Способ электромагнитной структуроскопии ферромагнитных объектов

 

СПОСОБ ЭЛЕКТРСМАГНИТНОЙ СТРУКТУРОСКОПИИ ФЕРРОМАГНИТНЫХ ОБЪЕКТОВ , заключающийся в том, что размещают контролируемый и образцовый объекты в идентичные проходшме вихретоковые преобразователи, перемещают контролируемый объект через проходной вихретоковый преобразователь , измеряют амплитуду разности сигналов этих преобразователей и по ее минимальному значению определяют результат контроля, отличающийся тем, что, с целью повышения чувствительности контроля, образцовый и контролируемый объекты перед измерением намагничивают в одинаковом направлении до максимального значения остаточной магнитной индукции. /) с ас 00 Од 00 со йЛ «J JfMW 2« fMW«5 Titpffoemt по PoKttjtny HKf)

СОЮЗ СОВЕТСНИХ

СОЦИАЛИСТИЧЕСНИХ

РЕСПУБЛИН (19) (Ill

SU (504 С 01 N 27/90

ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ к ABTQPGKoMY сВМДеФельстВУ индукции.

Pгг

28

Ж

Ю

1f

12

В

Ф г

Я ЛО И ЮЧ М ЭЭ Ч0 Чг ЧЧ И М N И ХЧ

7Itpdbcms по РокЬлщ (НЮр/. ГОСУДАРСТВЕННЫЙ КОМИТЕТ СССР

ПО ДЕЛАМ ИЗОБРЕТЕНИЙ И ОТНРЫТИЙ (21) 3764825/25-28 (22) 29.06.84 (46) 30.10.85, Бюл, М 40 (72) А.И.Холкин, А.В.Афонин и А.Г.Коробулин (53) 620. 179. 14(088 .8) (56) Авторское свидетельство СССР

И 721739, кл. G 01 N 27/90, 1980.

Авторское свидетельство СССР ,У 892286, кл. С 01 N 27/90, 1982. (54) (57) СПОСОБ ЭЛЕКТРОИАГНИТНОИ

СТРУКТУРОСКОПИИ ФЕРРОМАГНИТНЫХ ОБЪЕКТОВ, заключающийся в том, что размещают контролируемый и образцовый объекты в идентичные проходние вихретоковые преобразователи, перемещают контролируемый объект через проходной вихретоковый преобразователь, измеряют амплитуду разности сигналов этих преобразователей и по ее минимальному значению определяют результат контроля, о т л и ч а юшийся тем, что, с целью повышения чувствительности контроля, образцовый и контролируемый объекты перед измерением намагничивают в одинаковом направлении до максимального значения остаточной магнитной

1188633

Составитель П.Шкатов

Редактор А. Гупько Техред А.Ач Корректор М. Демчик

Заказ 6738/46 Тираж 896 Подпи сн ое

ВНИИИИ Государственного комитета СССР по делам изобретений и открытий

113035, Москва, Ж-35, Раушская наб., д. 4/5

Филиал ППП "Патент", r.Óæãoðoä, ул.Проектная, 4

Изобретение относится к неразру шающему контролю и может быть использовано для структуроскопии протяженньы ферромагнитных объектов.

Цель изобретения — повышение чувствительности контроля.

На чертеже представлены две зависимости регистрируемого параметра P минимальной амплитуды разности,сигналов: при предварительном намагничивании (кривая 1) и беэ него (кривая 2) от величины твердости в единицах НВСЭ..

Способ реализуется следующим образом. 15

Контролируемый и образцовый объекты предварительно намагничивают, например, с помощью соленоида в одинаковом направлении до максимального значения остаточной магнитной индук- 20

1 ции. Затем контролируемый и образцовый объекты размещают в идентичных проходных вихретоковых преобразователях и перемещают контролируемый г объект через соответствующий проходной вихретоковый преобразователь. В процессе перемещения измеряют амплитуду разности сигналов проходных вихретоковых преобразователей, например, с помощью электроиэмерительного прибора, подключенного к выходу этих преобразователей при их дифференциальном включении.

Из измеренных сигналов выбирают минимальное значение и по нему определяют результат контроля, например твердость по Роквеллу контролируемого объекта.

Как следует из чертежа, чувствительность контроля в первом случае существенно больше. Это объясняется воздействием магнитного поля остаточной индукции на магнитное состояние объектов.

В данном случае величина намагничивающего поля задается самим объектом и зависит от свойств его структуры.

Способ электромагнитной структуроскопии ферромагнитных объектов Способ электромагнитной структуроскопии ферромагнитных объектов 

 

Похожие патенты:

Изобретение относится к контрольно-измерительной технике, к неразрушающим методам контроля параметров магнитного поля и качества изделия

Изобретение относится к неразрушающим методам контроля качества и параметров покрытий электромагнитным методом и может быть использовано для производства и контроля покрытий

Изобретение относится к области неразрушающего контроля качества материалов и изделий методом вихревых токов и может быть использовано для решения задач дефектоскопии электропроводящих изделий

Изобретение относится к неразрушающему контролю и используется при дефектоскопии электропроводящих изделий и поверхности изделий сложной формы

Изобретение относится к неразрушающим методам контроля и предназначено для использования при дефектоскопии электропроводящих изделий с непроводящим немагнитным покрытием переменной толщины для компенсации влияния переменной толщины покрытия

Изобретение относится к области неразрушающего контроля продольно-протяженных изделий, например труб и проката

Изобретение относится к области неразрушающего контроля протяженных металлических изделий, например труб и проката
Наверх