Способ получения интерференционной картины

 

СПОСОБ ПОЛУЧЕНИЯ ИНТЕРФЕРЕНЦИОННОЙ КАРТИНЫ, заключающийся в том, что направляют излучение на входное зеркало интерферометра и суммируют последовательности многократно отраженных от зеркал интерферометра лучей, отличающийся тем, что, с целью повышения контрастности и обеспечения возможности изменения контрастности , направляют на входное зеркало интерферометра линейно поляризованное излучение, состояние поляризации излучения при каждом прохождении между зеркалами интерферометра изменяют контролируемым образом, накапливают эти изменения при многократных отражениях лучей от зеркал интерферометра, при суммировании последовательности вы-. ходящих из выходного зеркала интер9 ферометра лучей выделяют компоненты, поляризованные под заданным углом к направлению поляризации излучения, падающего на входное зеркало интерферометра . 1C со ел О)

СОЮЗ СОВЕТСНИХ ц Ю

РЕСОУБЛИН (19) (11) (51)4 С 01 J 4 04

ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ

К ABTOPCKOMY СВИДЕТЕЛЬСТВУ

ГОСУДАРСТВЕННЫЙ НОМИТЕТ СССР

FlO ДЕЛАМ ИЗОБРЕТЕНИЙ И ОТНРЫТИЙ (21) 3631681/24-25 (22) 04.08.83 (46) 07. 11. 86. Бюл. Р 41 (72) Ю.П. Донцов, Ю.А. Завенягин и Л.Н. Князев (53) 535.511(088.8),(56) Таланский С. Спектроскопия выходной разрешающей силы. М.: ИЛ.

1955, с. 253-264.

Скопов И. Многолучевые.интерферометры. М.: Машиностроение, 1966, с. 22-30. (54)(57) СПОСОБ ПОЛУЧЕНИЯ ИНТЕРФЕРЕНЦИОННОЙ КАРТИНЫ, заключающийся в том, что направляют излучение на входное зеркало интерферометра и суммируют последовательности многократно отраженных от зеркал интерферометра лучей, о т л и ч а ю— шийся тем, что, с целью повышения контрастности и обеспечения возможности изменения контрастности, направляют на входное зеркало интерферометра линейно поляризованное излучение, состояние поляризации излучения при каждом прохождении между зеркалами интерферометра изменяют контролируемым образом, накапливают эти изменения при многократных отражениях лучей от зеркал интерферометра, при суммировании последовательности выходящих из выходного зеркала интерферометра лучей выделяют компоненты, поляризованные под заданным углом к направлению поляризации излучения, падающего на входное зеркало интерферометра.

11723 разом.

ВНИИПИ Заказ 6053/1 Ти аж 7 8

Подписное

Изобретение относится к области оптики и может быть использовано при разработке спектральных приборов высокой разрешающей силы.

Целью изобретения является повышение контрастности и обеспечение возможности изменения контрастности.

На чертеже приведено устройство, с помощью которого может быть реализован данный способ. !О

Устройство содержит входное плоское зеркало 1 и параллельное ему выходное плоское зеркало 2, помещенный между ними оптический элемент 3, входной 4 и выходной 5 поляризаторы, 15 скрещенные друг с другом. В качестве оптического элемента 3 может быть использована, например, плоскопараллельная аниэотропная пластинка, при прохождении через которую линейно-по- 20 ляризованное излучение превращается в эллиптически-поляризованное. Анизотропная пластинка устанавливается под небольшим углом к зеркалам 1 и

2 для устранения паразитных отражений.

Способ осуществляется следующим 06

Исследуемое излучение направляется З0 на устройство приблизительно перпендикулярно его зеркалам 1 и ?. Входным поляризатором 4 произвольно выделяют одно из направлений поляризации падающего на него излучения. С помощью

35 анизотропной пластинки (оптического элемента 3) изменяют состояние поляризации прохОдящего через нее излучения. Эти изменения поляризации излу— чения, отражающегося от зеркал 1 и 2 40 и многократно проходящего через. анизотропную пластинку, накапливаются. Поэтому выхбдящие из зеркала 2 лучи будут иметь различную поляризацию в зависимости от того, сколько раз они прошли через анизотропную пластинку.

