Измеритель толщины полимерных пленок

 

ИЗМЕРИТЕЛЬ ТОЛЩИНЫ ПОЛИМЕРНЫХ ПЛЕНОКj со;|: ержа1ций измерительный и образцовый накладные емкостные первичные преобразователи состоящие каждый из высокопотенциального и низкопотенциального электродов,закрепленных на одной диэлектрической подлояосе, генератор низкой частоты, два коммутатора j информаг онные входы которых подключены к высокопотенциальным электродам, а управлякяцие входы - к генератору низкой частоты, блок преобразования емкости в напряжение, вход которого подключен к выходам коммутаторов, управляемый , избирательный усилитель низкой частоты, . информационный вход которого подключен к выходу блока преобразования емкости в напря-жение , синхронный детектор, информационный вход которого подключен к . выходу управляемого избирательного усилителя низкой частоты,а управлякяций вход -к генератору низ кой частоты, и регистратор , подключенньЕЙ к выходу синхрон ного детектора, отличающийс я тем, что, с целью повьшения точности измерения, он снабжен датчиком , температзфы, закрепленным в диэлект (П рической подложке на одинаковом с расстоянии от электродов измерительного и компенсационного накладных емгкостных первичных преобразователей, ;и,согласукщим блоком, вход которого i подключен к датчику температуры, а выход - к управляющему входу управСд |лябмого избирательного усилителя сх :низкой частоты. ч|

СОЮЗ СОВЕТСКИХ

СОЦИАЛИСТИЧЕСНИХ

РЕСПУБЛИК

57 А (19) (11) 4(sl) G 01 В 7/06

Й(,ЕЩК1 ) Р g

13, ::. ц

ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ

Н АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ

ВВ!6% ;) :.д

«® МЙВВВГеавмамм !

ГОСУДАРСТВЕННЫЙ НОМИТЕТ СССР

ПО ДЕЛАМ ИЗОБРЕТЕНИЙ И OTHPbf043 (21) 3501605/) 8-28 (22) 18. 10.82 (46) 30.05.85.Вюл. 1(20 (72) Н.И.Свиридов .(71) Киевский технологический институт легкой промышленности (53) 621.317.39.:531.717 (088.8) (56) 1. Авторское свидетельство СССР

Р 398814, кл (О!. В 7/06,1873.

2. Авторское свидетельство СССР.

Ф 892201, кл.G Ol В 7/06,1981 (прототип ). (54) (57) ИЗИЕРИТЕЛЬ ТОЛЩИНЫ. ПОЛИМЕРНЫХ ПЛЕНОК, содержащий .измерительный и образцовый накладные емкостные первичные преобразователи, состоя" щне .каждый из высокопотенциального и ниэкопотенциального электродов,закреп,ленных на одной диэлектрической .подложке, генератор низкой частоты, два коммутатора, информационные входы которых подключены к высокопотенциальным электродам, а управ» ляющие входы - к генератору низкой частоты, блок преобразования емкости в напряжение, вход которого подклюI чен к выходам коммутаторов, управляе" мый, избирательный усилитель низкой частоты, .информационный

ВХОД КОТОРОГО ПОДКЛЮЧЕН К ВЫХОДУ блока преобразования емкости в напря-. жение, синхронный детектор, информационный вход которого подключен к выходу управляемого избирательного усилителя низкой частоты, а управляющий вход "к генератору низкой частоты,и регистратор,подключенный к выходу синхрон ного детектора, о т л и ч а ю щ и йс я тем, что, е целью повышения точ" ности измерения, он снабжен датчиком температуры, закрепленным в диэлектрической подложке на одинаковом расстоянии от электродов измерительного и компенсационного накладных ем»

;костных первичных преобразователей, :и,согласующим блоком, вход которого подключен к датчиКу температурй, а выход - к управляющему входу управ ляемого избирательного усилителя ,низкой частоты.

1 1158

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для контроля толщины полимерных пленок в процессе их производства.

Известно устройство для измерения толщины диэлектрических пленок, со" держащее два накладных первичных преобразователя, эакрепленньи на одной диэлектрической подложке, и схему обработки измерительного !О сигнала (11.

L.

