Способ определения распределения радионуклидов по глубине при поверхностной активации изделий

 

СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ РАСПРЕДЕЛЕНИЯ РАДИОНУКЛИДОВ ПО ГЛУБИНЕ ,ПРИ ПОВЕРХНОСТНОЙ АКТИВАЦИИ ИЗДЕЛИЙ, включающий в себя облучение эталонного образца изделия пучком ускоренных заряженных частиц под углом Q к поверхности и определение распределения наведенных радионуклидов по глубине X методом послойного анализа , отличающийся тем, что, с целью повьппения точности, дополнительно облучают по крайней мере еще одно изделие, расположенное под заданным углом if относительно первого изделия, измеряют интент сивность рентгеновского N,, гамма-излучения N, N для обоих изделий в одинаковых для каждого вида излучения условиях, рассчитывают „ NX, , NX, отношение к -- / -- , вычисляют углы S, и Sj, между направлением падающего излучения и поверхностями изделий по величине отношения R и углу if между поверхностями издеяий из системы уравнений (б,,ег) (О ,+ в. где 9 (). градуировочная зависимость , и определяют распределение радионуклидов по глубиW не для обоих изделий f, (х) и ff (х) соответственно из следующих соотношений; ,(х)(х)81пв,, (2) f(x)-fo(x)sinej. где fд(х) - распределение радионукли9д да по глубине для эталона , облученного перпен 1 дикулярно поверхности.

СОЮЗ СОВЕТСКИХ

СОЦИАЛИСТИЧЕСКИХ

РЕСПУБЛИК (59 4 С 21 Н 5 02

ГОСУДАРСТ8ЕННЫЙ КОМИТЕТ СССР

ПО ДЕЛАМ ИЗОБРЕТЕНИЙ И OTHPblT

\ ф! Ф . ° ф

ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ

К АВТОРСКОМ,Ф СВИДЕТЕЛЬСТВУ (21) 3679337/24-25 (22) 23.12.83 (46) 07.09,86. Бюл. У 33 (72) И.О.Константинов и А.И.Леонов (53) 621.039.85(088.8) (56) Авторское свидетельство СССР

11 148501, кл. С 01 N 3/56, 1965.

Метод поверхностной активации в промышпенности. / .Под ред. В.И.Постникова, М.: Атомиздат, 1975, с. 39.

f, (x) f (x)sin Е,, f (х) й, (х) sin В, где Е (х) — распределение радионуклида по глубине для эталона, облученного перпендикулярно поверхности. (54)(57.) СПОСОБ OITPEДЕЛЕНИЯ РАСПРЕДЕЛЕНИЯ РАДИОНУКЛИДОВ ПО ГЛУБИНЕ

ПРИ ПОВЕРХНОСТНОЙ АКТИВАЦИИ ИЗДЕЛИЙ, включающий в себя облучение эталонного образца изделия пучком ускоренных заряженных частиц под углом 9, к поверхности и определение распределения наведенных радионуклидов по глубине х методом послойного анали- . за, отличающийся тем, что, с целью повышения точности, дополнительно облучают по крайней мере еще одно изделие, расположенное под заданным углом (p относительно первого изделия, измеряют интен-. сивность рентгеновского Nrs Nxzи ! гамма-излучения Ng, Я для обоих

У2 изделий в одинаковых для каждого вида излучения условиях, рассчитывают

Нм Ng отношение R= /, вычисляют

Нр; Ну углы Е, и Е между направлением падающего излучения и поверхностями изделий по величине отношения R и углу (f между поверхностями издеяий из системы уравнений

1 = (е,, 6,) (1) = е,+е„ где Р (Е,, 1 } — градуировочная з ависимость, и определяют распределение радионуклидов по глубине для обоих изделий

f,(х) и f (х) соответственно из следующих соотношений:

1176754

e(e e) / —

2 Ц„N с RW(9„0 ) <-е,+ е, f<(x) f (х)sinО,, f (x) f (х)з п,.

Редактор С,Титова Техред И.Верес, Корректор Т.Колб, Заказ 4844/1 Тираж 386 Подписное

ВНИИПИ Государственного комитета СССР по делам изобретений и открытий

113035, Москва, Ж-35, Раушская наб., д. 4/5! производственно-полиграфическое предприятие, г. Ужгород, ул, Проектная, 4

Изобретение относится к использованию излучений от радиоактивных источников в качестве следящего индикатора и может быть применено при активации изделий, исследуемых на сопротивление механическому износу и истиранию.

Цель изобретения — повышение точности

Изобретение ..поясняется чертежом, где первое изделие 1, второе изделие 2, эталон 3, пучок заряженных частиц 4.

Способ осуществляется следующим образом.

Изделия 1 и 2 устанавливают под заданным малым углом у между их поверхностями, а биссектрису этого угла располагают вдоль оси ионопровода ускорителя. Между изделиями 1 и 2 под углом 900 к указанной биссектрисе устанавливают эталон в виде стопки фольг. Проводят облучение пучком заряженных частиц 4. Иэ-sa наличия углового разброса пучка заряженных частиц для всех существующих конструкций ускорителей при активации на малйе углы значения углов облучения первого и второго изделий Ю, и с достаточной степенью точности не.известны. Поэтому для их определения после облучения в одинаковых условиях измеряют интенсивность Н, N« рентгеновского и Ng, Ng, гамма-иэлучений для первого и второго изделий соответственно. Определяют величину отношения

5 к — — /

1 х 1 м

Ng, Ng

В общем виде это отношение для заданного материала определяется только величинами углов 6, и 9, Поэтому до осуществления настоящего способа определяют градуировочную функцию но всему диапазону изменения углов для исследуемых материалов.

Точные значения углов 6, и 6 вычисляют из следующей системы уравнен й.

По полученным значениям 8 и 9

25 и измеренному методом послойного анализа наведенной активности радионукли дов по глубине f>(x), где х — глубина, определяют распределение радионуклидов по глубине для первого и

З0 второго изделий по следующим соотношениям: