Способ определения диэлектрической проницаемости пластин

 

СОЮЗ СОВЕТСНИХ

СОЦИАЛИСТИЧЕСНИХ

РЕСПУБЛИК (51)4 С 01 R 27/26

И

Е-= (с с) — с где иГОСУДАРСТВЕННЫЙ НОМИТЕТ СССР

По ДЕЛАМ ИЗОБ ЕТЕНИЙ И ОТНРЫТИЙ (2i) 3638500/24-21 (22) 19.08.83 (46) 15.01.86. Бюл. 11- 2 (72) Р..К.Стародубровский (53) 621.317.335(088.8) (56) Материалы диэлектрические.

Методы определения проницаемости и

Е ) . ГОСТ 22372-77.

Авторское свидетельство СССР

Ф 226717, кл. G 01 R 27/26„

05.10.67. (54)(57) СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ ДИЭЛЕКТРИЧЕСКОЙ ПРОНИЦАЕМОСТИ ПЛАСТИН путем измерения емкости между предварительно металлизированными сверху и снизу поверхностями исследуемого образца, о т л и ч а ю щ и й— с я тем, что, с целью повышения точности, в верхней металлиэированной поверхности делают зазоры, образующие замкнутые линии, охватывающие одна другую, над образцом на фиксированном расстоянии от него размещают электрод, соединяют его с нижней металлиэированной поверхностью, соединяют между собой все области верхней металлизированной

1 поверхности, измеряют электрическую емкость С„ между верхней и нижней металлизированными поверхностями, соединяют области верхней металлизированной поверхности через одну, образуя две группы электродов, соединенных между собой, соединяют вторую группу, содержащую область металлиэированной поверхности, выходящей на край исследуемого образца, с нижней металлизированной поверхностью, измеряют электричес„„Я0„„1205067 д кую емкость С между первой группой областей верхней металлиэированной поверхности и нижней металлизированной поверхностью, отсоединяют вторую

rpynnó областей от нижней металлиэированной поверхности, соединяют с нижней металлиэированной поверхностью первую группу областей, измеряют электрическую емкость Сд между второй группой областей и нижней металлизированной поверхностью и вычисляют величины диэлектрической проницаемости с в поперечном и с, в продольном направлениях к nose ности образца по формулам толщина исследуемого образца,см; величина воздушного зазора между верхней металлизированной поверхностью исследуемого образца и электродом, см; площадь первой группы облас- тей верхней металлизированной поверхности исследуемого образца, см

0,0886: длина всех контуров зазоров в верхней металлиэированной поверхности исследуемого образца, см; величинa pasopa, см.

1705067

Изобретение относится к электроизмерениям и может быть использовано для определения анизотропии диэлектрической проницаемости пластин.

Целью изобретения является повьш ение точности, обусловленное измерением диэлектрической проницаемости в перпендикулярном и параллельном направлениях к поверхности диэлектрических пластин.

На чертеже приведена схема реализации способа определения диэлектрической проницаемости.

На схеме обозначены нижний 1 и верхний 2 электроды, исследуемая пластина 3, замкнутые линии зазоров

4 на верхней металлизированной поверхности исследуемой пластины, области 5 металлизации верхней поверхности исследуемой пластины, металлические штыри 6 — 9, измеритель 10 электрической емкости, перемычки 11 между верхним и нижним электродами.

Исследуемая пластина 4 помещена между электродами 1 и 2, причем нижняя металлизированная поверхность электрически соединена с нижним электродом 1. Замкнутые линии зазоров на верхней металлизированной поверхности исследуемой пластины расположены одна в другой, и каждая область 5 металлизации подключена к соответствующему металлическому штырю 6, 7, 8 или 9, каждый из которых электрически изолирован от верхнего электрода 2.

Определение диэлектрической проницаемости пластин производят следующим образом.

Измерителем 10. электрической емкости измеряют емкость С„ между соединенными между собой металлическими штырями 6 — 9 и электродами 1 и 2.

Металлические штыри 6 и 8 соединяют с первой клеммой измерителя l0 электрической емкости,с второй клеммой при этом соединены металличе ские штыри 7 и 9 и электроды 1 и 2.

По результатам измерений производят вычисление и С по формулам:

С+С Съ (1

2 о 8,1 !!

7i s

„)

Ю E Z (rH(ct4Л)ХГ; Гн(сЬ ) где Ь толщина исследуемой пластины 4, см: величина воздушного зазора между верхней металлизированной поверхностью исследуемой пластины 4 и верхним электродом 2,см: площадь первой группы областей верхней металлизированной поверхности> соединенных со штырями

6 и 8, см

0,0886; длина всех контуров зазоров в верхней металлизированной поверхности исследуемого образца,см: величина зазора см.

S

Чтобы при измерении емкости не искажать структуру электрического поля между верхней поверхностью ис45 следуемого образца и электродом 2, металлические штыри вводят через отверстия в этом электроде нормально к его поверхности. Число замкнутых линий зазоров может быть любым, например больше двух.

Производят измерение электрическои емкости С >.

Металлические штыри 7 и 9 соединяют с первой клеммой измерителя 10, 5 электрической емкости, второй клеммой при этом соединены штыри

6 и 8 и электроды 1 и 2. ПроМ изводят измерение электрической емкости С .

1О

1205067

7 д

Составитель Н. Кринов

Техред С.Мигунова Корректор Г.Решетник

Редактор А. Лежнина

Тираж 747 Подписное

ВНИИПИ Государственного комитета СССР по делам изобретений и открытий

113035, Москва, Ж-35, Раушская наб., д. 4/5

Заказ 8523/47

Филиал ППП "Патент", r. Ужгород, ул. Проектная, 4