Недостатками известного устройства являются наличие существенных погрешностей, обусловленных изменением диэлектрических свойств контролируе" !5 мого материала при изменении температуры, а также погрешностей, связанных с влиянием окружающей среды на диэлектрические свойства подложки. 20

Наиболее близким к изобретению. является измеритель толщины полимерных пленок, содержащий измерительный и образцовый накладные емкостные первичные преобразователи, со- 2$ стоящие каждый Иэ высокопотенциального и ниэкопотендиального электродов, закрепленных.на одной диэлект- рической подложке, генератор низкой частоты, два коммутатора, ииформа- 50 ционные входы которых подключены к высокопотенциальным электродам, а управляющие входы - к генератору низкой частоты, блок преобразования емкости в напряжение, вход которого подключен. к выходам коммутато" 1

3$ ров, управляемый избирательный

/. усилитель низкой частоты, информационный вход которого подключен к выходу блока преобразования емкости в напряжение, синхронный детектор, информационный вход которо-, го подключен к вьиоду управляемого избирательного усилителя низкой частоты, а управляющий вход - tc генератору низкой частоты, и регист" ратор, подключенный к вьиоду. синхронного детектора (2 3.

Недостатком данного устройства является наличие погрешностей иэме50 рения, обусловленньи изменением диэлектрических свойств контролируемого метериала при изменении температуры.:

Цель изобретения повышение точности измерения. . 55

-Поставленная цель достигается .. тем, что измеритель толщины полимер- иьи пленок, содержащий измерительный

857 2 и образцовый накладные емкостные первичные преобразователи, состоя-, щие каждый из высокопотенциального и низкопотенциального электродов, закрепленных на одной диэлектрической подложке, генератор низкой частоты, два коммутатора, информационные входы которьи подключены к высокопотенциаль " ным электродам, а управляющие входык генератору низкой частоты, блок преобразОвания емкости в напряжение, вход которого подключен к выходам коммутаторов, управляемый избирательный усилитель низкой частоты, информационный вход которого подключен к вьиоду блока преобразования. емкости в напряжение, синхронный детектор, информационный вход которого подключен к вьиоду управляе." мого избирательного усилителя низкой частоты, а управляющий вход — к генератору низкой частоты, и регистратор, подключенный к выходу синхронного детектора, снабжен датчиком темпе" ратуры, закрепленным в диэлектрической подложке на одинаковом расстоянии от электродов измерительного и койпенсационного накладных емкостных первичных преобразователей, и согласующим блоком, вход которого подключен к датчику температу ры, а выход - к управляющему входу управляемого избирательного усилителя низкой частоты.

На чертеже приведена блок-схема измерителя толщины полимерньи пленок.

Измеритель содержит измерительный и образцовый 2 накладные емкостные первичные преобразователи, состоящие каждый из йизкопотенциальньи 1.1 и 2,1 и высокопотенциальних 1.2 и 2.2 электродов, закрепленных иа диэлектрической подложке 3, коммутаторы 4 и 5, подключенные к высокопотенциальным электродам соответственно, измерительного 1 и образцового 2 преобразователей, блок б преобразования емкости в напряжение, подключенный -к выходам коммутаторов, управляемый избирательный уси™ литель 7 низкой частоты, подключенный к блоку преобразования емкости в напряжение, датчик В температуры, согла сушщий блок 9, включенный между датчиком температуры и управляющим входом усилителя 7, синхронный детектор lo, подключенный к выходу857

-з усилителя 7, генератор.31 низкой частоты, подключенный к управляющим входам коммутаторов 4 и 5 и детекто ра 10,.регистратор 12, подключенный . к выходу синхронного детектора 10, Устройство работает следующим образом.

Измерительный I и образцовый 2 емкостные первичные преобразователи накладываются на контролируемую поли" 10 мерную пленку..Измерительные сигналы преобразователей 1 и 2 поступают через коммутаторы 4 и 5,на входы. блока 6 преобразования емкости в напряжение.

f$

При подключении измерительного преобразователя 1 к блоку 6 высокопотенциальный электрод .2.2 образцового преобразователя 2 подключается к низкопотенциальному электроду 2.1 и, наоборот, при подключе-. нии образцового преобразователя 2 к блоку 6, высокопотенциальный электрод 1.2 измерительного преобразователя l подключается к нйзко1S потенциальному электроду 1.1.Такое переключение электродов позволяет перераспределить электрические поля преобразователей 1 и 2 в диэлектрической подложке 3 так, что их электриЗ ческие поля пронизывают одни и те же слои диэлектрической подложки 3.

При этом все изменения диэлектрических свойств подложки 3 при изменении температуры, давления и т.д. в 3S равной мере влияют на емкость изме1 рительного и образцового преобразователей.

