Устройство для контроля качества объективов

 

Изобретение позволяет повысить надежность и оперативность контроля . Для этого в плоскости изображения контролируемого объектива установлена призма - куб с эталонным ,отверстием в диагональном отражающем покрытии и система измерения прошедшего через эталонное отверстие и отраженного от диагональной грани призмы - куба, световых потоков „ Микрообъектив 7 создает увелх-гченное изображение пятна рассеяния контролируемого объект11ва 6 на диаго-- нально отражающей грани призмы - куба 8„ Часть энергии проходит в отверстие заданного размера и направляется зеркалами 9-11 через коллективную линзу 13 на фотопрйемное устройство 14. Другая часть отражается от диагональной грани призмы - куба 8 и зеркала 10 и таклсе через коллективную линзу 3 направляется на фотоприемное устройство 14. Качество контролируемых объективов определяется на фотоприемное устройство 14. Качество контролируемых объективов определяется соотношением величин электрических сигналов, пропорциональных прошедшему и отраженному световым потокам . 1 ил /Ji |5-:::i;5

СО1ОЗ СОВЕТСИИХ

СОЦИАЛИСТИЧЕСКИХ

РЕСПУБЛИК

„„ЯУ„„1284986 А а Oi М ii/02

ГОСУД@ СТНЕ1+1Ь1Й НОМИТЕТ СССР

ПО ДЕЛАМ ИЗОБРЕТЕНИЙ И ОТНРЫТИЙ ( Ъ., > 4- 1

ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ (©

@! ф, Я 5

Об

Ц>

«Й у (21) 3780792/24-10 (22) 09.08.84 (46) i5.01.86. Бюл. Р 2 (71) Ленинградский ордена Трудового Красного Знамени институт точной механики и оптики (72) М.М.Русинов, Л.Я.подковырова и А.В.Ильинский (53) 535.818(088.8) (56) Авторское свидетельство СССР

Ф 712721, кл. G Ol М ll/02, 1978. (54) УСТРОЙСТВО ДЛЯ КОНТРОЛЯ КАЧЕСТВА ОБЪЕКТИВОВ (57) Изобретение позволяет повысить надежность и оперативность контроля. Для этого в плоскости изображения контролируемого объектива установлена призма — куб с эталонным .отверстием в диагональном отражающем покрытии и система измерения прошедшего через эталонное отверстие и отраженного от диагональной грани призмы — куба световых потоков:

Микрообъектив 7 создает увеличенное изображение пятна рассеяния койтролируемого объектива 6 на диаго-нально отражающей грани призмы— куба 8. Часть энергии проходит в отверстие заданного размера и на-.правляется зеркалами 9-11 через коллективную линзу 13 на фотоприемное устройство 14. Другая часть отражается от диагональной грани призмы — куба 8 и зеркала 10 и также через коллективную линзу 13 направляется на фотоприемное устройство

14. Качество контролируемьм объек— тивов определяется на фотоприемное устройство 14. Качество контролируемых объективов определяется соотношением величин электрических сигналов, пропорциональных прошедшему и отраженному световым потокам. 1 ил.

1 12049

Изобретение относится к контроль по--измерительной технике, предназначено для оперативного контроля качества объективов путем измерения энергии в пятне рассеяния и

;» может быть использовано на предприятиях оптико-механической промышленности при производственном контроле качества объективов, как в ходе их изготовления, так и при окончательиой аттестации.

Цель изобретения — повышение надежности и оперативности контроля.

На чертеже схематически показано предлагаемое устройство для контроля качества объективов.