Из этой последовательности вышедших лучей с помощью выходного поляризатора 5 выделяют компоненты, попяриэованные под заданным углом к направлению поляризации падающего на входное зеркало 1 излучения. Для контролируемого изменения контрастности изменяют контролируемым образом азимут

Произв.-полигр. пр — тие, г.

56 j главных осей анизотропной пластинки, а также сдвиг фаз между ортогонально поляризованными. комгонентами вдоль главных осей пластины. При этом возможно также изменение азимута выходного поляризатора.

Предлагаемый способ можно осущестнить также в другом устройстве. Это устройство отличается от описанного лишь тем, что в качестве оптического элемента 3, способного иэменять состояние поляризации излучения, вместо анизотропной пластинки используется магнитооптический элемент (при прохожцении через него линейно-поляризованного света осуществляется вращениЕ плоскости поляризации). Магнитооптический элемент представляет собой ограниченную плоскими поверхностями прозрачную среду, помещенную в однородное магнитное поле. Направление вектора напряженности магнитного поля должно быть приблизительно перпендикулярно как поверхности зер— кал, так и поверхности магнитооптического элемента. Расчет показывает, что в таком устройстве также может быть достигнута очень большая (теоретически бесконечная) величина контрастности К.

Предложенный способ может быть, успешно использован при создании интерферометров высокого разрешения и контраста, особенно в тех случаях, когда эти приборы предполагается применять для регистрации слабых спектральных линий, находящихся поблизости очень сильной линии. Такие приборы, являясь в сущности одноступенчатыми, вызывают меньшие потери света из-эа поглощения в зеркалах по сравнению с многоступенчатыми приборами, состоящими из двух или нескольких последовательно расположенных интерферомет ров Фабри-Перо. Это особенно существенно в ультрафиолетовой области спектра. Предложенный способ может быть также использован в уже выпускающихся промышленностью обычных интерферометрах Фабри-Перо для повышения контрастности при условии дополни" тельного их комплектования поляризаторами и анизотропной пластинкой типа компенсатора Берека или Солейля.

Ужгород, ул. Проектная, 4

Способ получения интерференционной картины Способ получения интерференционной картины 

 

Похожие патенты:

Изобретение относится к автоматическим оптоэлектронным приборам, предназначенным для настройки быстродействующих поляриметрических устройств, измеряющих параметры Стокса

Изобретение относится к горной автоматике и к полярископам и поляриметрам и может быть использовано для определения коэффициента линейной поляризации света при отражении от аморфных полупроводниковых покрытий для создания на этой основе светильников, которые могут быть использованы для наблюдения объектов в условиях пыли и тумана и для исследования и наблюдения деформируемости горных пород в массивах

Изобретение относится к оптическому приборостроению и может быть использовано для исследования оптической активности жидких и твердых сред

Изобретение относится к области исследования химических и физических свойств поверхности и может быть использовано для измерения физических постоянных и параметров материалов

Изобретение относится к фотоэлектрическим поляриметрам и может быть использовано для измерения концентраций оптически активных веществ в медицине, химии, биологии, пищевой промышленности

Изобретение относится к измерительной технике

Изобретение относится к оптикоэлектронному приборостроению и предназначено для измерения и исследования тонкопленочных структур и оптических констант поверхностей различных материалов путем анализа поляризации отраженного образцом светового пучка

Изобретение относится к методам измерения параметров электромагнитного излучения

Изобретение относится к оптическому приборостроению, конкретно к поляриметрическим устройствам для измерения оптической активности веществ, и может быть использовано для промышленного контроля и научных исследований в аналитической химии, биотехнологии и медицине

Изобретение относится к области технической физики и касается способов измерения азимута плоскости поляризации оптического излучения, вызываемых изменением поляризационных свойств поляризующих элементов либо воздействием на азимут поляризации оптически активным веществом
Наверх