При отсутствии контролируемой пленки емкости преобразователей 1 и 2 одинаковы, вследствие этого при поочередном их подключении к блоку 6 с частотой коммутации в вы» ходном его напряжении отсутствует модуляция. При наложении пленки на преобразователь 1 емкость его возрастает по отношению к емкости. образцового преобразователя 2, а так как напряжение иа выходе блока 6 зависит от емкости подключаемого преобразователя, то выходное напряже" иие блока 6 промодулируется с частотой коммутации. При этом глубина модуляции пропорциональна разности емкостей преобразователей l. и 2.

Для получения непрерывной информации о температуре пленки в диэлектрическую подложку Э на одинаковом

4 расстоянии от низкопотенциальных . электродов 1.1 и 1.2 помещен датчик 8 температуры. Такое расположение датчика 8 температуры неебходимо во избежание нарушения распределения электрических полей в диэлектрической подложке 3. В качестве датчика 8 температуры можно испольэовать термосопротивление, термопару и т.д. Вследствие того, что полимерная пленка плотно прилегает к измерительному преобразователю 1, а диэлектрическая подложка 3 samoaиена из материала с большим коэф фнциентом теплопередачи, температура в каждой точке подложки 3 всегда равна температуре контролируемой пленки.

Сигнал от датчика 8 температуры поступает через согласующий блок 9 на управляющий вход управляемого избирательного усилителя 7 низкой частоты, Согласующий блок 9 обеспе-. чивает преобразование поступающего сигнала от датчика 8 в управляющий сигнал для изменения коэффициента усиления усилителя 7. Функция преобразования сигнала согласующего е блока 9 выбирается такой, что бы более полно обеспечить компенсацию температурного изменения диэлектричес" кой проницаемости материала пленки путем изменения коэффициента передачи усилителя 7 в широком диапазоне температур.

Напряжение с выхода управляемого избирательного усилителя 7 низкой частоты подается на информационный вход синхронного детектора 10, на управляющий вход которого подано опорное напряжение с выхода генерато". ра 11 низкой частоты. На выходе синхронного детектора 10 появляется выпрямленное напряжение, величина которого связана пропорциональной зависимостью с разностью емкостей преобразователей 1 и 2, а так как эта разность определяется емкостью,-вносимой контролируемой пленкой, то напряжение иа выходе синхронного детектора 10 функциональ. но связано с толщиной пленки и не изменяется от температурных изменений диэлектрической проницаемости материала пленки. Напряжение с выхода детектора 10 подается на регист« ратор 12.

115885? (июоЬе Линии ивкщиаески» еж

Составитель В.Николаев

Редактор H.Воловик Техред Т.Дубиицак: Корректор И.Муска

° Ю »

Заказ 3572/41 Тирак 651 Подписное

ВНИИПИ .Государственного комитета СССР по делам изобретений и открытий.

113035,Москва,Ж-35,Раушская наб.,д.4/5 .

° ЮЮИВВ ЙНЮ юане ЮВЮ». Филиал ППП "Патент",r..Óærород, ул.Проектная.4

Изобретение поэволяет повысить точность измерения толщины полимерных пленок вследствие компенсации погрешности иэмерения, обусловленно1 иэменением диэлектрических свойств контролируемого материала при иэменении температуры.

Измеритель толщины полимерных пленок Измеритель толщины полимерных пленок Измеритель толщины полимерных пленок Измеритель толщины полимерных пленок 

 

Похожие патенты:

Изобретение относится к измерительной технике и может найти широкое применение в системах неразрушающего контроля и измерений толщины пленочных покрытий

Изобретение относится к области измерительной техники, в частности к области измерения геометрических размеров плоских изделий, и может быть использовано при измерении толщины плоских изделий из диэлектриков, полупроводников и металлов, в том числе полупроводниковых пластин, пластических пленок, листов и пластин

Изобретение относится к измерительной технике и предназначено для контроля толщины металлических покрытий в процессе их образования, например, на металлических деталях, в частности, при нанесении покрытий из паровой фазы пиролитическим способом

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для определения деформирующей способности технологических остаточных напряжений в поверхностном слое изделий из металлов и сплавов с различными электромагнитными свойствами

Изобретение относится к неразрушающим методам контроля качества и геометрических размеров изделий и может быть использовано для измерения толщины проводящих покрытий
Изобретение относится к электронной технике и электротехнике и может быть использовано, в частности, в качестве датчиков магнитного поля или тензодатчиков

Изобретение относится к контрольно-измерительной технике и может быть использовано для измерения толщины различных покрытий на цилиндрических металлических основах

Изобретение относится к измерительной технике, а более конкретно к методам и техническим средствам для контроля толщины твердых и полутвердых защитных покрытий, изоляционных слоев, жировых отложений, смазочных и лакокрасочных пленок на электропроводящей, в частности, металлической основе
Наверх