Устройство состоит из установленных последовательно источника 1 излучения, конденсора 2, модулятора

3, точечной диафрагмы 4, расположенной в фокальной плоскости коллиматорного объектива 5, контролируемого объектива 6, плоскость изобр,õêåíèÿ которого совмещена с предмет- 25 пой плоскостью микрообъектива 7, призмы -- куба 8, расположенной в плоскости изображения микрообъективз и имеющей на диагональной отражающей грани эллиптическое отвер-, стие, зеркала 9, установленного под углом к оптической оси, и параллельных ему зеркала 10 и перекидного зеркала 11 (положение 1), окуляра 12, коллективной линзы 13, фотоприемного устройства 14, выход которого соединен с входом регистрирующего прибора 15, Устройство работает следующим образом.

Источник 1 света с помощью кондея<- ора 2 освещает точечную ди" афрагму 4, расположенную в фокальной плоскости коллнматорного объек1чша 5. Для достижения хорошей помехозащищеннасти оптико-электрон45 ной схемы от паразитных засветок и высокой чувствительности за кандепсатором 2 установлен модулятор

3 световога потока, Контролируемая система строит иэображение диафрагмы 4 н предметной плоскости микроабъе3<тин@ 7» который создает увеличенное изображение пятна рас»» сеяния кантралируемага объектива

6 на диагонвльнай отражающей грани призмы - куба 8, Увеличение микроабъективе 7 должно быть, таким, чтобы пятна раасеящ я, ааздава-

86 2 емое эталонным объективом или апре деленное расчетными данными "вписывалось" в отверстие на отражающей грани призмы — куба 8. Контролируемые объективы вследствие ошибок изготовления в отличие от расчетных данных дают пятно рассеяния большего размера, в результате чего одна часть энергии проходит н отверстие заданного размера, а другая часть отража- ется от диагональной грани прчзмы — кула 8. Часть потока излучения, прошедшего через отверстие, призмы — куба 8, направляется зеркалами 9 и 11 (положение 1) через коллективную линзу 13 на фотоприемное устройство 14. Величина электрического сигнала U „, праП(>o1λ порционального прошедшему потоку излучения Ф„ „, воспринимаемому чувствительной площадкой фотоприемного устройства 14, регистрируется вольтметром 15, вход которого соединен с выходом фотоприемного ! устройства 14. Предварительно осуществляется грубая настройка системы по второму каналу (каналу отражения) с помощью окуляра 12; а фокусировка может производиться как визуально с помощью окуляра 12, так и по величине максимального электрического сигнала на регистрирующем приборе 15. Остальная часть потока излучения, отраженного от диагональной грани призмы — куба 8 зеркалом

10 (перекидное зеркало Il при этом выключено из хода лучей положение

П), напранляется также через коллективную линзу 13 на фотоприемное устройство )4, Величина электрического сигнала J,, пропорционального отраженному потоку излучения Ф, „ воспринимаемому чувствительной йлощадкой фотоприемного устройства 14, также регистрируется вольтметром

15. Качестно контролируемых обьективов определяется соотношением величин - н зависимости от допусков 1в ои

)) отр на величину патака излучения, проходящего в отверстие заданного размера относительно нсега потока излучения, созданаемого объектином.

Формула изобретения

Устройства для контроля качества объективов» содержащее установленСоставитель Н,Богданов

Редактор С.Лисина Техред T.Òóëèê Корректор И.Муска

Тираж 896 Подписное

ВНИИПИ Государственного комитета СССР по делам изобретений и открытий

113035, Москва, Ж-35, Раушская наб., д. 4/5

Заказ 8518/43

Филиал ППП "Патент", г. Ужгород, ул. Проектная, 4 ную в предметной плоскости контролируемого объектива подсвечиваемую точечную диафрагму и расположенный в пространстве изображений контролируемого объектива анализатор иэображения точечной диафрагмы, о т л и ч а ю щ е е с я тем, что, с целью повышения надежности и оперативности контроля, анализатор

204986 4 изображения точечной диафрагмы содержит установленную в плоскости изображения контролируемого объектива призму — куб с выполненным в диагональном отражающем покрытии эталонным отверстиеми системуизмерения прошедшегочерез эталонное отверстие иотраженного отдиагональной грани призму- кубасветовых потоков .