Способ контроля радиального распределения легирующих окислов в заготовках волоконно-оптических световодов
СПОСЮБ КОНТРОЛЯ РАДИАЛЬНОГО РАСПРЕДЕЛЕНИЯ ЛЕГИРУКЯдаХ ОКИСЛОВ В. ЗАГОТОВКАХ ВОЛОКОННО-ОПТИЧЕСКИХ СВЕТОВОДОВ, включающий приготовление поперечного шлифа контролируемой и эталонной заготовок и определение радиального распределения концентрации по поверхности шлифа, отличающийся тем, что, с целью упрощения и сокращения времени контроля, производят одновременное травление 40%-ной плавиковой кислотой шлифа контролируемой и эталонной заготовок до величин максимального углубления 0,08-0,1 мм, записьгеагот профиль поверхности в диаметральном направлении посредством зондирующей иглы и сопоставляют профилограммы. h,fif(fi 30 60 ffO 20 О -1 Фие.1 О -z 3 i-l i-1
СОЮЗ СОВЕТСНИХ
СОЦИАЛИСТИЧЕСНИХ
РЕСПУБЛИН (19) (1 I ) 4(зц G 01 К 33/38
ГОСУцАРСТВЕННМЙ НОМИТЕТ СССР по делАм изоБРетений и отнРытий
Ц
ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ ;, И АВТОРСКОМ У СВИДЕТЕЛЬСТВУ
=.-ýñ. (21) 3631884/23-33 (22) 08.08 ° 83 (46) 15.04.85. Бюл. И 14 (72) М.А. Ероньян, В.В. Жахов;
В.Б. Бережков, С.В. Иванов, Л.Г.Карпов, С.Г. Кузуб, В.С. Хотимченко иБ Г. Юхнов (7Ф) Государственный научно-исследовательский институт кварцевого стекла (53) 543.061:666.192(088.8) (56) 1. Алексеев В.Н. Количественный анализ. N. "Химия", 1972.
2. Масленков С.Б. Применение мик- ро-рентгено-спектрального анализа.
М., "Металлургия", 1968 (прототип). (54)(57) СПОСОБ КОНТРОЛЯ РАДИАЛЬНОГО
РАСПРЕДЕЛЕНИЯ ЛЕГИР М ИХ ОКИСЛОВ В
ЗАГОТОВКАХ ВОЛОКОННО-ОПТИЧЕСКИХ
СВЕТОВОДОВ, включающий приготовление поперечного шлифа контролируемой и эталонной заготовок и определение радиального распределения концентрации по поверхности шлифа, отличающийся тем, что, с целью упрощения и сокращения времени контроля, производят одновре-. менное травление 40Х-ной плавиковой кислотой шлифа контролируемой и эталонной заготовок до величин максимального углубления 0,08-0, 1 мм, записывают профиль поверхности в диаметральном направлении посредством зондирующей иглы и сопоставляют профилограммы.
1 11505
Изобретение относится к стекольной промышленности, в частности к
1 контролю качества заготовок волоконно-оптических световодов с наружной оболочкой из кварцевого стекла.
Известен химический метод анализа легирующих окислов в материалах (fJ „
Однако этот химический метод напригоден для анализа световодов из-за малых размеров загoT0BÎK ° 1О
Наиболее близким к предлагаемому является способ контроля радиального распределения легирующих окислов в заготовках волоконно-оптических световодов, включающий приготовление поперечного шлифа контролируемой и эталонной заготовок и определение. радиального распределения концентрации по поверхности шлифа (2 .
Недостатками известного способа являются применение сложной дорогостоящей техники, обслуживаемой высококвалифицированными. специалистами, :а также большие затраты рабочего времени на контроль одной заготовки, превышающие одну рабочую смену.
Цель изобретения — упрощение и
I сокращение времени контроля.
Цель достигается тем, что согласно способу контроля радиального распределения легирующих окислов в заготовках волоконно-оптических световодов, включающему приготовление поперечного шлифа контролируемой и эталонной заготовок и определение радиального распределе- 35 ния концентрации по поверхности. шлифа, производят одновременное травление 407.-ной плавиковой кислотой шлифа контролируемой и эталонной заготовок до величин максималь- 4о ного углубления 0,08-0,1 мм, записывают профиль поверхности в диаметральном направлении посредством зондирующей иглы и сопоставляют профилограммы. 45
Способ осуществляют следующим образом.
От контролируемой и эталонной заготовок перпендикулярно оси отрезают образцы и готовят вручную поперечные шлифы с чистотой поверхности не хуже р 10. Проводят одновременное травление образцов в 407-ной нлавиковой кислоте при комнатной температуре в течение 20 мин.Трав- 55 леные шлифы устанавливают на подвижный столик специального прибора и с помощью механотронного датчика, снабженного зондирующей иглой,записывают на регистрирующем приборе профиль травленой поверхности в радиальном направлении. Иглу принудительно отводят от поверхности в импульсном режиме. Длительность импуль а 0,08 с, интервал между ними более 2 с, скорость перемещения образца менее 0,01 мм/с. Положением профилограмм контролируемой и эталонной заготовок волоконно-оптических световодов определяют ее годность на соответствие заданному профилю распределения концентрации легирующего окисла. Время контроля одной заготовки не .более 2 ч.
Способ основан на концентрационной зависимости скорости травления легированного кварцевого стекла.
Максимальная глубина стравленного слоя относительно поверхности конструктивной оболочки ограничена с одной стороны (0,08 мм) разрешающей способностью измерения профиля, а с другой стороны ((O,f мм) ее увеличение приводит к смещению радиальной координаты профилограммы вследствие бокового травления стенок углублений. Колебание зондирующей иглы в импульсном режиме предусмотрено с целью предотвращения ее застревания на неровностях травлений поверхности шлейфа, причем длительность импульсов и интервал между ними соответственно меньше и больше времени срабатывания регистрирующего прибора.
На фиг. 1 представлена профилограмма контролируемой заготовки, легированной бором и германием; на фиг. 2 — профилограмма контролируемой заготовки, легированной фосфором.
Приборы, используемые для предлагаемого способа контроля гораздо проще, чем в известном способе.Их стоимость не превышает 2 тыс. руб., что более чем в 10 раз дешевле аппаратуры рентгеновского микрозондового анализа. Длительность контроля одной заготовки не превышает 2 ч, в то время, как согласно известному способу необходимо не менее 15-20 ч.
1150537
A,íêê
-Я -1
Составитель И. Слинько
Редактор С. Лисина Техред Л.Иикеш Корректор В. Бутяга
Заказ 2134/33 Тирай 897 Подписное
В ИИПИ Государственного комитета СССР по делам изобретений и открытий
113035, Москва, Ж-35, Раушская наб., д. 4/5
Филиал ППП "Патент", r. Ужгород, ул. Проектная, 4