измерительным блоком, первый вхоц которого объединен с вторым входом блока образцовых сигналов и подключен к выходу блока управления, второй вход соединен с вторым выходом переключателя, а выход измерительного блока подключен к второму входу арифметико-логического блока, и распределителем, выходы которого подключены к соответствующим входам блока управления, формирователя, блока образцовых сигналов и измерительного блока.

На чертеже изображена блоксхема электромагнитного дефектоскопа для контроля коротких иэделий.

Дефектоскоп содержит а измерительных преобразователей 1-3, соединенные последовательно формирователь 4, к входу которого подключены измерительные преобразователи

1-3, переключатель 5, блок 6 образцовых сигналов, арифметико-логическии блок 7 и блок 8 разбраковки.

Дефектоскоп содержит также rl вспомогательных преобразователей 9-11, блок 12 управления, к входу которого подключены вспомогательные преобразователи 9-11, измерительный блок 13, первый вход которого объединен с вторым входом блока 6 образцовых сигналов и подключен к выходу блока 12 управления, второй вход соединен с вторым выходом переключателя 5, а выход измерительного блока подключен к второму входу арифметика-логического блока 7, и распределитель 14, выходы которого подключены к соответствующим входам блока 12 управления, формирователя 4, блока 6 образцовых сигналов и измерительного блока 13.

На чертеже изображены также трубопровод 15, на котором соосно закреплены измерительные.и вспомогательные преобразователи 1-3, 9-11 и контролируемое изделие 16.

Дефектоскоп работает следующим образом.

Первоначально дефектоскоп переводится в режим Обучение . Для этого переключателем 5 подключают блок 6 образцовых сигналов к выходу формирователя 4. Из заведомо годных иэделий отбирается выборка, и каждое контролируемое изделие 16 последовательно перемещается по трубопроводу

15 под действием собственного веса. При перемещении контролируемого изделия 16 последовательно срабатывают измерительные преобразователи

1-3 и вспомогательные преобразователи 9-11. Сигнал от вспомогательных преобразователей 9-11, характеризу" ющий положение контролируемого иэделия 16, поступает на блок 12 управления.

1147967

Составитель Ю,Глазков

Редактор E.Koï÷à Техред T.Маточка Корректор М.Поко

Заказ 1568/36 Тираж 897 . Подписное

ВНИИПИ Государственного комитета СССР . по делам изобретений и открытий

113035, Москва, Ж-35, Раушская наб.:, д.4/5

Филиал ППП Патент, г.ужгород, ул.Проектная, 4

По командам блока 12 управления сигналы, поступившие с выхода формирователя 4, дискретизируются и суммируются.

В конце цикла Обучение в блоке 6 образцовых сигналов хранится усредненная информация, описывающая годные изделия в К контрольных точках.

Затем переключатель 5 подключает к выходу формирователя 4 измерительный блок 13, и дефектоскоп переходит в режим Распознавание °

В этом режиме сигналы, поступающие от измерительных преобразователей 1-3 для каждого контролируемого изделия 16, сравниваются в арифметико-логическом блоке с запомненными контрольными сигналами. По результатам сравнения арифметикологический блок 7 выделяет команду в блок 8 разбраковки. Синхронизация работы всех блоков осуществляется распределителем 14.

Изобретение позволяет повысить и дежность контроля путем уменьшения ошибок первого и второго рода, величины перекрестных полей, увеличивает . вероятность выявления минимальных дефектов.

Электромагнитный дефектоскоп для контроля коротких изделий Электромагнитный дефектоскоп для контроля коротких изделий Электромагнитный дефектоскоп для контроля коротких изделий 

 

Похожие патенты:

Изобретение относится к контрольно-измерительной технике, к неразрушающим методам контроля параметров магнитного поля и качества изделия

Изобретение относится к неразрушающим методам контроля качества и параметров покрытий электромагнитным методом и может быть использовано для производства и контроля покрытий

Изобретение относится к области неразрушающего контроля качества материалов и изделий методом вихревых токов и может быть использовано для решения задач дефектоскопии электропроводящих изделий

Изобретение относится к неразрушающему контролю и используется при дефектоскопии электропроводящих изделий и поверхности изделий сложной формы

Изобретение относится к неразрушающим методам контроля и предназначено для использования при дефектоскопии электропроводящих изделий с непроводящим немагнитным покрытием переменной толщины для компенсации влияния переменной толщины покрытия

Изобретение относится к области неразрушающего контроля продольно-протяженных изделий, например труб и проката

Изобретение относится к области неразрушающего контроля протяженных металлических изделий, например труб и проката
Наверх